瀏覽選擇控制器的IBIS模型，切換到Bus Definition選項(xiàng)卡，單擊Add按鈕添加一 組新的Buso選中新加的一行Bus使其高亮，將鼠標(biāo)移動(dòng)到Signal Names下方高亮處，單擊 出現(xiàn)的字母E,打開Signal列表。勾選組數(shù)據(jù)和DM信號(hào)，單擊0K按鈕確認(rèn)。

同樣，在Timing Ref下方高亮處，單擊出現(xiàn)的字母E打開TimingRef列表。在這個(gè)列表 窗口左側(cè)，用鼠標(biāo)左鍵點(diǎn)選DQS差分線的正端，用鼠標(biāo)右鍵點(diǎn)選負(fù)端，單擊中間的“>>”按 鈕將選中信號(hào)加入TimingRefs,單擊OK按鈕確認(rèn)。

很多其他工具都忽略選通Strobe信號(hào)和時(shí)鐘Clock信號(hào)之間的時(shí)序分析功能，而SystemSI可以分析包括Strobe和Clock在內(nèi)的完整的各類信號(hào)間的時(shí)序關(guān)系。如果要*分析選通信號(hào)Strobe和時(shí)鐘信號(hào)Clock之間的時(shí)序關(guān)系，則可以設(shè)置與Strobe對(duì)應(yīng)的時(shí)鐘信號(hào)。在Clock 下方的高亮處，單擊出現(xiàn)的字母E打開Clock列表。跟選擇與Strobe -樣的操作即可選定時(shí) 鐘信號(hào)。 是否可以使用多個(gè)軟件工具來執(zhí)行DDR3一致性測試？浙江DDR3測試眼圖測試

走線阻抗/耦合檢查

走線阻抗/耦合檢查流程在PowerSI和SPEED2000中都有，流程也是一樣的。本例通過 Allegro Sigrity SI 啟動(dòng) Trace Impedance/Coupling Check,自動(dòng)調(diào)用 PowerSI 的流程。下面通過實(shí)例來介紹走線阻抗/耦合檢查的方法。

啟動(dòng) Allegro Sigrity SI,打開 DDR_Case_Check.brd。單擊菜單 AnalyzeTrace Impedance/Coupling Check,在彈出的 SPDLINK Xnet Selection 窗口 中單擊 OK 按鈕。整個(gè).brd 文件將被轉(zhuǎn)換成.spd文件，并自動(dòng)在PowerSI軟件界面中打開。 浙江DDR3測試眼圖測試如何選擇適用于DDR3一致性測試的工具？

容量與組織：DDR規(guī)范還涵蓋了內(nèi)存模塊的容量和組織方式。DDR內(nèi)存模塊的容量可以根據(jù)規(guī)范支持不同的大小，如1GB、2GB、4GB等。DDR內(nèi)存模塊通常以多個(gè)內(nèi)存芯片排列組成，其中每個(gè)內(nèi)存芯片被稱為一個(gè)芯粒（die），多個(gè)芯粒可以組成密集的內(nèi)存模塊。電氣特性：DDR規(guī)范還定義了內(nèi)存模塊的電氣特性，包括供電電壓、電流消耗、輸入輸出電平等。這些電氣特性對(duì)于確保DDR內(nèi)存模塊的正常工作和兼容性至關(guān)重要。兼容性：DDR規(guī)范還考慮了兼容性問題，確保DDR內(nèi)存模塊能夠與兼容DDR接口的主板和控制器正常配合。例如，保留向后兼容性，允許支持DDR接口的控制器工作在較低速度的DDR模式下。

DDR3一致性測試是一種用于檢查和驗(yàn)證DDR3內(nèi)存模塊在數(shù)據(jù)操作和傳輸方面一致性的測試方法。通過進(jìn)行一致性測試，可以確保內(nèi)存模塊在工作過程中能夠按照預(yù)期的方式讀取、寫入和傳輸數(shù)據(jù)。

