AOI檢測誤判的定義及存在原困、 檢測誤判的定義及存在原困、檢測誤判的定義及存在原困誤判的三種理解及產(chǎn)生原因可以分為以下幾點:
1、元件及焊點本來有發(fā)生不良的傾向,但處于允收范圍。如元件本來發(fā)生了偏移,但在允收范圍內(nèi);此類誤判主要是由于闕值設(shè) 定過嚴(yán)造成的,也可能是其本身介于不良與良品標(biāo)準(zhǔn)之間,AOI與MV(人工目檢)確認(rèn)造成的偏差,此類誤判是可以通過調(diào)整及 與MV協(xié)調(diào)標(biāo)準(zhǔn)來降低。
2、元件及焊點無不良傾向,但由于DFM設(shè)計時未考慮AOI的可測性,而造成AOI判定良與否有一定的難度,為保證檢出效果,將 引入一些誤判。如焊盤設(shè)計的過窄或過短,AOI進(jìn)行檢測時較難進(jìn)行很準(zhǔn)確的判定,此類情況所造成的誤判較難消除,除非改進(jìn) DFM或放棄此類元件的焊點不良檢測。
3、由于AOI依靠反射光來進(jìn)行分析和判定,但有時光會受到一些隨機因素的干擾而造成誤判。如元件焊端有臟物或焊盤側(cè)的印制 線有部分未完全進(jìn)行涂敷有部分裸露,從而造成搜索不良等。并且檢測項目越多,可能造成的誤報也會稍多。此類誤報屬隨機誤 報,無法消除。 AOI在SMT貼片加工中的使用優(yōu)點。梅州半導(dǎo)體AOI檢測設(shè)備功能
AOI在SMT貼片加工中的使用優(yōu)點:
1.編程簡單。AOI通常是把貼片機編程完成后自動生成的TXT輔助文本文件轉(zhuǎn)換成所需格式的文件,從中AOI獲取位置號、元件系列號、X坐標(biāo)、Y坐標(biāo)、元件旋轉(zhuǎn)方向這5個參數(shù),然后系統(tǒng)會自動產(chǎn)生電路的布局圖,確定各元件的位置參數(shù)及所需檢測的參數(shù)。完成后,再根據(jù)工藝要求對各元件的檢測參數(shù)進(jìn)行微調(diào)。
2.減少生產(chǎn)成本。由于AOI可放置在回流爐前對PCB進(jìn)行檢測,可及時發(fā)現(xiàn)由各種原因引起的缺陷,而不必等到PCB過了回流爐后才進(jìn)行檢測,這就極大降低了生產(chǎn)成本。
3.故障覆蓋率高。由于采用了高級別的光學(xué)儀器和高智能的測試軟件,通常的AOI設(shè)備可檢測多種生產(chǎn)缺陷,故障覆蓋率可達(dá)到80%。
4.操作容易。由于AOI基本上都采用了高度智能的軟件,所以在smt貼片加工中并不需要操作人員具有豐富的理論知識即可進(jìn)行操作。使用AOI檢測設(shè)備可以減少工藝缺陷,在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤,以實現(xiàn)良好的過程控制,早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本避免報廢不可修理的電路板出現(xiàn)。 陽江多功能AOI檢測設(shè)備生產(chǎn)廠家AOI中文全稱是自動光學(xué)檢測,是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測的設(shè)備。
自動化光學(xué)檢測是一種利用光學(xué)捕捉PCB圖像的方法,以查看組件是否丟失,是否在正確的位置,以識別缺陷,并確保制造過程的質(zhì)量。它可以檢查所有尺寸的組件,如01005,0201,和0402s和包,如BGAs, CSPs, LGAs, PoPs,和QFNs。
AOI的引入開啟了實時巡檢功能。隨著高速、大批量生產(chǎn)線的出現(xiàn),一個不正確的機器設(shè)置、在PCB上放置錯誤的部件或?qū)R問題都可能導(dǎo)致大量的制造缺陷和隨后在短時間內(nèi)的返工。當(dāng)初的AOI機器能夠進(jìn)行二維測量,如檢查板的特征和組件的特征,以確定X和Y坐標(biāo)和測量。3D系統(tǒng)在2D上進(jìn)行了擴展,將高度維度添加到方程中,從而提供X、Y和Z坐標(biāo)和測量。
注意:有些AOI系統(tǒng)實際上并不“測量”組件的高度。
AOI在制造過程早期發(fā)現(xiàn)錯誤,并在板被移到下一個制造步驟之前保證工藝質(zhì)量。AOI通過向生產(chǎn)線反饋并提供歷史數(shù)據(jù)和生產(chǎn)統(tǒng)計來幫助提高產(chǎn)量。確保質(zhì)量在整個過程中得到控制,節(jié)省了時間和金錢,因為材料浪費、修理和返工、增加的制造勞動力、時間和費用,更不用說所有設(shè)備故障的成本。
自動光學(xué)檢測的光源分為兩類:可見光檢測和X光檢測
AOI檢測分為兩部分:
光學(xué)部分和圖像處理部分,通過光學(xué)部分獲得需要檢測的圖像;通過圖像處理部分來分析、處理和判斷。圖像處理部分需要很強的軟件支持,因為何種缺陷需要不同的計算方法用電腦進(jìn)行計算和判斷。
燈光變化的智能控制
人認(rèn)識物體是通過光線反射回來的量進(jìn)行判斷,反射量多為量,反射量少為暗。AOI與人判斷原理相同。AOI通過人工光源LED燈光代替自然光,光學(xué)透鏡和CCD代替人眼,把從光源反射回來的量與已經(jīng)編好程的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較、分析和判斷。對AOI來說,燈光是認(rèn)識影響的關(guān)鍵因素,但光源受環(huán)境溫度、AOI設(shè)備內(nèi)部溫度上升等因素影響,不能維持不變的光源,因此需要通過“自動跟蹤”燈光“透過率“對燈光變化進(jìn)行智能控制。
