我們來(lái)了解一下怎么樣進(jìn)行芯片測(cè)試?這需要專(zhuān)業(yè)的ATE也即automatictestequipment.以finaltest為例,先根據(jù)芯片的類(lèi)型,比如automotive,MixedSignal,memory等不同類(lèi)型,選擇適合的ATE機(jī)臺(tái)，深圳量產(chǎn)芯片測(cè)試設(shè)備廠(chǎng)家，深圳量產(chǎn)芯片測(cè)試設(shè)備廠(chǎng)家.在此基礎(chǔ)上,根據(jù)芯片的測(cè)試需求,(可能有一個(gè)叫testspecification的文檔,或者干脆讓測(cè)試工程師根據(jù)datasheet來(lái)設(shè)計(jì)testspec)，深圳量產(chǎn)芯片測(cè)試設(shè)備廠(chǎng)家,做一個(gè)完整的testplan.在此基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)一個(gè)外圍電路loadboard,一般我們稱(chēng)之為DIBorPIBorHIB,以連接ATE機(jī)臺(tái)的instrument和芯片本身.同時(shí),需要進(jìn)行test程序開(kāi)發(fā),根據(jù)每一個(gè)測(cè)試項(xiàng),進(jìn)行編程,操控instrument連接到芯片的引腳,給予特定的激勵(lì)條件,然后去捕捉芯片引腳的反應(yīng),例如給一個(gè)電信號(hào),可以是特定的電流,電壓,或者是一個(gè)電壓波形,然后捕捉其反應(yīng).根據(jù)結(jié)果,判定這一個(gè)測(cè)試項(xiàng)是pass或者fail.在一系列的測(cè)試項(xiàng)結(jié)束以后,芯片是好還是不好,就有結(jié)果了.好的芯片會(huì)放到特定的地方,不好的根據(jù)fail的測(cè)試類(lèi)型分別放到不同的地方。為您提供完整芯片測(cè)試開(kāi)發(fā)及量產(chǎn)一站式服務(wù)。深圳量產(chǎn)芯片測(cè)試設(shè)備廠(chǎng)家

隨著科技的不斷發(fā)展，可燒錄IC的集成度和普及度愈來(lái)愈高，對(duì)IC燒錄器的生產(chǎn)能力要求也越來(lái)越高。中國(guó)已成為世界電子產(chǎn)品的制造工廠(chǎng)，必然是燒錄器比較大需求地區(qū)，電子廠(chǎng)的IC芯片燒錄是在組裝前將控制程序或數(shù)據(jù)寫(xiě)入IC元器件的重要工序，這一工序通常由電子產(chǎn)品制造商來(lái)實(shí)現(xiàn)。傳統(tǒng)的燒錄工藝是由人工來(lái)操作，效率低，且質(zhì)量難以保證，已經(jīng)很難適應(yīng)電子制造業(yè)的快速發(fā)展要求。自動(dòng)IC燒錄機(jī)的出現(xiàn)為電子制造業(yè)提升效率和質(zhì)量帶來(lái)了全新的選擇，并逐漸代替人工，成為IC芯片燒錄的主流設(shè)備。深圳什么是芯片測(cè)試誠(chéng)信推薦用芯的服務(wù)贏(yíng)得了眾多企業(yè)的信賴(lài)和好評(píng)。

測(cè)試相關(guān)的各種名詞：ATE-----------AutomaticTestEquipment,自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備，是一個(gè)高性能計(jì)算機(jī)控制的設(shè)備的J合，可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的測(cè)試。Tester---------測(cè)試機(jī)，是由電子系統(tǒng)組成，這些系統(tǒng)產(chǎn)生信號(hào)，建立適當(dāng)?shù)臏y(cè)試模式，正確地按順序設(shè)置，然后使用它們來(lái)驅(qū)動(dòng)芯片本身，并抓取芯片的輸出反饋，或者進(jìn)行記錄，或者和測(cè)試機(jī)中預(yù)期的反饋進(jìn)行比較，從而判斷好品和壞品。TestProgram---測(cè)試程序，測(cè)試機(jī)通過(guò)執(zhí)行一組稱(chēng)為測(cè)試程序的指令來(lái)控制測(cè)試硬件。DUT-----------DeviceUnderTest,等待測(cè)試的器件，我們統(tǒng)稱(chēng)已經(jīng)放在測(cè)試系統(tǒng)中，等待測(cè)試的器件為DUT。