一致性測試通常涵蓋以下方面：

電氣特性測試：對(duì)內(nèi)存模塊的電壓、時(shí)鐘頻率、時(shí)序等電氣特性進(jìn)行測試，以確保其符合規(guī)范要求。

讀寫測試：驗(yàn)證內(nèi)存模塊的讀取和寫入功能是否正常，并確保數(shù)據(jù)的正確性和一致性。

數(shù)據(jù)一致性檢查：通過檢查讀取的數(shù)據(jù)與預(yù)期的數(shù)據(jù)是否一致來驗(yàn)證內(nèi)存模塊的數(shù)據(jù)傳輸準(zhǔn)確性。

時(shí)序一致性測試：確認(rèn)內(nèi)存模塊的時(shí)序設(shè)置是否正確，并檢查內(nèi)存模塊對(duì)不同命令和操作的響應(yīng)是否符合規(guī)范。

并發(fā)訪問測試：測試內(nèi)存模塊在并發(fā)訪問和多任務(wù)環(huán)境下的性能和穩(wěn)定性。

一致性測試有助于檢測潛在的內(nèi)存問題，如數(shù)據(jù)傳輸錯(cuò)誤、時(shí)序不一致、并發(fā)訪問等，以確保內(nèi)存模塊在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中的正常運(yùn)行。這種測試可以提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性、可靠性，并減少不一致性可能帶來的數(shù)據(jù)損壞或系統(tǒng)故障。 DDR3一致性測試是否需要經(jīng)常進(jìn)行？

雙擊PCB模塊打開其Property窗口,切換到LayoutExtraction選項(xiàng)卡，在FileName處瀏覽選擇備好的PCB文件ddr3.spdo在ExtractionEngine下拉框里選擇PowerSL所小。SystemSI提供PowerSI和SPEED2000Generator兩種模型提取引擎。其中使用PowerSI可以提取包含信號(hào)耦合，考慮非理想電源地的S參數(shù)模型；而使用SPEED2000Generator可以提取理想電源地情況下的非耦合信號(hào)的SPICE模型。前者模型提取時(shí)間長，但模型細(xì)節(jié)完整，適合終的*驗(yàn)證；后者模型提取快，SPICE模型*收斂性好，比較適合設(shè)計(jì)前期的快速*迭代。是否可以在運(yùn)行操作系統(tǒng)時(shí)執(zhí)行DDR3一致性測試？浙江HDMI測試DDR3測試

是否可以使用可編程讀寫狀態(tài)寄存器（SPD）來執(zhí)行DDR3一致性測試？浙江DDR3測試眼圖測試

LPDDR2 (低功耗 DDR2) : LPDDR2 釆用 HSUL_12 接口，I/O 口工作電壓為 1.2V；時(shí) 鐘信號(hào)頻率為166533MHz；數(shù)據(jù)和命令地址(CA)信號(hào)速率3331066Mbps,并分別通過 差分選通信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)的雙沿釆樣；控制信號(hào)速率為166533Mbps,通過時(shí)鐘信號(hào)上升沿 采樣；一般用于板載(Memorydown)設(shè)計(jì)，信號(hào)通常為點(diǎn)對(duì)點(diǎn)或樹形拓?fù)�，沒有ODT功能。

LPDDR3 0氐功耗DDR3) : LPDDR3同樣釆用HSUL_12接口，I/O 口工作電壓為1.2V； 時(shí)鐘信號(hào)頻率為6671066MHz；數(shù)據(jù)和命令地址(CA)信號(hào)速率為13332133Mbps,分別 通過差分選通信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)的雙沿釆樣；控制信號(hào)速率為6671066Mbps,通過時(shí)鐘上升 沿釆樣；一般用于板載設(shè)計(jì)，數(shù)據(jù)信號(hào)一般為點(diǎn)對(duì)點(diǎn)拓?fù)�，命令地址和控制信�?hào)一般也釆用 Fly-by走線，有些情況下可以使用樹形走線；數(shù)據(jù)和選通信號(hào)支持ODT功能；也支持使用 Write Leveling功能調(diào)整時(shí)鐘和選通信號(hào)間的延時(shí)偏移。 浙江DDR3測試眼圖測試