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芯片無損檢測(cè)

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-12-17

特點(diǎn):X射線源:涵蓋各領(lǐng)域應(yīng)用,從有機(jī)物到金屬樣品標(biāo)稱分辨率(放大倍數(shù)下的像素尺寸):檢測(cè)樣品極小的細(xì)節(jié)X射線探測(cè)器:3MP(1,944x1,536)有效像素的CMOS平板探測(cè)器,高讀取速度,高信噪比樣品尺寸:適用于小-中等尺寸樣品輻射安全:滿足國(guó)際安全要求供電要求:標(biāo)準(zhǔn)插座,即插即用布魯克三維X射線顯微鏡microCT信息由布魯克衍射熒光事業(yè)部(BrukerAXS)為您提供,如您想了解更多關(guān)于布魯克三維X射線顯微鏡microCT報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。SKYSCAN 1272藥物:確定壓實(shí)密度、測(cè)量包衣厚度、評(píng)估API分布、檢測(cè)片劑中微型裂隙。芯片無損檢測(cè)

芯片無損檢測(cè),顯微CT

新品重磅出擊!多量程X射線納米CT系統(tǒng)型號(hào):SKYSCAN2214產(chǎn)地:比利時(shí)新型的多量程納米CT-SkyScan2214完美的解決了樣品尺寸多樣化與空間分辨率的矛盾,一臺(tái)設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)從微米到分米尺寸樣品的高分辨率掃描。創(chuàng)新性的采用幾何放大與光纖放大相結(jié)合的兩級(jí)放大模式,使樣品在距離光源很大距離的情況下依然獲得亞微米級(jí)的分辨率,同時(shí)還解決了光學(xué)透鏡二級(jí)放大帶來的掃描效率低的問題,用戶無需再花費(fèi)幾個(gè)小時(shí)甚至是數(shù)十個(gè)小時(shí)等待一個(gè)結(jié)果了。顯微CT骨科學(xué)研究先進(jìn)的 16 兆像素 CMOS X 射線探測(cè)器可提供具有 分辨率的高對(duì)比度圖像。

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X射線顯微CT:先進(jìn)的無損三維顯微鏡顯微CT即Micro-CT,為三維X射線成像,與醫(yī)用CT(或“CAT”)原理相同,可進(jìn)行小尺寸、高精度掃描。通過對(duì)樣品內(nèi)部非常細(xì)微的結(jié)構(gòu)進(jìn)行無損成像,真正實(shí)現(xiàn)三維顯微成像。無需樣本品制備、嵌入、鍍層或切薄片。單次掃描將能實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品對(duì)象的完整內(nèi)部三維結(jié)構(gòu)的完整成像,并且可以完好取回樣本品!特點(diǎn):先進(jìn)的掃描引擎—可變掃描幾何:可以提高成像質(zhì)量,或?qū)呙钑r(shí)間縮短1/2到1/5支持重建、分析和逼真成像的軟件套件自動(dòng)樣品切換器

SKYSCAN1272CMOS憑借Genius模式可自動(dòng)選擇參數(shù)。只需單擊一下,即可自動(dòng)優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時(shí)間和背景校正。而且,由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測(cè)器盡可能地靠近光源,它能大幅地增加實(shí)測(cè)的信號(hào)強(qiáng)度。正是因?yàn)檫@個(gè)原因,SKYSCAN1272CMOS的掃描速度比探測(cè)器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)多可快5倍。SKYSCAN1272CMOS藥物一種口服藥物,以腸溶顆粒形式存在,像素大小為0.45μm。包衣由三層組成,外層用顏色編碼厚度。新藥開發(fā)是個(gè)費(fèi)時(shí)費(fèi)錢的過程。,XRM可以在產(chǎn)品配方階段即時(shí)提供產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu),加快新藥上市。1.確定片劑的壓實(shí)密度2.測(cè)量包衣厚度均勻性3.評(píng)估API分布4.檢測(cè)被壓實(shí)的片劑中由應(yīng)力導(dǎo)致的微型裂隙5.利用原位壓縮檢測(cè)力學(xué)性能。二維/三維數(shù)據(jù)分析,面/體繪制軟件實(shí)現(xiàn)三維可視化,結(jié)果可輸出到手機(jī)或者平板電腦上。

