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福建質(zhì)量顯微CT

來源: 發(fā)布時間:2024-05-03

產(chǎn)品介紹MicroCT-片劑、膠囊、腸溶顆粒三維結(jié)構(gòu)掃描儀-布魯克顯微CT德國布魯克3D-XRMmicroCT-SKYSCAN1272可用于藥物研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗和缺陷等分析,比如測定藥片的孔隙率、微裂隙、藥片力學性質(zhì)、活性成分分布、包衣厚度,以及醫(yī)療器械的包裝和封裝完整性的檢測。利用microCT的無損、顯微放大、可提供三維圖像的優(yōu)點,我們相信其在片劑開發(fā)和醫(yī)療器械的質(zhì)量控制有著廣闊的應用,可提高片劑開發(fā)和生產(chǎn)醫(yī)療器械的效率,可以幫助縮短研發(fā)的周期,節(jié)省大量時間和資金。X射線源到探測器的距離較短以及快速的探測器讀出能力,SKYSCAN 1275 明顯提高工作效率,并保證不降低圖像質(zhì)量。福建質(zhì)量顯微CT

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Mμm):5mm–limitedbygeometryLargestrepresentativesamplediameterforvarioussamplesat130kVGeomaterials:1inch–4cm(thiscorrespondsto‘fullcore’formanyoilandgasapplications).Metals:1–2cm?primarilyAl,Ti,(Fe)Electronics:severalcmifsamplesare‘plate-like’:–250mminoffsetmodus.Voxelsizeinthiscaseis54μm顯微CT無損檢測XRM根據(jù)密度不同來進行區(qū)域劃分,包括孔隙網(wǎng)絡。

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制造業(yè):1.在鑄造、機械加工和增材制造過程中,檢測下次、分析孔隙度,即使是封閉在內(nèi)部的結(jié)構(gòu)也可以檢測2.對增材制造過程中的再利用的金屬粉末進行質(zhì)控。封裝:1.檢測先進的醫(yī)療工具2.檢測藥品包裝3.檢測復雜的機電裝配。地質(zhì)學、石油天然氣:1.大尺寸地質(zhì)巖心分析2.測量孔徑和滲透率、粒度和形狀3.計算礦物相的分布動態(tài)過程分析。生命科學:1.對生物材料和高密度植入物的骨整合進行無偽影成像2.對法醫(yī)學和古生物學的樣品成像與分析3.動物學和植物學研究中分類與結(jié)構(gòu)分析。

SKYSCAN2214是布魯克推出的新納米斷層掃描系統(tǒng),是顯微CT技術(shù)領域的先行者,在為用戶帶來了終級分辨率的同時,提供非常好的用戶體驗。SKYSCAN2214的每個組件都融入的新的技術(shù),使其成為當今市場上性能很強、適用性很廣的系統(tǒng)。?多用途系統(tǒng),樣品尺寸可達300mm,分辨率(像素尺寸)可達60納米?金剛石窗口x射線源,焦斑尺寸<500nm?創(chuàng)新的探測器模塊化設計,可支持4個探測器、可現(xiàn)場升級。?全球速度很快的3D重建軟件(InstaRecon®)。?支持精確的螺旋掃描重建算法。?近似免維護的系統(tǒng),縮短停機時間并降低擁有成本。SKYSCAN 1272 CMOS XRM可以無損地實現(xiàn)泡沫內(nèi)部結(jié)構(gòu)的三維可視化。

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無損顯微CT3D-XRM不需要進行切片,染色或噴金等樣品處理。顯微CT3D-XRM的樣品可重復測試,進行縱向比對。高襯度圖像聚丙烯這類主要由C,H等輕元素組成的物質(zhì),對X射線吸收非常弱,想獲得足夠高的對比度,①要求X射線探測器的靈敏程度高,可以識別出微小的信號差異,獲取吸收襯度信息。②設備整體精度高,探測器靈敏度高,在吸收襯度之外,還可以利用X射線相位的變化,獲得包含相位襯度的圖像。大工作距離條件下的高分辨率模式大工作距離條件下的高分辨率掃描,一般是通過透鏡或光錐對閃爍體產(chǎn)生的信號進行二次放大,布魯克SkyScan采用高分辨率CCD探測器(1100萬像素,普通探測器一般為400萬像素)+具有放大功能的光纖實現(xiàn)幾何放大和光錐二次放大,并且在進行二次放大的同時,可以保證成像速度,在合理的時間內(nèi)完成大工作距離下的高分辨率掃描。軟件還包括平滑處理,保存矢狀面或冠狀面差值數(shù)據(jù),測量和保存距離及強度曲線。山東顯微CT配件

快幀率加特別優(yōu)化的閃爍體,能在不到15秒的超短時間內(nèi)獲得 圖像,這適合于時間分辨三維X射線顯微成像。福建質(zhì)量顯微CT

高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)━內(nèi)部結(jié)構(gòu)非破壞性的成像技術(shù)眼見為實!這是我們常常將顯微鏡應用于材料表征的原因。傳統(tǒng)的顯微鏡利用光或電子束,對樣品直接進行成像。其他的,如原子力顯微鏡(AFM),則利用傳感器來檢測樣品表面。這些方法都能夠提供樣品表面/近表面結(jié)構(gòu)或特性的局部二維圖像。但是,是否存在一種技術(shù)能實現(xiàn)以下幾點功能?☉內(nèi)部結(jié)構(gòu)三維成像?⊙一次性測量整個樣品?⊙直接檢測?⊙無需進行大量樣品制備,如更換或破壞樣品,就能實現(xiàn)上述目標?福建質(zhì)量顯微CT