WAT與FT比較WAT需要標(biāo)注出測(cè)試未通過(guò)的裸片（die），只需要封裝測(cè)試通過(guò)的die。FT是測(cè)試已經(jīng)封裝好的芯片（chip），不合格品檢出。WAT和FT很多項(xiàng)目是重復(fù)的，F(xiàn)T多一些功能性測(cè)試。WAT需要探針接觸測(cè)試點(diǎn)（pad）。測(cè)試的項(xiàng)目大體有：1.開短路測(cè)試（ContinuityTest）2，深圳高端定制芯片測(cè)試誠(chéng)信推薦.漏電流測(cè)試（StressCurrentTest）3.數(shù)字引腳測(cè)試（輸入電流電壓、輸出電流電壓）4.交流測(cè)試（scantest）功能性測(cè)試。所以如果有什么大問(wèn)題，設(shè)計(jì)階段就解決了（或者比較慘的情況下放棄產(chǎn)品，重新設(shè)計(jì)）。如果生產(chǎn)過(guò)程有大的問(wèn)題，從圓片測(cè)試開始也層層篩選掉了。所以剩下的芯片都是精英中的精英，一眼看過(guò)去都是完美的成品。接著主要由探針測(cè)試來(lái)檢驗(yàn)良率，具體是通過(guò)專業(yè)的探針上電，做DFT掃描鏈測(cè)試。這些掃描鏈?zhǔn)情_始設(shè)計(jì)時(shí)就放好的，深圳高端定制芯片測(cè)試誠(chéng)信推薦，根據(jù)設(shè)計(jì)的配置，測(cè)試機(jī)簡(jiǎn)單的讀取一下電信號(hào)就之后這塊芯片是不是外強(qiáng)中干的次品。其實(shí)好的、成熟的產(chǎn)品，到這一步良品率已經(jīng)很高了（98%左右），深圳高端定制芯片測(cè)試誠(chéng)信推薦，所以更多時(shí)候抽檢一下看看這個(gè)批次沒(méi)出大簍子就行了。OPS提供網(wǎng)際網(wǎng)絡(luò)測(cè)，燒服務(wù)廠商！深圳高端定制芯片測(cè)試誠(chéng)信推薦

測(cè)試相關(guān)的各種名詞：ATE-----------AutomaticTestEquipment,自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備，是一個(gè)高性能計(jì)算機(jī)控制的設(shè)備的J合，可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的測(cè)試。Tester---------測(cè)試機(jī)，是由電子系統(tǒng)組成，這些系統(tǒng)產(chǎn)生信號(hào)，建立適當(dāng)?shù)臏y(cè)試模式，正確地按順序設(shè)置，然后使用它們來(lái)驅(qū)動(dòng)芯片本身，并抓取芯片的輸出反饋，或者進(jìn)行記錄，或者和測(cè)試機(jī)中預(yù)期的反饋進(jìn)行比較，從而判斷好品和壞品。TestProgram---測(cè)試程序，測(cè)試機(jī)通過(guò)執(zhí)行一組稱為測(cè)試程序的指令來(lái)控制測(cè)試硬件。DUT-----------DeviceUnderTest,等待測(cè)試的器件，我們統(tǒng)稱已經(jīng)放在測(cè)試系統(tǒng)中，等待測(cè)試的器件為DUT。深圳什么是芯片測(cè)試哪里好芯片測(cè)試為客戶提供一站式服務(wù)。

    老化測(cè)試的目的：是預(yù)測(cè)產(chǎn)品的使用壽命，為生產(chǎn)商評(píng)估或預(yù)測(cè)試所生產(chǎn)的產(chǎn)品耐用性的好壞;當(dāng)下半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展和芯片復(fù)雜度的逐年提高,芯片測(cè)試已貫穿于整個(gè)設(shè)計(jì)研發(fā)與生產(chǎn)過(guò)程,并越來(lái)越具有挑戰(zhàn)性.老化測(cè)試是芯片在交付客戶使用之前用以剔除早期失效產(chǎn)品的一項(xiàng)重要測(cè)試.為了避免反復(fù)焊接,不同封裝類型的芯片在老化測(cè)試中由特制的老化測(cè)試座固定在老化板上測(cè)試驗(yàn)證.以保證賣給用戶的產(chǎn)品是可靠的或者是問(wèn)題少的;老化測(cè)試分為元器件老化和整機(jī)老化，尤其是新產(chǎn)品。在考核新的元器件和整機(jī)的性能，老化指標(biāo)更高。那么測(cè)試只是老化座眾多功能中的一種,老化座，除了可用做測(cè)試外,還考慮其他參數(shù)。測(cè)試一般是指常溫下,但老化，通常需要考慮高溫，低溫,濕度,鹽度下的測(cè)試和長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試時(shí)的散熱效果。塑膠耐多大溫度不變形或燃燒!老化座可進(jìn)行惡劣環(huán)境測(cè)試的座子。老化座決定某一個(gè)芯片被設(shè)計(jì)后，是否能面世。

