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遼寧信號完整性測試DDR一致性測試

來源: 發(fā)布時間:2023-07-23

如果PCB的密度較高,有可能期望測量的引腳附近根本找不到合適的過孔(比如采用雙面BGA貼裝或采用盲埋孔的PCB設(shè)計時),這時就需要有合適的手段把關(guān)心的BGA引腳上的信號盡可能無失真地引出來。為了解決這種探測的難題,可以使用一種專門的BGAInterposer(BGA芯片轉(zhuǎn)接板,有時也稱為BGA探頭)。這是一個專門設(shè)計的適配器,使用時要把適配器焊接在DDR的內(nèi)存顆粒和PCB板中間,并通過轉(zhuǎn)接板周邊的焊盤把被測信號引出。BGA轉(zhuǎn)接板內(nèi)部有專門的埋阻電路設(shè)計,以盡可能減小信號分叉對信號的影響。一個DDR的BGA探頭的典型使用場景。DDR3信號質(zhì)量測試,信號一致性測試。遼寧信號完整性測試DDR一致性測試

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以上只是 一 些進(jìn)行DDR讀/寫信號分離的常用方法,根據(jù)不同的信號情況可以做選 擇。對于DDR信號的 一 致性測試來說,用戶還可以選擇另外的方法,比如根據(jù)建立/保持 時間的不同進(jìn)行分離或者基于CA信號突發(fā)時延的方法(CA高接下來對應(yīng)讀操作,CA低 接下來對應(yīng)寫操作)等,甚至未來有可能采用一些機器學(xué)習(xí)(Machine Learning)的方法對 讀/寫信號進(jìn)行判別。讀時序和寫時序波形分離出來以后,就可以方便地進(jìn)行波形參數(shù)或者 眼圖模板的測量。

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室 天津DDR一致性測試一致性測試DDR眼圖讀寫分離的傳統(tǒng)方法。

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由于讀/寫時序不一樣造成的另一個問題是眼圖的測量。在DDR3及之前的規(guī)范中沒 有要求進(jìn)行眼圖測試,但是很多時候眼圖測試是一種快速、直觀衡量信號質(zhì)量的方法,所以 許多用戶希望通過眼圖來評估信號質(zhì)量。而對于DDR4的信號來說,由于時間和幅度的余量更小,必須考慮隨機抖動和隨機噪聲帶來的誤碼率的影響,而不是做簡單的建立/保  持時間的測量。因此在DDR4的測試要求中,就需要像很多高速串行總線一樣對信號疊加  生成眼圖,并根據(jù)誤碼率要求進(jìn)行隨機成分的外推,然后與要求的小信號張開窗口(類似  模板)進(jìn)行比較。圖5 . 8是DDR4規(guī)范中建議的眼圖張開窗口的測量方法(參考資料: JEDEC     STANDARD    DDR4     SDRAM,JESD79-4)。

DDR 規(guī)范的 DC 和 AC 特性

對于任何一種接口規(guī)范的設(shè)計,首先要搞清楚系統(tǒng)中傳輸?shù)氖鞘裁礃拥男盘?,也就是?qū)動器能發(fā)出什么樣的信號,接收器能接受和判別什么樣的信號,用術(shù)語講,就是信號的DC和AC特性要求。

在DDR規(guī)范文件JEDEC79R的第51頁[TABLE6:ELECTRICALCHARACTERISTICSANDDCOPERATINGCONDITIONS]中對DDR的DC有明確要求:VCC=+2.5V+0.2V,Vref=+1.25V±0.05V,VTT=Vref±0.04V.

在我們的實際設(shè)計中,除了要精確設(shè)計供電電源模塊之外,還需要對整個電源系統(tǒng)進(jìn)行PI仿真,而這是高速系統(tǒng)設(shè)計中另一個需要考慮的問題,在這里我們先不討論它,暫時認(rèn)為系統(tǒng)能夠提供穩(wěn)定的供電電源。

除DC特性外,我們還應(yīng)該注意規(guī)范中提到的AC特性,所謂AC特性,就是信號在高速利轉(zhuǎn)狀態(tài)下所表現(xiàn)出的動態(tài)變化特性。DDR規(guī)范中第60頁,對外于云態(tài)變化的地址信號、控制信號及數(shù)據(jù)信號分別給出了交流特性的要求。為方便讀者,現(xiàn)把規(guī)范中對干信號交流特性的要求復(fù)制到這里,作為高速系統(tǒng)設(shè)計的一部分,要確保在我們的系統(tǒng)中,所有處于高速工作狀態(tài)下的DDR信號要符合這個AC特性規(guī)范。 DDR4 總線物理層仿真測試和協(xié)議層的測試方案;

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測試軟件運行后,示波器會自動設(shè)置時基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進(jìn)行測量并匯總成一 個測試報告,測試報告中列出了測試的項目、是否通過、spec的要求、實測值、margin等。 自動測試軟件進(jìn)行DDR4眼圖睜開度測量的一個例子。信號質(zhì)量的測試還可以  輔 助 用 戶 進(jìn) 行 內(nèi) 存 參 數(shù) 的 配 置 , 比 如 高 速 的 D D R 芯 片 都 提 供 有 O D T ( O n D i e Termination)的功能,用戶可以通過軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻,并分析對信號質(zhì) 量的影響。

除了一致性測試以外,DDR測試軟件還可以支持調(diào)試功能。比如在某個關(guān)鍵參數(shù)測試 失敗后,可以針對這個參數(shù)進(jìn)行Debug。此時,測試軟件會捕獲、存儲一段時間的波形并進(jìn) 行參數(shù)統(tǒng)計,根據(jù)統(tǒng)計結(jié)果可以查找到參數(shù)違規(guī)時對應(yīng)的波形位置, 擴(kuò)展 DDR5 發(fā)射機合規(guī)性測試軟件的功能。上海DDR一致性測試項目

DDR時鐘總線的一致性測試。遼寧信號完整性測試DDR一致性測試

相關(guān)器件的應(yīng)用手冊,ApplicationNote:在這個文檔中,廠家一般會提出一些設(shè)計建議,甚至參考設(shè)計,有時該文檔也會作為器件手冊的一部分出現(xiàn)在器件手冊文檔中。但是在資料的搜集和準(zhǔn)備中,要注意這些信息是否齊備。

參考設(shè)計,ReferenceDesiqn:對于比較復(fù)雜的器件,廠商一般會提供一些參考設(shè)計,以幫助使用者盡快實現(xiàn)解決方案。有些廠商甚至?xí)苯犹峁┰韴D,用戶可以根據(jù)自己的需求進(jìn)行更改。

IBIS 文件:這個對高速設(shè)計而言是必需的,獲得的方法前面已經(jīng)講過。 遼寧信號完整性測試DDR一致性測試

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