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事實(shí)上,SMT當(dāng)中的AOI和X-RAY這兩者之間的功能是完全不一樣的,大家一定不要將其混為一談,盡管它們的基本原理都是通過光的反射來對元件的貼裝是否正確、位置是否良好以及有無漏貼等現(xiàn)象進(jìn)行檢查。
AOI的原理以及優(yōu)勢
AOI實(shí)際上是較近幾年在市場上才出現(xiàn)的新型檢測設(shè)備,它的全稱為“自動光學(xué)檢測”,它是基于光學(xué)的原理來對焊接生產(chǎn)過程當(dāng)中所遇到的一些常見的缺陷進(jìn)行檢測的一種設(shè)備,比如它在用于SMT貼片當(dāng)中,對檢測元件的焊接之前的貼裝不良進(jìn)行檢測,包括電子元件的缺件、反向、偏位等進(jìn)行檢測,還可以對電子元器件經(jīng)回焊爐之后的焊接不良、缺件等進(jìn)行檢測。
X-RAY的原理以及行業(yè)優(yōu)勢
而作為時下市面上主流的檢測設(shè)備X-RAY實(shí)際上指的就是X光,它的原理是在不損壞被檢測物體的前提之下,通過X光來對那些非金屬物質(zhì)特性的物質(zhì)進(jìn)行穿透,比如對BGA元件的焊接是否良好以及有沒有短路現(xiàn)象的檢測;如果說的更加直白一些,那就是AOI檢測的是產(chǎn)品的平面,而X-RAY檢測的則是產(chǎn)品的內(nèi)部,比如鋰電池、IC芯片等產(chǎn)品有無短路、空焊、漏焊等缺陷。
AOI檢測基本原理與設(shè)備構(gòu)成?江門精密AOI檢測設(shè)備銷售公司
AOI又稱AOI光學(xué)自動檢測設(shè)備,已成為制造業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測工具和過程質(zhì)量控制工具。AOI檢測設(shè)備工作原理是在自動檢測過程中,AOI檢測設(shè)備機(jī)器通過高清CCD攝像頭自動掃描PCBA產(chǎn)品,采集圖像,將測試點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫中合格參數(shù)進(jìn)行對比,經(jīng)過圖像處理,檢查出目標(biāo)PCBA上的焊點(diǎn)缺陷,并通過顯示或自動標(biāo)記缺陷。為維修人員維修和SMT工藝人員改進(jìn)工藝參數(shù)。
AOI系統(tǒng)包括多種光源照明、高速數(shù)碼相機(jī)、高速直線電機(jī)、精密機(jī)械傳動結(jié)構(gòu)和圖像處理軟件。測試時,AOI設(shè)備通過攝像頭自動掃描和PCB、PCB上的部件或特殊部件(包括印刷錫膏的狀態(tài)、SMD組件、焊點(diǎn)形狀及缺陷等)來捕捉圖像,通過處理和數(shù)據(jù)庫軟件對合格參數(shù)進(jìn)行比較,并綜合判斷元件及特性是否合格,測試結(jié)論,如元件缺失、橋接或焊點(diǎn)質(zhì)量問題。
AOI的工作方式與SMT當(dāng)中SPI和印刷機(jī)中使用的視覺系統(tǒng)相同,通常使用設(shè)計規(guī)則檢查和模式識別。DRC方法根據(jù)一些給定的規(guī)則檢查電路圖形(所有的線應(yīng)該在焊點(diǎn)處結(jié)束,引線應(yīng)該至少0.127毫米寬,至少0.102毫米間距)。該方法能從算法上保證待測電路的正確性,且具有制作簡單、算法邏輯簡單、處理速度快、程序編輯量小、數(shù)據(jù)占用空間小等特點(diǎn),但該方法確定邊界的能力較差。 珠海AOI檢測設(shè)備設(shè)備價錢AOI又稱AOI光學(xué)自動檢測設(shè)備,已成為制造業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測工具和過程質(zhì)量控制工具。
自動光學(xué)檢測的光源分為兩類:可見光檢測和X光檢測
AOI檢測分為兩部分:
光學(xué)部分和圖像處理部分,通過光學(xué)部分獲得需要檢測的圖像;通過圖像處理部分來分析、處理和判斷。圖像處理部分需要很強(qiáng)的軟件支持,因為何種缺陷需要不同的計算方法用電腦進(jìn)行計算和判斷。
燈光變化的智能控制
人認(rèn)識物體是通過光線反射回來的量進(jìn)行判斷,反射量多為量,反射量少為暗。AOI與人判斷原理相同。AOI通過人工光源LED燈光代替自然光,光學(xué)透鏡和CCD代替人眼,把從光源反射回來的量與已經(jīng)編好程的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較、分析和判斷。對AOI來說,燈光是認(rèn)識影響的關(guān)鍵因素,但光源受環(huán)境溫度、AOI設(shè)備內(nèi)部溫度上升等因素影響,不能維持不變的光源,因此需要通過“自動跟蹤”燈光“透過率“對燈光變化進(jìn)行智能控制。