焊點檢測原理
AOI是X、Y平面(2D)檢測,而焊點是立體的,因此需要3D檢測焊點高度(Z)。
3D檢測的方法有
當(dāng)下流行的是采用頂部燈光和底部燈光照射—用頂部燈光照射焊點和Chip元件時,元件部分燈光反射到camera,而焊點部分光線反射出去。與此相反,用底部(水平)燈光照射時,元件部分燈光反射出去,焊點部分光線反射到career。急用底部燈光可以得到焊點部分的影響。 非標(biāo)離線AOI視覺檢測設(shè)備一,什么是AOI檢測?
1、光學(xué)檢測的優(yōu)勢
關(guān)于AOI設(shè)備,首先是具備了精確的檢測功能,相比較傳統(tǒng)的人工檢測方法,因為只能夠通過肉眼觀察,所以在精度上是無法滿足當(dāng)前市場對于產(chǎn)品的需求,在一些對于零件精度特別高的產(chǎn)業(yè)當(dāng)中更是如此,因此選擇這種設(shè)備進(jìn)行檢測是更好的選擇。另外,由于設(shè)備屬于非接觸式的測量,所以不會對觀察者以及產(chǎn)品造成損害,還加大了檢測范圍,光譜響應(yīng)范圍更加寬,因此可檢測到產(chǎn)品范圍更大。
2、精度和效率遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出
基于這幾個優(yōu)勢,我們可以明顯發(fā)現(xiàn),相比較傳統(tǒng)的人工的肉眼檢測,選擇AOI檢測機已經(jīng)是占據(jù)了更大的優(yōu)勢,而且無論是檢測的精度還是效率都是遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了人工的,因此現(xiàn)在使用這種設(shè)備進(jìn)行產(chǎn)品檢測,已經(jīng)成為了大多數(shù)企業(yè)的首要考慮。選擇購買AOI設(shè)備的時候,通過大數(shù)據(jù)優(yōu)化,智能極簡編程,一鍵識別元器件及焊點,智能判定不良,解決行業(yè)傳統(tǒng)算法編程時間長、誤報率高兩大痛點。而檢測產(chǎn)品AIS430檢測范圍廣,2D、3D均可檢測;它還應(yīng)用高速、高分辨率的圖像處理技術(shù),極大增強了2D檢測性能和3D成像速度。同時支持基于4/8方向的3D投影成像,高效融合多方向的高度信息,小化陰影問題。 AOI設(shè)備的原理有哪些呢?梅州半導(dǎo)體AOI檢測設(shè)備功能
AOI又稱AOI光學(xué)自動檢測設(shè)備,已成為制造業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測工具和過程質(zhì)量控制工具。梅州半導(dǎo)體AOI檢測設(shè)備功能
光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)
指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測物體反射的光線,光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷,轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集,傳輸形成電壓模擬信號
二極管吸收光線強度不同時生成的模擬電壓大小不同,依次輸出的模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值,灰階值反映了物體反射光的強弱,進(jìn)而實現(xiàn)識別不同被檢測物體的目的
光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD和CMOS兩種,因為制作工藝與設(shè)計不同,CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝,并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器,電極所產(chǎn)生的電場推動電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器。
而CMOS采用了無機半導(dǎo)體加工工藝,每像素設(shè)計了額外的電子電路,每個像素都可以被定位,無需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計,而且其對圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片,因光暈和拖尾等過度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多,價格和功耗相較CCD光電轉(zhuǎn)化器也低。但其非常明顯的缺點,作為半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多,靈敏度會有問題,為每個像素電子電路提供所需的額外空間不會作為光敏區(qū),域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片
梅州半導(dǎo)體AOI檢測設(shè)備功能
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