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無損CT

來源: 發(fā)布時間:2022-10-09

局部取向分析CTAn提供了一個新的插件來執(zhí)行局部取向分析,以一定半徑內(nèi)的灰度梯度的計算為基礎(chǔ),可進(jìn)行2D或3D的分析。圖像A為CFRP材料的纖維取向分析。圖像B為人體椎骨切片,垂直的小梁以紅色顯示,而水平支撐小梁以藍(lán)色顯示,節(jié)點(diǎn)和斜結(jié)構(gòu)顯示綠色。種子生長函數(shù)CTAn中添加了種子生長函數(shù)。從ROI-shrink-wrap插件可以選擇Fill-out模式。該函數(shù)通過二值化區(qū)域內(nèi)部的一個種子來生長感興趣區(qū)域(VOI)。它從內(nèi)部填充而不是從外部收縮來創(chuàng)建VOI,在許多應(yīng)用中非常有用的,例如,在進(jìn)行胚胎細(xì)胞的分割(圖像C)時不誤選具有相似密度的其他軟組織。XRM能以無損的方式完成這種檢測,確保生產(chǎn)出的部件符合或超出規(guī)定的性能。無損CT

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Space-savingbenchtopsystemwithminimuminstallationrequirementsdomesticpowerplug,nowaterorcompressedair,maintenance-freesealedX-raysourceLargesamplechambertofitthesamplesSpaceforobjectsupto?300mmand500mmheight,scanningvolumeupto?250mmand250mmheight130kVx-raysourcewith6MPFlat-Paneldetectortransmissionthroughlargerandhigherdensematerials8-positionfilterchangersupportingautomaticselectionoftheoptimumenergysettingAdvancescanalgorithmsforparticularsampleshapes(i.e.:helical,oversized,HARTplusscan)Comprehensive3D.SUITEsoftware1)reconstruction,2)visualizationthroughsurface-andvolumerenderingand3)analysis上海質(zhì)量顯微CT售價由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源,SKYSCAN1272的掃描速度比探測器位置固定的系統(tǒng)可快5倍。

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主要特點(diǎn)及技術(shù)指標(biāo):§很大程度上保護(hù)樣品:無需制備樣品,無損三維重現(xiàn)§對樣品的細(xì)節(jié)檢測能力(分辨率)比較高可達(dá):450nm§比較大掃描樣品直徑:75mm;比較大掃描樣品長度:70mm§自動可變掃描幾何系統(tǒng):根據(jù)用戶設(shè)定的放大倍率,儀器可自動優(yōu)化掃描幾何,找到快的測試方案,用短時間,得到高質(zhì)量數(shù)據(jù)§全新的100kV度微焦斑X射線光源,提供更高的光通量和更好的光束穩(wěn)定性,完全免維護(hù)§全新的1100萬像素CCD探測器,4000x2670像素,大面積、高靈敏度,1:1偶合無束錐比§6位自動濾片轉(zhuǎn)換器,針對不同樣品,可自由選擇不同能量,以得到比較好化的實(shí)驗(yàn)條件§集成的高精度微調(diào)樣品臺可方便系統(tǒng)獲得樣品,尤其是小樣品的比較好位置§樣品腔內(nèi)置500萬像素彩色光學(xué)相機(jī)可更方便地實(shí)時觀察樣品位置,并隨時保存圖像§16位自動進(jìn)樣器(可選),可連續(xù)測量16個樣品。樣品會自動被轉(zhuǎn)移到樣品臺上進(jìn)行逐個掃描,每個樣品可以按照相同的或者特定的策略進(jìn)行掃描§二維/三維數(shù)據(jù)分析,面/體繪制軟件實(shí)現(xiàn)三維可視化,終結(jié)果可輸出到手機(jī)或者平板電腦上(iOSandAndroid),并導(dǎo)出STL文件用于3D打印

SKYSCAN1275–QualityinspectionAdditiveManufacturingAdditiveManufacturedpartBedfusion,pureAlpowderCourtesyofIRTDuppigheimScanConditionsSKYSCAN1275Voxelsize:15μm1mmAlfilter80kV–10W4verticalconnectedsectionsAutomaticallyandseamlesslystitchedtogetherScantime:22minutespersectionFast,easytousepush-buttonCTwithSKYSCAN1275Packaging–sealqualityEvaluationofmanufacturingprocessofthesecomponentsReferenceandproducedpartscanbescannedandcomparedXRM可用于微米大小的片上期間、完整的電路板和組裝完整的產(chǎn)品可視化。

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超高速度、質(zhì)量圖像SKYSCAN1275專為快速掃描多種樣品而設(shè)計。該系統(tǒng)采用一個功能強(qiáng)大的廣角X射線源(100kV)和高效的大型平板探測器,可以輕松實(shí)現(xiàn)大尺寸樣品掃描。由于X射線源到探測器的距離較短以及快速的探測器讀出能力,SKYSCAN1275可以顯著提高工作效率——從幾小時縮短至幾分鐘,并保證不降低圖像質(zhì)量。SKYSCAN1275如此迅速,甚至可以實(shí)現(xiàn)四維動態(tài)成像。Push-Button-CT?讓操作變得極為簡單您只需選擇手動或自動插入一個樣品,就可以自動獲得完整的三維容積,無需其他操作。Push-Button-CT包含了所有工作流程:自動樣品尺寸檢測、樣品掃描、三維重建以及三維可視化。選配自動進(jìn)樣器,SKYSCAN1275可以全天候工作。XRM可以用于分析混凝土、木材、塑料和墻板等多種材料。它可以分析建筑玻璃和表面處理所用的涂層連續(xù)性。福建質(zhì)量顯微CT用戶體驗(yàn)

和其它的試驗(yàn)臺一樣,加熱和冷卻臺也不需要任何額外的連接,系統(tǒng)可以自動地識別不同的試驗(yàn)臺。無損CT

SKYSCAN1272CMOS憑借Genius模式可自動選擇參數(shù)。只需單擊一下,即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。而且,由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源,它能大幅地增加實(shí)測的信號強(qiáng)度。正是因?yàn)檫@個原因,SKYSCAN1272CMOS的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)較為多可快5倍。SKYSCAN1272CMOS纖維和復(fù)合材料FFP2口罩的三維渲染,根據(jù)局部取向?qū)w維進(jìn)行彩色編碼通過將材料組合成復(fù)合材料,獲得的組件可以擁有更高的強(qiáng)度,同時大為減輕重量。而要想進(jìn)一步優(yōu)化組件性能,就必須確保組成成分的方向能被優(yōu)化。較為常用的組分之一是纖維,有混凝土中的鋼筋,電子元件中的玻璃纖維,還有航空材料中的碳納米管。XRM可用于檢測纖維和復(fù)合材料,而無需進(jìn)行橫切,從而確保樣品狀態(tài)不會在制備樣品的過程中受到影響。1.嵌入對象的方向2.層厚、纖維尺寸和間隔的定量分析3.采用原位樣品臺檢測溫度和物理性質(zhì)。無損CT

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標(biāo)簽: XRD衍射儀 顯微CT