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設(shè)備眼圖測(cè)試調(diào)試

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-05-18

眼圖與性能的關(guān)系眼圖的"眼睛"張開的大小反映著碼間串?dāng)_的強(qiáng)弱。"眼睛"張的越大且眼圖越端正表示碼間串?dāng)_越小;反之表示碼間串?dāng)_越大。當(dāng)存在噪聲時(shí)噪聲將疊加在信號(hào)上觀察到的眼圖的線跡會(huì)變得模糊不清。若同時(shí)存在碼間串?dāng)_"眼睛"將張開得更小。與間串?dāng)_時(shí)的眼圖相比原來清晰端正的細(xì)線跡變成了比較模糊的帶狀線而且不很端正。噪聲越大線跡越寬越模糊;碼間串?dāng)_越大眼圖越不端正。理論分析得到如下幾條結(jié)論在實(shí)際應(yīng)用中要以此為參考從眼圖中對(duì)系統(tǒng)性能作一論述:(1)抽樣時(shí)刻應(yīng)在"眼睛"張開的時(shí)刻。(2)對(duì)定時(shí)誤差的靈敏度可由眼圖斜邊的斜率決定。斜率越大對(duì)定時(shí)誤差就越靈敏。(3)在抽樣時(shí)刻上眼圖上下兩分支陰影區(qū)的垂直高度表示信號(hào)畸變。(4)眼圖的橫軸位置應(yīng)對(duì)應(yīng)判決門限電平。(5)在抽樣時(shí)刻上下兩分支離門限近的一根線跡至門限的距離表示各相應(yīng)電平的噪聲容限噪聲瞬時(shí)值超過它就可能發(fā)生錯(cuò)誤判決。(6)對(duì)于利用信號(hào)過零點(diǎn)取平均來得到定時(shí)信息的接收系統(tǒng)眼圖傾斜分支與橫軸相交的區(qū)域的大小表示零點(diǎn)位置的變動(dòng)范圍這個(gè)變動(dòng)范圍的大小對(duì)提取定時(shí)信息有重要的影響。一種眼圖測(cè)試方法,裝置,電子設(shè)備系統(tǒng)測(cè)試。設(shè)備眼圖測(cè)試調(diào)試

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    原理描述1.眼圖的形成對(duì)于數(shù)字信號(hào),其高電平與低電平的變化可以有多種序列組合。以3個(gè)bit為例,有000~111共8種組合。在時(shí)域上將足夠多的上述序列按某一個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)對(duì)齊,然后將其波形疊加起來,就形成了眼圖。2.傳統(tǒng)眼圖生成方法傳統(tǒng)眼圖生成方法原理簡(jiǎn)單,很適合理解眼圖生成機(jī)制傳統(tǒng)的眼圖生成方法簡(jiǎn)單描述就是“每次觸發(fā)疊加一個(gè)UI”。方法簡(jiǎn)單,但效果并不理想。由于屏幕上的每個(gè)UI信號(hào)波形通過觸發(fā)點(diǎn)對(duì)齊,眼圖通過對(duì)信號(hào)多次觸發(fā)采集后疊加生成。這樣會(huì)導(dǎo)致儀器觸發(fā)電路的抖動(dòng)成分將被引入到眼圖測(cè)量中。導(dǎo)致了測(cè)量不精確。3新的眼圖生成方法新的眼圖方法描述為“同步切割+疊加顯示”。示波器首先捕獲一組連續(xù)比特位的信號(hào),然后用軟件PLL方法恢復(fù)出時(shí)鐘,利用恢復(fù)出的時(shí)鐘和捕獲到的信號(hào)按比特位切割,切割一次,疊加一次,將捕獲到的一組數(shù)據(jù)的每個(gè)比特位都疊加到了眼圖上。 廣東測(cè)量眼圖測(cè)試銷售電話克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室眼高意味噪聲;眼寬意味抖動(dòng)。

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產(chǎn)生抖動(dòng)的原因有很多,常見的一種由于噪聲引起的。