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SKYSCAN2214功能原位試驗(yàn)臺(tái)SKYSCAN2214擁有高度準(zhǔn)確的樣品臺(tái),支持直徑達(dá)到300mm和重量達(dá)到20kg的物體??諝鈶腋∈叫D(zhuǎn)馬達(dá)能以非常高的準(zhǔn)確度準(zhǔn)確地旋轉(zhuǎn)樣品位置,集成的精密定位平臺(tái)能保證樣品完全對(duì)準(zhǔn)。SKYSCAN2214擁有一個(gè)很大的且使用方便的樣品室,方便掃描大型物體和安裝可選的試驗(yàn)臺(tái)。它有足夠的空間可供容納其他設(shè)備。布魯克的材料試驗(yàn)臺(tái)可以進(jìn)行較大4400N的壓縮試驗(yàn)和較大440N的拉伸試驗(yàn)。所有試驗(yàn)臺(tái)都能通過系統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)臺(tái)自動(dòng)聯(lián)系到一起,而無需任何外接線纜。通過使用所提供的軟件,可以設(shè)置預(yù)定掃描試驗(yàn)。布魯克的加熱臺(tái)和冷卻臺(tái)可以達(dá)到較高+80oC或較低低于環(huán)境溫度低30oC的溫度。和其它的試驗(yàn)臺(tái)一樣,加熱和冷卻臺(tái)也不需要任何額外的連接,系統(tǒng)可以自動(dòng)地識(shí)別不同的試驗(yàn)臺(tái)。通過使用加熱臺(tái)和冷卻臺(tái),可在非環(huán)境條件下檢測(cè)樣品,從而評(píng)估溫度對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)的影響。SKYSCAN2214與DEBEN試驗(yàn)臺(tái)可以完全兼容。借助自帶的適配器,DEBEN試驗(yàn)臺(tái)可以很容易地被安裝到SKYSCAN2214的旋轉(zhuǎn)臺(tái)上。SKYSCAN 1272泡沫材料:根據(jù)泡沫的材質(zhì)和結(jié)構(gòu)特性,可用作隔熱或隔音材料,也可用作保護(hù)或減震。芯片無損檢測(cè)

XRM能以無損的方式完成這種檢測(cè),確保生產(chǎn)出的部件符合或超出規(guī)定的性能。芯片無損檢測(cè)

SkyScan2214為油氣勘探,復(fù)合材料,鋰電池,燃料電池,電子組件等材料的三維成像和精確建模提供了獨(dú)特的解決方案。該儀器可接受300mm大小的物體,并為小尺寸和中等尺寸(10cm范圍左右)樣品掃描提供亞微米級(jí)的分辨率。該系統(tǒng)可選擇圓形和螺旋掃描軌跡進(jìn)行樣品掃描,并提供世界上快的分層重建(InstaRecon®)軟件,和獲得(許可)的精確的螺旋重建算法,為準(zhǔn)確測(cè)量提供高精度信息?!ら_放式納米焦點(diǎn)金剛石光源,降低使用成本··多探測(cè)器自動(dòng)切換(多可選4個(gè)),可選擇適用于中小尺寸樣品成像的高靈敏度CCD探測(cè)器和適用于大尺寸樣品、快速掃描的高分辨率CMOS平板探測(cè)器··11軸高精度定位系統(tǒng),精度優(yōu)于50nm··三維空間分辨率優(yōu)于500nm,小像素尺寸優(yōu)于60nm·芯片無損檢測(cè)

標(biāo)簽: XRD衍射儀 顯微CT