焊點(diǎn)檢測原理
AOI是X、Y平面(2D)檢測,而焊點(diǎn)是立體的,因此需要3D檢測焊點(diǎn)高度(Z)。
3D檢測的方法有
當(dāng)下流行的是采用頂部燈光和底部燈光照射—用頂部燈光照射焊點(diǎn)和Chip元件時,元件部分燈光反射到camera,而焊點(diǎn)部分光線反射出去。與此相反,用底部(水平)燈光照射時,元件部分燈光反射出去,焊點(diǎn)部分光線反射到career。急用底部燈光可以得到焊點(diǎn)部分的影響。
1.焊錫表面具有光的平面鏡反射性質(zhì),因此照射在焊錫表面的光,遵循入射角=反映射角方向進(jìn)行反射。
2.光源設(shè)計通過“紅色、綠色、藍(lán)色”不同角度的光源照射,反映被造物體的曲面的變化情況。從而達(dá)到檢測元件焊接弧度的目的。
3.不同的曲面弧度上,顏色反映了弧度的變化特性?!凹t光”“綠光”“藍(lán)光”的亮度強(qiáng)弱比例,是保證這一檢測原理的關(guān)鍵。
①紅色:上錫角度相對較低時,紅光反射回像機(jī)。(1°-25°)
②綠色:上錫角度相對高一些時綠光反射回像機(jī)。(25°-45°)
③藍(lán)色:上錫角度較高時,藍(lán)光反射回像機(jī)。(45°以上) AOI的種類由于設(shè)計思路及性能的不同,詳情了解分類。
結(jié)合光學(xué)感測系統(tǒng)采集到的圖像數(shù)據(jù),AOI檢測系統(tǒng)的軟件主要包括算法、影像處理軟件和通訊軟件。同樣AOI系統(tǒng)判斷一個組件是否是合格,也會設(shè)定一個規(guī)則,滿足規(guī)則的就合格,不滿足規(guī)則就是不良品。這個規(guī)則標(biāo)準(zhǔn)建模的方法即是算法,算法是整個軟件系統(tǒng)的重中之重,也是AOI檢測廠商的重要競爭力。
AI成為AOI檢測技術(shù)進(jìn)一步發(fā)展的關(guān)鍵因素。
以AOI檢測應(yīng)用范圍廣的PCB行業(yè)為例,中低端AOI檢測設(shè)備的誤判過篩率約為70%,即捕捉到的不良品中其實(shí)有70%的成品是合格的。因此目前PCB廠商多采取人工二次篩選,將實(shí)際合格的PCB板再度送回產(chǎn)線,預(yù)估一臺AOI檢測機(jī)常需配置4名人員進(jìn)行二次檢查。
伴隨AI技術(shù)的迅速發(fā)展,也給AOI檢測行業(yè)帶來了技術(shù)革新的契機(jī)。傳統(tǒng)AOI檢測與AI AOI辨識的差異,在于是否可針對未知瑕疵進(jìn)行判定,傳統(tǒng)AOI檢測設(shè)備只能以設(shè)定好的參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)為基準(zhǔn)進(jìn)行判斷,也就是邏輯性的思考,需要先定義瑕疵的樣本,再透過樣本進(jìn)行檢測。但導(dǎo)入訓(xùn)練成熟的AI技術(shù)后,AI AOI檢測系統(tǒng)能夠自行定義瑕疵范圍,進(jìn)一步有效判別未知的瑕疵圖像,且這個學(xué)習(xí)的過程是在不斷重復(fù)進(jìn)行積累的。 AOI檢測圖像對比實(shí)現(xiàn)原理目前比較流行的圖像對比方式有哪三種?中山多功能AOI檢測設(shè)備廠家價格
AOI的包含情況以及三種檢測方法,歡迎來電咨詢。江門精密AOI檢測設(shè)備銷售公司
AOI檢測誤判的定義及存在原困、 檢測誤判的定義及存在原困、檢測誤判的定義及存在原困誤判的三種理解及產(chǎn)生原因可以分為以下幾點(diǎn):
1、元件及焊點(diǎn)本來有發(fā)生不良的傾向,但處于允收范圍。如元件本來發(fā)生了偏移,但在允收范圍內(nèi);此類誤判主要是由于闕值設(shè) 定過嚴(yán)造成的,也可能是其本身介于不良與良品標(biāo)準(zhǔn)之間,AOI與MV(人工目檢)確認(rèn)造成的偏差,此類誤判是可以通過調(diào)整及 與MV協(xié)調(diào)標(biāo)準(zhǔn)來降低。
2、元件及焊點(diǎn)無不良傾向,但由于DFM設(shè)計時未考慮AOI的可測性,而造成AOI判定良與否有一定的難度,為保證檢出效果,將 引入一些誤判。如焊盤設(shè)計的過窄或過短,AOI進(jìn)行檢測時較難進(jìn)行很準(zhǔn)確的判定,此類情況所造成的誤判較難消除,除非改進(jìn) DFM或放棄此類元件的焊點(diǎn)不良檢測。
3、由于AOI依靠反射光來進(jìn)行分析和判定,但有時光會受到一些隨機(jī)因素的干擾而造成誤判。如元件焊端有臟物或焊盤側(cè)的印制 線有部分未完全進(jìn)行涂敷有部分裸露,從而造成搜索不良等。并且檢測項目越多,可能造成的誤報也會稍多。此類誤報屬隨機(jī)誤 報,無法消除。 江門精密AOI檢測設(shè)備銷售公司
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