一個(gè)帶噪聲的數(shù)字信號(hào)及其判決。一般我們把數(shù)字信號(hào)超過閾值的狀態(tài)判決為“1”,把低于閾值的狀態(tài)判決為"0",由于信號(hào)的上升沿不是無限陡的,所以噪聲會(huì)引起信號(hào)過閾值點(diǎn)時(shí)刻的左右變化,這就是由噪聲引起的信號(hào)抖動(dòng)。由于噪聲是隨機(jī)的、無界的,因此造成的隨機(jī)抖動(dòng)也是隨機(jī)的、無界的、也就是說理論上隨著樣本數(shù)的增加隨機(jī)抖動(dòng)的峰峰值是無窮大,所以通常用隨機(jī)抖動(dòng)的RMS值而不是峰峰值來衡量隨機(jī)抖動(dòng)的大小。理想的隨機(jī)抖動(dòng)應(yīng)該是一個(gè)高斯分布,所以有時(shí)候也會(huì)根據(jù)系統(tǒng)誤碼率的要求,對(duì)隨機(jī)抖動(dòng)的RMS值乘以一個(gè)系數(shù),再和確定性抖動(dòng)一起計(jì)算系統(tǒng)的總體抖動(dòng)。隨機(jī)抖動(dòng)的大小取決于系統(tǒng)的噪聲,和發(fā)送的碼型無關(guān),因此早期在沒有專門的抖動(dòng)分解軟件時(shí),是讓被測(cè)件產(chǎn)生一個(gè)周期性的0101的碼型來進(jìn)行隨機(jī)抖動(dòng)的測(cè)試。

由于眼圖是用一張圖形就完整地表征了串行信號(hào)的比特位信息,所以成為了衡量信號(hào)質(zhì)量的重要工具,眼圖測(cè)量有時(shí)侯就叫“信號(hào)質(zhì)量測(cè)試”。此外,眼圖測(cè)量的結(jié)果是合格還是不合格,其判斷依據(jù)通常是相對(duì)于“模板(Mask)”而言的。模板規(guī)定了串行信號(hào)“1”電平的容限,“0”電平的容限,上升時(shí)間、下降時(shí)間的容限。所以眼圖測(cè)量有時(shí)侯又被稱為“模板測(cè)試(MaskTest)”。模板的形狀也各種各樣,通常的NRZ信號(hào)的模板如圖五和圖八藍(lán)色部分所示。在串行數(shù)據(jù)傳輸?shù)牟煌?jié)點(diǎn),眼圖的模板是不一樣的,所以在選擇模板時(shí)要注意具體的子模板類型。如果用發(fā)送端的模板來作為接收端眼圖模板,可能會(huì)一直碰模板。但象以太網(wǎng)信號(hào)、E1/T1的信號(hào),不是NRZ碼形,其模板比較特別。當(dāng)有比特位碰到模板時(shí),我們就認(rèn)為信號(hào)質(zhì)量不好,需要調(diào)試電路。有的產(chǎn)品要求100%不能碰模板,有的產(chǎn)品是允許碰模板的次數(shù)在一定的概率以內(nèi)。示波器中有測(cè)量參數(shù)可自動(dòng)統(tǒng)計(jì)出碰到模板的次數(shù)。此外,根據(jù)“侵犯”模板的位置就能知道信號(hào)的哪方面有問題從而指導(dǎo)調(diào)試。如圖九表明信號(hào)的問題主要是下降沿太緩,圖十表明1電平和0電平有“塌陷”,可能是ISI問題導(dǎo)致的。如何幫自己的產(chǎn)品測(cè)試眼圖。