芯片OS，F(xiàn)T測(cè)試的原理，OS英文全稱(chēng)為Open-ShortTest也稱(chēng)為ContinuityTest或者ContactTest，用以確認(rèn)在器件測(cè)試時(shí)所有的信號(hào)引腳都與測(cè)試系統(tǒng)相應(yīng)的通道在電性能上完成了連接，并且沒(méi)有信號(hào)引腳與其他信號(hào)引腳、電源或地發(fā)生短路。芯片F(xiàn)T測(cè)試（FinalTest簡(jiǎn)稱(chēng)為FT）是指芯片在封裝完成后以及在芯片成品完成可靠性驗(yàn)證后對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)功能驗(yàn)證、電參數(shù)測(cè)試。主要的測(cè)試依據(jù)是集成電路規(guī)范、芯片規(guī)格書(shū)、用戶(hù)手冊(cè)。即測(cè)試芯片的邏輯功能。值得信賴(lài)的半導(dǎo)體后段服務(wù)廠(chǎng)商。

芯片測(cè)試座的三大作用：芯片測(cè)試座檢查在線(xiàn)的單個(gè)元器件以和各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、故障定位準(zhǔn)確，快捷迅速等特點(diǎn)。簡(jiǎn)單點(diǎn)描述就是一個(gè)連接導(dǎo)通的插座;作用一：來(lái)料檢測(cè)，采購(gòu)回來(lái)的IC在使用前有時(shí)會(huì)進(jìn)行品質(zhì)檢驗(yàn)，找出不良品，從而提高SMT的良品率。IC的品質(zhì)光憑肉眼是看不出來(lái)的，必須通過(guò)加電檢測(cè)，用常用的方法檢測(cè)IC的電流、電壓、電感、電阻、電容也不能完全判斷IC的好壞;通過(guò)IC測(cè)試夾具應(yīng)用功能跑程序，可以判斷IC的好壞。作用二：返修檢測(cè)，有時(shí)生產(chǎn)過(guò)程中主板出了問(wèn)題，倒底是哪里出了問(wèn)題?不好判斷!有了IC測(cè)試治具什么都好說(shuō)，把拆下的IC放到測(cè)試座內(nèi)通過(guò)測(cè)試就能排除是否IC方面的原因。作用三：IC分檢，返修的IC，在拆下的過(guò)程有可能損壞，用IC測(cè)試治具可以將壞的IC分檢出來(lái)，可以節(jié)省很多人力、物力，從而減小各項(xiàng)成本。拿BGA封裝的IC來(lái)說(shuō)，如果IC沒(méi)有分檢，壞的IC貼上經(jīng)過(guò)FCT測(cè)試檢查出來(lái)后，把IC拆下來(lái)，要烘烤、清洗，很麻煩，還有可能損壞相關(guān)器件。用IC測(cè)試夾具檢測(cè)就可以大減少出現(xiàn)上述問(wèn)題的機(jī)率。芯片測(cè)試+燒錄認(rèn)準(zhǔn)優(yōu)普士電子（深圳）有限公司！深圳量產(chǎn)芯片測(cè)試設(shè)備廠(chǎng)家

不論是自動(dòng)化測(cè)試+燒錄，還是工程技術(shù)，生產(chǎn)服務(wù)，永遠(yuǎn)保持較強(qiáng)勢(shì)的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。深圳量產(chǎn)芯片測(cè)試設(shè)備廠(chǎng)家

芯片老化測(cè)試的目的：是預(yù)測(cè)產(chǎn)品的使用壽命，為生產(chǎn)商評(píng)估或預(yù)測(cè)試所生產(chǎn)的產(chǎn)品耐用性的好壞;當(dāng)下半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展和芯片復(fù)雜度的逐年提高,芯片測(cè)試已貫穿于整個(gè)設(shè)計(jì)研發(fā)與生產(chǎn)過(guò)程,并越來(lái)越具有挑戰(zhàn)性.老化測(cè)試是芯片在交付客戶(hù)使用之前用以剔除早期失效產(chǎn)品的一項(xiàng)重要測(cè)試.為了避免反復(fù)焊接,不同封裝類(lèi)型的芯片在老化測(cè)試中由特制的老化測(cè)試座固定在老化板上測(cè)試驗(yàn)證.以保證賣(mài)給用戶(hù)的產(chǎn)品是可靠的或者是問(wèn)題少的;老化測(cè)試分為元器件老化和整機(jī)老化，尤其是新產(chǎn)品。在考核新的元器件和整機(jī)的性能，老化指標(biāo)更高。那么測(cè)試只是老化座眾多功能中的一種,老化座，除了可用做測(cè)試外,還考慮其他參數(shù)。測(cè)試一般是指常溫下,但老化，通常需要考慮高溫，低溫,濕度,鹽度下的測(cè)試和長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試時(shí)的散熱效果。塑膠耐多大溫度不變形或燃燒!老化座可進(jìn)行惡劣環(huán)境測(cè)試的座子。老化座決定某一個(gè)芯片被設(shè)計(jì)后，是否能面世;深圳量產(chǎn)芯片測(cè)試設(shè)備廠(chǎng)家

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