AOI檢測(cè)流程首先，給AOI進(jìn)行編程，將相關(guān)PCB和元件數(shù)據(jù)學(xué)習(xí)。然后學(xué)習(xí)預(yù)測(cè)，將多塊焊接板利用光學(xué)進(jìn)行檢測(cè)和算法分析，找出待測(cè)物的變化規(guī)律，建立標(biāo)準(zhǔn)的OK板模型，之后學(xué)習(xí)完成，進(jìn)行在線調(diào)試，在批量生產(chǎn)前先進(jìn)行小批次試產(chǎn)，將試產(chǎn)的PCBA與OK板進(jìn)行比對(duì)，合格后再人工目檢，之后對(duì)試產(chǎn)PCBA進(jìn)行功能測(cè)試，如果都正常，就可以開放批量生產(chǎn)了。那么為何還需要人工目檢呢，這是因?yàn)殡m然AOI在線檢測(cè)大幅提高產(chǎn)線的產(chǎn)能，可替代大量人工目檢，節(jié)省了人工和提高直通率以及降低誤判率，但是有些元件比較高或引腳比較高，會(huì)出現(xiàn)陰影或者局部暗部，由于AOI是光學(xué)檢測(cè)，一般比較難以照射到這些，因此可能會(huì)出現(xiàn)死角，所以需要在AOI后設(shè)置一個(gè)目檢崗位，盡量減少不良產(chǎn)品。只是放置了AOI，后面人工目檢可設(shè)置1-2個(gè)工作卡位即可。用戶通過使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配過程中盡早發(fā)現(xiàn)和修正錯(cuò)誤，實(shí)現(xiàn)良好的過程管控。廣東直銷AOI檢測(cè)設(shè)備

AOI工作原理自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的光源分為兩類：可見光檢測(cè)和X光檢測(cè)AOI檢測(cè)分為兩部分：光學(xué)部分和圖像處理部分，通過光學(xué)部分獲得需要檢測(cè)的圖像；通過圖像處理部分來分析、處理和判斷。圖像處理部分需要很強(qiáng)的軟件支持，因?yàn)楹畏N缺陷需要不同的計(jì)算方法用電腦進(jìn)行計(jì)算和判斷。燈光變化的智能控制人認(rèn)識(shí)物體是通過光線反射回來的量進(jìn)行判斷，反射量多為量，反射量少為暗。AOI與人判斷原理相同。AOI通過人工光源LED燈光代替自然光，光學(xué)透鏡和CCD代替人眼，把從光源反射回來的量與已經(jīng)編好程的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較、分析和判斷。對(duì)AOI來說，燈光是認(rèn)識(shí)影響的關(guān)鍵因素，但光源受環(huán)境溫度、AOI設(shè)備內(nèi)部溫度上升等因素影響，不能維持不變的光源，因此需要通過“自動(dòng)跟蹤”燈光“透過率“對(duì)燈光變化進(jìn)行智能控制。焊點(diǎn)檢測(cè)原理AOI是X、Y平面（2D）檢測(cè)，而焊點(diǎn)是立體的，因此需要3D檢測(cè)焊點(diǎn)高度（Z）。3D檢測(cè)的方法有當(dāng)下流行的是采用頂部燈光和底部燈光照射—用頂部燈光照射焊點(diǎn)和Chip元件時(shí)，元件部分燈光反射到camera，而焊點(diǎn)部分光線反射出去。與此相反，用底部（水平）燈光照射時(shí)，元件部分燈光反射出去，焊點(diǎn)部分光線反射到career。急用底部燈光可以得到焊點(diǎn)部分的影響。云浮在線式AOI檢測(cè)設(shè)備生產(chǎn)廠家將AOI放置在爐后位置檢測(cè)，PCBA經(jīng)過回流焊后直接流向AOI檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)。

