掃描電鏡（SEM）可以輕松將樣品放大幾萬倍，使得幾個納米的細微結(jié)構(gòu)都清晰可見，這無疑為研究人員改善提升電池的質(zhì)量提供了強有力的幫助。借助掃描電鏡可以輕松完成樣品層間距的測量以及電極有效接觸區(qū)域上細微結(jié)構(gòu)的觀測。此外，通過在隔膜上施加熱應(yīng)力和機械應(yīng)力，并在顯微級別實時觀察隔膜材料在這些外力下的行為，從而幫助研究人員更好的認識隔膜材料破裂失效的機制，并提出改進方案。

電池主要由三個部分組成：兩種由不同材料制成的電極和夾在它們中間的隔膜。由于兩種電極化學成分不同，它們可以發(fā)生化學反應(yīng)，電能即可從隨后發(fā)生的氧化還原反應(yīng)過程中釋放出來。即，儲存在電極中的化學能被轉(zhuǎn)換成電能，這一過程可以為電子設(shè)備供電。依托SEM掃描電鏡，可以對鋰電材料進行全方面、系統(tǒng)的分析檢測，包括鋰電材料中正負極顆粒的精確粒度分布、清潔程度的自動化統(tǒng)計分析，正負極和隔膜的表面精細形貌觀測，極片加工過程的質(zhì)量。此外，掃描電鏡還可以對電池進行失效分析，并評估失效后電池的回收利用效果。

我們擁有完善的分析技術(shù)，可以提供全方面材料測試服務(wù)。已服務(wù)隔膜、正負極材料等180家企業(yè)，客戶好評率99%。這些成功案例和客戶的好評證明了我們的專業(yè)能力和服務(wù)質(zhì)量。 我們的檢測技術(shù)利用SEM掃描電鏡，可以對電池材料中的納米結(jié)構(gòu)進行表征。專注SEM掃描電鏡+CP硅酸鐵鋰內(nèi)部微裂紋檢測

利用SEM掃描電鏡，可以觀察電池材料的表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)。通過高分辨率的圖像，可以清晰地看到材料表面的粗糙度、顆粒大小、形貌等特征，幫助更好地了解材料的物理性質(zhì)和性能特點。在電池材料研發(fā)過程中，了解電池反應(yīng)機制是至關(guān)重要的。SEM掃描電鏡可以觀察電池在充放電過程中的變化情況，幫助更好地理解電池反應(yīng)機制和性能衰減機制，為優(yōu)化電池設(shè)計和提高其性能提供有力支持。

當電池出現(xiàn)失效時，可以利用SEM掃描電鏡進行失效分析。通過觀察失效電池的表面形貌、元素分布和晶體結(jié)構(gòu)等特征，可以找出失效的原因，為改進材料設(shè)計和生產(chǎn)工藝提供依據(jù)。在電池材料生產(chǎn)過程中，質(zhì)量控制至關(guān)重要。SEM掃描電鏡可以用于生產(chǎn)線上的質(zhì)量控制，通過觀察材料的表面形貌和晶體結(jié)構(gòu)等特征，可以判斷材料是否符合預(yù)設(shè)的質(zhì)量標準，確保產(chǎn)品的穩(wěn)定性和一致性。

作為一家專業(yè)的電池材料檢測機構(gòu)，我們會嚴格遵守相關(guān)法規(guī)和標準，我們采用單獨訂單賬戶的方式來確保客戶的數(shù)據(jù)的安全性，同時我們還提供專屬數(shù)據(jù)交接系統(tǒng)和企業(yè)專屬項目經(jīng)理來確保客戶的數(shù)據(jù)的完整性和準確性。同時，我們還會為客戶提供全方面的技術(shù)支持和咨詢服務(wù)，為客戶提供更滿意的解決方案。 數(shù)據(jù)準SEM掃描電鏡+CP鈷酸鋰晶界界限測試檢測通過SEM掃描電鏡，我們能夠觀察電池材料的晶粒生長和晶體缺陷形成過程。

SEM的形貌分析功能也可以用于電池材料的輔助機理研究、界面反應(yīng)的實時觀測等。如果借助Ｘ射線能譜技術(shù)、背散射電子成像技術(shù)以及與其他設(shè)備的聯(lián)用技術(shù)，掃描電鏡甚至還可以實現(xiàn)微納米尺度下的元素組成分析，跟蹤材料組分在電池合成或循環(huán)過程中的成分變化，以優(yōu)化電池的整體性能。

比如說鋰-硫電池在循環(huán)過程中會生成可溶性的硫化物中間產(chǎn)物(Li2Sn,4≤n≤8)，導(dǎo)致電池容量衰減、穿梭效應(yīng)、庫倫效率降低等問題，Zhang等制備了氮化銦功能性隔膜(InN-隔膜)用于鋰－硫電池，利用SEM觀察充放電過程中硫化物中間產(chǎn)物的轉(zhuǎn)變過程，證實InN-隔膜可以促進硫化物的可逆沉積-降解，為電池材料的改性和功能化提供理論依據(jù)。

我們的實驗室擁有一支經(jīng)驗豐富的工程師團隊，他們精通各種電池材料的檢測技術(shù)，為客戶提供專業(yè)的技術(shù)支持和實驗室解決方案。企業(yè)客戶配有技術(shù)專業(yè)的工程師全程跟蹤并進行方案溝通，團隊主要成員均是來自新能源產(chǎn)品領(lǐng)域從業(yè)多年的資質(zhì)深厚專業(yè)老師,檢測分析經(jīng)驗豐富。我們已服務(wù)隔膜、正負極材料等180家企業(yè)，客戶好評率99%。這些成功案例和客戶的好評證明了我們的專業(yè)能力和服務(wù)質(zhì)量。

