X射線衍射(XRD)和反射率是對薄層結(jié)構樣品進行無損表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析:
掠入射衍射(GID):晶相表面靈敏識別及結(jié)構性質(zhì)測定,包括微晶尺寸和應變。
X射線反射率測量(XRR):用于提取從簡單的基底到高度復雜的超晶格結(jié)構等多層樣品的厚度、材料密度和界面結(jié)構信息。
高分辨率X射線衍射(HRXRD):用于分析外延生長結(jié)構:層厚度、應變、弛豫、鑲嵌、混合晶體的成分分析。
應力和織構(擇優(yōu)取向)分析。 這種X射線源可提供高亮度光束,對mm大小的樣品研究,或使用μm大小光束進行微區(qū)X射線衍射研究的理想選擇。湖北布魯克XRD衍射儀成本價
汽車和航空航天:配備了UMC樣品臺的D8D的一大優(yōu)勢就是可以對大型機械零件進行殘余應力和結(jié)構分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。
半導體與微電子:從過程開發(fā)到質(zhì)量控制,D8D可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結(jié)構表征。
制藥業(yè)篩選:新結(jié)構測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關鍵步驟,對此,D8D具有高通量篩選功能。
儲能/電池:使用D8D,您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料,直接了當?shù)墨@取不斷變化的儲能材料的晶體結(jié)構和相組方面的信息。 江蘇上海XRD衍射儀成本價專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結(jié)構表征而設計。
D8 DISCOVER特點:微焦源IμS
配備了MONTEL光學器件的IμS微焦源可提供小X射線束,非常適合小范圍或小樣品的研究。
1.毫米大小的光束:高亮度和很低背景
2.綠色環(huán)保設計:低功耗、無耗水、使用壽命延長
3.MONTEL光學器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度
4.與布魯克大量組件、光學器件和探測器完全兼容。
5.提供各種技術前列的全集成X射線源,用于產(chǎn)生X射線。
6.工業(yè)級金屬陶瓷密封管,可實現(xiàn)線焦斑或點焦斑。
7.專業(yè)的TWIST-TUBE(旋轉(zhuǎn)光管)技術,可快速簡便地切換線焦斑和點焦斑。
8.微焦斑X射線源(IμS)可提高極小焦斑面積上的X射線通量,而功耗卻很低。
9.TURBOX射線源(TXS)旋轉(zhuǎn)陽極可為線焦斑、點焦斑和微焦斑等應用提供比較高X射線通量。
10.**性液態(tài)金屬靶METALJET技術,可提供無出其右的X射線光源亮度。
11.高效TurboX射線源(TXS-HE)可為點焦斑和線焦斑應用提供比較高X射線通量,適用于D8DISCOVERPlus。
12.這些X射線源結(jié)合指定使用X射線光學元件,可高效捕獲X射線,并將之轉(zhuǎn)化為針對您的應用而優(yōu)化的X射線束。
所有維度都非常好的數(shù)據(jù)質(zhì)量不論在何種應用場合,它都是您的可選的探測器:高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率,峰位精度布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM 1976c)整個角度范圍內(nèi)的準直保證,面向未來的多用途采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設計,布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設計極大地簡化了D8 ADVANCE的操作,使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統(tǒng)無需人工干預,即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,且無需人工干預,是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內(nèi)的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。X射線反射法、掠入射衍射(GID)、面內(nèi)衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI應力分析、晶體取向分析。
XRD檢測納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關,而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計算Dhkl:晶粒尺寸,垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬(或展寬)θ:hkl晶面的bragg角度λ:入射X光的波長,一般Cu靶為1.54埃K:常數(shù)(晶粒近似為球形,K=0.89;其他K=1)
ADVANCE采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設計 定性相分析和結(jié)構測定 微米應變和微晶尺寸分析 應力和織構分析 粒度和粒度分布測定 微米大小X射線束局部分析。廣東上海XRD衍射儀銷售廠家
配備了UMC樣品臺的DISCOVER,優(yōu)勢在于對大型機械零件殘余應力和織構分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。湖北布魯克XRD衍射儀成本價
超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術的發(fā)展,薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術節(jié)點的a20范圍內(nèi)。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,XRR是的測量技術。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是**用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。湖北布魯克XRD衍射儀成本價
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