AOI的中文全稱是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，是基于光學(xué)原理來對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。當(dāng)機(jī)器自動(dòng)檢測(cè)時(shí)，通過攝像頭自動(dòng)掃描PCB、采集圖像，測(cè)試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中的合格的參數(shù)就會(huì)進(jìn)行比較，經(jīng)過圖像處理檢查出PCB上缺陷，并通過顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來，供維修人員修整。和田古德AOI運(yùn)用高速高精度視覺處理技術(shù)自動(dòng)檢測(cè)PCB板上各種不同帖裝錯(cuò)誤及焊接缺陷。而PCB板的范圍可從細(xì)間距高密度板到低密度大尺寸板，并且可以提供在線檢測(cè)方案，以提高生產(chǎn)效率，及焊接質(zhì)量。那么，通過使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配工藝過程的早期查找和消除錯(cuò)誤，可以實(shí)現(xiàn)良好的過程控制；早期發(fā)現(xiàn)缺陷可以避免將壞板送到末尾的裝配階段，如此，AOI能夠減少修理成本，并且避免報(bào)廢不可修理的電路板。

AOI檢測(cè)設(shè)備又叫AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，也叫全自動(dòng)在線型基板外觀檢查機(jī)。是目前電子制造業(yè)確保產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測(cè)工具，也是SMT制程中質(zhì)量控制工具，因此,如何選擇和使用適合自已產(chǎn)品要求的AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,已經(jīng)成為眾多電子制造商十分關(guān)注的問題。首先我們知道，AOI檢測(cè)設(shè)備原理是，當(dāng)自動(dòng)檢測(cè)時(shí)，AOI檢測(cè)設(shè)備通過高清CCD攝像頭自動(dòng)掃描PCBA產(chǎn)品，采集圖像，將測(cè)試的檢測(cè)點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中合格的參數(shù)進(jìn)行比較，再經(jīng)過圖像處理，檢查出目標(biāo)產(chǎn)品上的缺陷，同時(shí)通過顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示或標(biāo)示出來，供維修人員修整和SMT工程人員改善工藝。現(xiàn)階段AOI光學(xué)檢測(cè)儀主要運(yùn)用的檢查對(duì)比技術(shù)主要有兩種。

AOI可用于生產(chǎn)線上的多個(gè)位置，在各個(gè)位置均可檢測(cè)特殊缺陷，但AOI檢查設(shè)備應(yīng)放到一個(gè)可以盡早識(shí)別和改正較多缺陷的位置。因此一般將AOI放置在以下三個(gè)比較重要的位置：（1）錫膏印刷之后。如果錫膏印刷過程滿足要求，那么ICT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量可大幅度的減少。典型的印刷缺陷一般有焊盤上焊錫不足、焊盤上焊錫過多、焊錫對(duì)焊盤的重合不良、焊盤之間的焊錫橋。（2）回流焊前。檢查是在元件貼放在板上錫膏印刷之后和PCB送入回流爐之前完成的。這是放置檢查機(jī)器的位置，因?yàn)檫@里可發(fā)現(xiàn)來自錫膏印刷以及機(jī)器貼放的大多數(shù)缺陷。不過一般這個(gè)位置放置SPI比較多，因?yàn)檫@個(gè)位置的檢查滿足過程跟蹤的目標(biāo)。（3）回流焊后。在SMT工藝過程的***步驟進(jìn)行檢查，這是目前AOI當(dāng)下流行的選擇，因?yàn)檫@個(gè)位置可發(fā)現(xiàn)全部的裝配錯(cuò)誤?；亓骱负髾z查可以提供高度的安全性，因?yàn)樗R(shí)別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯(cuò)誤。AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備，歡迎來電咨詢。肇慶AOI檢測(cè)設(shè)備技術(shù)參數(shù)

AOI為自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。廣東直銷AOI檢測(cè)設(shè)備

光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測(cè)物體反射的光線，光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷，轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集，傳輸形成電壓模擬信號(hào)二極管吸收光線強(qiáng)度不同時(shí)生成的模擬電壓大小不同，依次輸出的模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值，灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)識(shí)別不同被檢測(cè)物體的目的光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD和CMOS兩種，因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝，并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器，電極所產(chǎn)生的電場(chǎng)推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器。而CMOS采用了無機(jī)半導(dǎo)體加工工藝，每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路，每個(gè)像素都可以被定位，無需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì)，而且其對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多，價(jià)格和功耗相較CCD光電轉(zhuǎn)化器也低。但其非常明顯的缺點(diǎn)，作為半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多，靈敏度會(huì)有問題，為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū)，域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片。廣東直銷AOI檢測(cè)設(shè)備