氬離子拋光技術(shù),又稱CP截面拋光技術(shù),是利用寬離子束(~1mm)對材料樣品表面或者截面進行轟擊,以獲得平整精密的拋光截面和平面樣品,一個堅固的擋板遮擋住樣品的非目示區(qū)域,有效的遮蔽了下半部分的離子束,創(chuàng)造出一個側(cè)切割平面,去除樣品表面的一層薄膜。同時配合掃描電鏡(SEM)完成對樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)微觀特征的觀察和分析。

為了得到理想的制備材料研究樣品,需要對氬離子拋光儀設(shè)置準確的參數(shù):針對不同的樣品的硬度,設(shè)置不同的電壓、電流、離子***的角度、離子束窗口,控制氬離子作用的深度、強度、角度、得到這樣的拋光樣品不僅表面光滑無損傷,而且還原材料內(nèi)部的真實結(jié)構(gòu)。通過CP制樣,用SEM對具有三明治結(jié)構(gòu)的集流體進行截面厚度、截面形貌的觀察,可以對集流體改性、厚度等方面做出調(diào)控,實現(xiàn)電池的減重以及提升能量密度方面做出指得。

在新能源電池材料測試領(lǐng)域，SEM掃描電鏡技術(shù)的應(yīng)用正在助力行業(yè)不斷向前發(fā)展。我們是一家專業(yè)的電池材料檢測機構(gòu)，具有先進的技術(shù)實力和高質(zhì)量的服務(wù)。我們的儀器多、測試能力強、效率高出結(jié)果快、服務(wù)好客戶滿意度高、自營儀器價格合理、專業(yè)技術(shù)支持助力研發(fā)成功以及長期合作信賴可靠等亮點可以為客戶提供多方位的電池材料測試服務(wù)。 我們的檢測團隊利用SEM掃描電鏡，可以評估電池材料的安全性和可靠性。

利用SEM掃描電鏡檢測電池材料技術(shù)，我們能夠全方面觀察和分析材料的微觀結(jié)構(gòu)。我們能夠觀察到材料的晶粒形貌、界面結(jié)合情況等關(guān)鍵信息，為您提供準確可靠的材料分析結(jié)果。

鋰離子電池的能量密度、循環(huán)壽命和倍率等性能從根本上取決于體相的理化反應(yīng)、結(jié)構(gòu)變化、機械性能，形態(tài)演變以及界面反應(yīng)等。伴隨著鋰電池產(chǎn)品質(zhì)量要求的不斷提升與材料體系的迭代創(chuàng)新，多種表征、檢測、計算模擬技術(shù)已被用于分析和預(yù)測電池性能相關(guān)的各種參數(shù)。

我們使用的蔡司顯微鏡多尺度、多維度的研究平臺，針對鋰離子電池正、負極材料、隔膜及關(guān)鍵輔材，提供了從材料制樣、理化特性表征到智能數(shù)據(jù)分析的全方面解決方案，助力鋰電池材料產(chǎn)業(yè)鏈從研發(fā)到生產(chǎn)全流程，為前驅(qū)體、成品、老化后材料提供從形貌表征、尺寸測量到分布統(tǒng)計的表征，即使是納米級的顆粒、孔隙、缺陷、包覆物結(jié)構(gòu)也能準確無損表征。不導(dǎo)電樣品無需鍍膜，磁性樣品直接觀測。

為了提高自身的專業(yè)度，我們與國內(nèi)外多家機構(gòu)合作，深入交流和合作。我們將為您解決電池材料的痛點和需求，并提供優(yōu)質(zhì)的檢測服務(wù)。我們在全國各地設(shè)立了31個辦事處，20個實驗室，無論您在哪個地區(qū)，我們都致力于為您提供高效準確的解決方案。 我們使用的SEM掃描電鏡具備高度的自動化和精確度，確保檢測結(jié)果的一致性。長春SEM掃描電鏡測試哪家服務(wù)好

SEM掃描電鏡在電池材料檢測方面有著廣泛的應(yīng)用。我們的檢測團隊由資質(zhì)深厚工程師組成，擁有豐富的經(jīng)驗。專注SEM掃描電鏡+CP硅酸鐵鋰內(nèi)部微裂紋檢測

正極材料表面CEI膜膜層分析

客戶需求

CEI膜作為一種特殊的電解質(zhì)膜,用于隔離正負極,保護電池免受外部電場的影響。但是,在電池的循環(huán)過程中,CEI膜可能會發(fā)生變化,如厚度增加或減少、成分不均等,這將直接影響電池的循環(huán)性能和使用壽命。

解決方案

為了解決這個問題,團隊開發(fā)了多種技術(shù),其中一種是使用TOF-SIMS技術(shù),這是基于質(zhì)譜分析的表征技術(shù),具有超真空環(huán)境測試、采集深度低、檢測出限低、測試范圍廣等等優(yōu)點。可以實現(xiàn)對固體樣品的表征,分析CEI膜的成分和厚度,從而發(fā)現(xiàn)CEI膜的不完整和過厚/過薄等問題,關(guān)鍵在這一過程中不需要進行物理分離或化學分離。

檢測結(jié)果

三元正極材料-TOF-SIMS 專注SEM掃描電鏡+CP硅酸鐵鋰內(nèi)部微裂紋檢測