芯片OS，F(xiàn)T測(cè)試的原理，OS英文全稱為Open-ShortTest也稱為ContinuityTest或者ContactTest，用以確認(rèn)在器件測(cè)試時(shí)所有的信號(hào)引腳都與測(cè)試系統(tǒng)相應(yīng)的通道在電性能上完成了連接，并且沒(méi)有信號(hào)引腳與其他信號(hào)引腳、電源或地發(fā)生短路。芯片F(xiàn)T測(cè)試（FinalTest簡(jiǎn)稱為FT）是指芯片在封裝完成后以及在芯片成品完成可靠性驗(yàn)證后對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)功能驗(yàn)證、電參數(shù)測(cè)試。主要的測(cè)試依據(jù)是集成電路規(guī)范、芯片規(guī)格書、用戶手冊(cè)。即測(cè)試芯片的邏輯功能。擁有良好的作業(yè)環(huán)境，ISO管理模式，各種先進(jìn)的燒錄測(cè)試設(shè)備。

芯片融合時(shí)代：測(cè)試也要“上天”過(guò)去簡(jiǎn)單的電子技術(shù)就可以滿足的需求，如今可能需要人工智能、機(jī)器學(xué)習(xí)、無(wú)人駕駛、醫(yī)療儀器、基礎(chǔ)設(shè)施擴(kuò)建等多元覆蓋實(shí)現(xiàn)。終端應(yīng)用領(lǐng)域?qū)τ诎雽?dǎo)體技術(shù)的要求亦呈指數(shù)增長(zhǎng)。因此，半導(dǎo)體元器件必須具備極高的可靠性，半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備對(duì)于供應(yīng)鏈的價(jià)值也由此變得更加重要。對(duì)應(yīng)迅速更新迭代的智能世界，先進(jìn)制程升級(jí)要求半導(dǎo)體檢測(cè)技術(shù)快速迭代，因而對(duì)于ATE機(jī)臺(tái)來(lái)說(shuō)，平臺(tái)通用化、模塊化、靈活性高、可升級(jí)是未來(lái)技術(shù)發(fā)展的大趨勢(shì)。系統(tǒng)級(jí)測(cè)試（SLT，systemleveltest）、大數(shù)據(jù)分析、ATPG編程自動(dòng)化等，都是測(cè)試領(lǐng)域應(yīng)對(duì)未來(lái)半導(dǎo)體市場(chǎng)發(fā)展面臨的挑戰(zhàn)，這需要測(cè)試設(shè)備廠商有超前的技術(shù)眼光，隨時(shí)跟進(jìn)市場(chǎng)需求擁有各類芯片燒錄+測(cè)試能力。深圳什么是芯片測(cè)試哪里好

本公司除了芯片燒錄，還提供相應(yīng)的 芯片功能的測(cè)試。深圳高端定制芯片測(cè)試誠(chéng)信推薦

1）隨著集成電路應(yīng)用越趨于廣，需求量越來(lái)越大，對(duì)測(cè)試成本要求越來(lái)越高，因此對(duì)測(cè)試機(jī)的測(cè)試速度要求越來(lái)越高（如源的響應(yīng)速度要求達(dá)到微秒級(jí)）；

2）由于集成電路參數(shù)項(xiàng)目越來(lái)越多，如電壓、電流、時(shí)間、溫度、電阻、電容、頻率、脈寬、占空比等，對(duì)測(cè)試機(jī)功能模塊的需求越來(lái)越多；

3）狀態(tài)、測(cè)試參數(shù)監(jiān)控、生產(chǎn)質(zhì)量數(shù)據(jù)分析等方面，結(jié)合大數(shù)據(jù)的應(yīng)用，對(duì)測(cè)試機(jī)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、采集、分析方面提出了較高的要求。

4）客戶對(duì)集成電路測(cè)試精度要求越來(lái)越高（微伏、微安級(jí)精度），如對(duì)測(cè)試機(jī)鉗位精度要求從1%提升至0.25%、時(shí)間測(cè)量精度提高到微秒級(jí)，對(duì)測(cè)試機(jī)測(cè)試精度要求越趨嚴(yán)格；

5）集成電路產(chǎn)品門類的增加，要求測(cè)試設(shè)備具備通用化軟件開發(fā)平臺(tái)，方便客戶進(jìn)行二次應(yīng)用程序開發(fā)，以適應(yīng)不同產(chǎn)品的測(cè)試需求；測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商對(duì)設(shè)備 深圳高端定制芯片測(cè)試誠(chéng)信推薦

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