在物理層方面，PCIe總線采用多對(duì)高速串行的差分信號(hào)進(jìn)行雙向高速傳輸，每對(duì)差分  線上的信號(hào)速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的  16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電  纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求，其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如  果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率，理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外，2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù)，單Lane數(shù)據(jù)速率達(dá)到64Gbps的第6代標(biāo)  準(zhǔn)規(guī)范也在討論過(guò)程中。列出了PCIe每一代技術(shù)發(fā)展在物理層方面的主要變化。pcie接口定義及知識(shí)解析；北京PCI-E測(cè)試商家

PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時(shí)鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時(shí)鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時(shí)鐘模式下，主板會(huì)給插卡提供一個(gè)100MHz的參考時(shí)鐘(Refclk),插卡用這 個(gè)時(shí)鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個(gè)參考時(shí)鐘可以在主機(jī)打開(kāi)擴(kuò)頻時(shí)鐘 (SSC)時(shí)控制收發(fā)端的時(shí)鐘偏差，同時(shí)由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)可以互 相抵消，所以對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)要求可以稍寬松一些北京PCI-E測(cè)試商家高速串行技術(shù)(二)之(PCIe中的基本概念)；

并根據(jù)不同位置處的誤碼率繪制出類(lèi)似眼圖的分布圖，這個(gè)分布圖與很多誤碼儀中眼圖掃描功能的實(shí)現(xiàn)原理類(lèi)似。雖然和示波器實(shí) 際測(cè)試到的眼圖從實(shí)現(xiàn)原理和精度上都有一定差異，但由于內(nèi)置在接收芯片內(nèi)部，在實(shí)際環(huán) 境下使用和調(diào)試都比較方便。PCIe4.0規(guī)范中對(duì)于Lane Margin掃描的水平步長(zhǎng)分辨率、 垂直步長(zhǎng)分辨率、樣點(diǎn)和誤碼數(shù)統(tǒng)計(jì)等都做了一些規(guī)定和要求。Synopsys公司展 示的16Gbps信號(hào)Lane Margin掃描的示例?？藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

由于每對(duì)數(shù)據(jù)線和參考時(shí)鐘都是差分的，所以主  板的測(cè)試需要同時(shí)占用4個(gè)示波器通道，也就是在進(jìn)行PCIe4.0的主板測(cè)試時(shí)示波器能夠  4個(gè)通道同時(shí)工作且達(dá)到25GHz帶寬。而對(duì)于插卡的測(cè)試來(lái)說(shuō)，只需要把差分的數(shù)據(jù)通道  引入示波器進(jìn)行測(cè)試就可以了，示波器能夠2個(gè)通道同時(shí)工作并達(dá)到25GHz帶寬即可。 12展示了典型PCIe4.0的發(fā)射機(jī)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試環(huán)境。無(wú)論是對(duì)于發(fā)射機(jī)測(cè)試，還是對(duì)于后面要介紹到的接收機(jī)容限測(cè)試來(lái)說(shuō)，在PCIe4.0 的TX端和RX端的測(cè)試中，都需要用到ISI板。ISI板上的Trace線有幾十對(duì)，每相鄰線對(duì) 間的插損相差0.5dB左右。由于測(cè)試中用戶使用的電纜、連接器的插損都可能會(huì)不一致， 所以需要通過(guò)配合合適的ISI線對(duì)，使得ISI板上的Trace線加上測(cè)試電纜、測(cè)試夾具、轉(zhuǎn)接  頭等模擬出來(lái)的整個(gè)測(cè)試鏈路的插損滿足測(cè)試要求。比如，對(duì)于插卡的測(cè)試來(lái)說(shuō)，對(duì)應(yīng)的主  板上的比較大鏈路損耗為20dB,所以ISI板上模擬的走線加上測(cè)試夾具、連接器、轉(zhuǎn)接頭、測(cè)  試電纜等的損耗應(yīng)該為15dB(另外5dB的主板上芯片的封裝損耗通過(guò)分析軟件進(jìn)行模擬)。 為了滿足這個(gè)要求，比較好的方法是使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)事先進(jìn)行鏈路標(biāo)定。PCIE3.0和PCIE4.0應(yīng)該如何選擇？