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 DDR眼圖測(cè)試1-3

在早期設(shè)計(jì)階段,如何完整評(píng)價(jià)DDR信號(hào)質(zhì)量和時(shí)序等參數(shù)呢,這里為大家介紹一個(gè)設(shè)計(jì)到驗(yàn)證的流程。ADS提供了W2351EPDDR4一致性分析工具,在ADS仿真后,生成波形可以直接導(dǎo)入到運(yùn)行于電腦里的示波器離線分析軟件Infiniium和N6462ADDR4/LPDDR4一致性測(cè)試套件,這個(gè)軟件可以分析前面所說的JEDEC對(duì)DDR4信號(hào)要求的電氣和時(shí)序等參數(shù),判斷是否符合規(guī)范要求,以測(cè)試報(bào)告形式呈現(xiàn),這種方式可以在設(shè)計(jì)階段發(fā)現(xiàn)違規(guī)問題,及時(shí)改進(jìn)設(shè)計(jì),縮短研發(fā)周期,降低硬件開發(fā)成本。另一方面,在硬件已經(jīng)打板回來,可以通過V系列等示波器測(cè)試信號(hào),通過實(shí)際的信號(hào)檢查存在的問題,將仿真的結(jié)果和實(shí)際測(cè)試的結(jié)果做相關(guān)對(duì)比,進(jìn)一步迭代優(yōu)化仿真模型和測(cè)量方法,使仿真和測(cè)試結(jié)果逐漸逼近。 眼圖參數(shù)有很多,如眼高、眼寬、眼幅度、眼交叉比、“1”電平,“0”電平,消光比,Q因子,平均功率等。山西機(jī)械眼圖測(cè)試

眼圖測(cè)試系統(tǒng)的參數(shù)和含義?設(shè)備眼圖測(cè)試調(diào)試

DDR眼圖測(cè)試1-4

DDR4 做測(cè)試時(shí),由于 BGA 信號(hào)難以探測(cè),是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer,將 BGA 下方的信號(hào)引到 Interposer ,方便探頭焊接,為了減少 Interposer 對(duì)信號(hào)帶來影響,在 interposer 內(nèi)專門有埋阻設(shè)計(jì),減少由于分支和走線帶來的阻抗不連續(xù)和對(duì)信號(hào)的負(fù)載效應(yīng);但為了精確測(cè)量,我們需要對(duì) BGA Interposer 帶來的誤差進(jìn)行修正??梢酝ㄟ^ InfiniiSim 或在 DDR4 一致性測(cè)試軟件N6462A 內(nèi)進(jìn)行去嵌,在軟件內(nèi)使用多端口拓?fù)淠P?,載入 Interposer 的S 參數(shù),生成從探頭測(cè)試點(diǎn)到 BGA 焊球位置的去嵌傳遞函數(shù),在示波器中測(cè)得去嵌后的波形,下圖可以看到去嵌后信號(hào)眼圖的改善。 設(shè)備眼圖測(cè)試調(diào)試

深圳市力恩科技有限公司一直專注于一般經(jīng)營(yíng)項(xiàng)目是:儀器儀表的研發(fā)、租賃、銷售、上門維修;物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品的研發(fā)及銷售;無源射頻產(chǎn)品的研發(fā)及銷售;電子產(chǎn)品及電子元器件的銷售;儀器儀表、物聯(lián)網(wǎng)、無源射頻產(chǎn)品的相關(guān)技術(shù)咨詢;軟件的研發(fā)以及銷售,軟件技術(shù)咨詢服務(wù)等。,是一家儀器儀表的企業(yè),擁有自己**的技術(shù)體系。一批專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì),是實(shí)現(xiàn)企業(yè)戰(zhàn)略目標(biāo)的基礎(chǔ),是企業(yè)持續(xù)發(fā)展的動(dòng)力。公司業(yè)務(wù)范圍主要包括:實(shí)驗(yàn)室配套,誤碼儀/示波器,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,協(xié)議分析儀等。公司奉行顧客至上、質(zhì)量為本的經(jīng)營(yíng)宗旨,深受客戶好評(píng)。公司深耕實(shí)驗(yàn)室配套,誤碼儀/示波器,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,協(xié)議分析儀,正積蓄著更大的能量,向更廣闊的空間、更寬泛的領(lǐng)域拓展。