PCIe背景概述PCIExpress(PeripheralComponentInterconnectExpress,PCle)總線是PCI總線的串行版本，廣泛應(yīng)用于顯卡、GPU、SSD卡、以太網(wǎng)卡、加速卡等與CPU的互聯(lián)。PCle的標(biāo)準(zhǔn)由PCI-SIG(PCISpecialInterestGroup)組織制定和維護(hù)，目前其董事會(huì)主要成員有Intel、AMD、nVidia、DellEMC、Keysight、Synopsys、ARM、Qualcomm、VTM等公司，全球會(huì)員單位超過(guò)700家。PCI-SIG發(fā)布的規(guī)范主要有Base規(guī)范(適用于芯片和協(xié)議)、CEM規(guī)范(適用于板卡機(jī)械和電氣設(shè)計(jì))、測(cè)試規(guī)范(適用于測(cè)試驗(yàn)證方法)等，目前產(chǎn)業(yè)界正在逐漸商用第5代版本，同時(shí)第6代標(biāo)準(zhǔn)也在制定完善中。由于組織良好的運(yùn)作、的芯片支持、成熟的產(chǎn)業(yè)鏈，PCIe已經(jīng)成為服務(wù)器和個(gè)人計(jì)算機(jī)上成功的高速串行互聯(lián)和I/O擴(kuò)展總線。圖4.1是PCIe總線的典型應(yīng)用場(chǎng)景。PCI-E的信號(hào)測(cè)試中否一定要使用一致性測(cè)試碼型？湖北校準(zhǔn)PCI-E測(cè)試

一種PCIE通道帶寬的測(cè)試方法;北京PCI-E測(cè)試商家

公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)由一群儀器儀表領(lǐng)域內(nèi)具有豐富的經(jīng)驗(yàn)的工程師組成。業(yè)務(wù)范圍覆蓋至實(shí)驗(yàn)室配套，誤碼儀/示波器，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，協(xié)議分析儀等。實(shí)驗(yàn)室配套，誤碼儀/示波器，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，協(xié)議分析儀可分為通用型和專業(yè)型，通用型儀表主要包括工業(yè)自動(dòng)控制系統(tǒng)裝置制造、電工儀器儀表、繪圖、計(jì)算及測(cè)量?jī)x器、實(shí)驗(yàn)分析儀器、試驗(yàn)機(jī)制造、供應(yīng)用儀器儀表、其他通用儀器；針對(duì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制方案策劃、均勻性與穩(wěn)定性實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)、不同定值模式下的技術(shù)要求、新型統(tǒng)計(jì)學(xué)方法與不確定度評(píng)估等方面，給出更為詳細(xì)和完善的規(guī)定。該規(guī)范具有較強(qiáng)的可操作性和技術(shù)指導(dǎo)意義，有利于規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的研制和生產(chǎn)過(guò)程，確保標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)量值的溯源性、準(zhǔn)確性與可靠性。政策助力對(duì)推動(dòng)經(jīng)濟(jì)發(fā)展、促進(jìn)相關(guān)行業(yè)技術(shù)升級(jí)、打破國(guó)外實(shí)驗(yàn)室配套，誤碼儀/示波器，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，協(xié)議分析儀壟斷、提高實(shí)驗(yàn)室配套，誤碼儀/示波器，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，協(xié)議分析儀國(guó)產(chǎn)化率及國(guó)產(chǎn)替代等方面具有重要戰(zhàn)略意義，近年來(lái)我國(guó)密集出臺(tái)涉及儀器儀表行業(yè)及相關(guān)應(yīng)用領(lǐng)域的產(chǎn)業(yè)政策，在政策支持下，我國(guó)本土企業(yè)有望突出重圍。北京PCI-E測(cè)試商家

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