基于x射線(xiàn)斷層照相的原位加載裝置:斷層照相是一種從觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù)來(lái)反演物理模型的計(jì)算方法,在反演變換中要用到復(fù)雜的數(shù)學(xué)計(jì)算,因?yàn)檫@種變換只能采用計(jì)算機(jī)來(lái)完成,所以一般稱(chēng)為計(jì)算機(jī)斷層。X射線(xiàn)斷層照相就是利用X射線(xiàn)穿透各種材料并被部分吸收后,在檢測(cè)器所得到的射線(xiàn)強(qiáng)度信號(hào),在經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理計(jì)算得到斷層像。X射線(xiàn)斷層照相具有原位觀(guān)測(cè),斷層成像,三維視角的優(yōu)點(diǎn),所以在材料三維微細(xì)觀(guān)結(jié)構(gòu)表征領(lǐng)域有光明的應(yīng)用前景。掃描電鏡原位解決方案將掃描電鏡、原位樣品臺(tái)、ebsd和eds控制軟件深度整合。北京Psylotech原位加載系統(tǒng)哪里能買(mǎi)到
原位加載設(shè)備的應(yīng)用:國(guó)內(nèi)外原位拉伸裝置的研究進(jìn)展,并系統(tǒng)的分析了原位拉伸裝置設(shè)計(jì)中的重點(diǎn)及問(wèn)題。原位加載裝置設(shè)計(jì)過(guò)程包含:1.機(jī)械設(shè)計(jì)部分:基于掃描電鏡電子背散射衍射的分析方法,設(shè)計(jì)了可用于基于SEM微觀(guān)形貌分析、EBSD晶粒取向分析的原位加載裝置。對(duì)于掃描電鏡,原位力學(xué)加載裝置一般是放在檢測(cè)儀器的艙室內(nèi),因此需要具有尺寸小巧,結(jié)構(gòu)緊湊的特點(diǎn)。2.力學(xué)模擬部分:基于力學(xué)加載裝置的拉伸/壓縮載荷范圍對(duì)裝置的整體框架、關(guān)鍵受力零件、絲杠進(jìn)行受力分析及模擬。修正機(jī)械設(shè)計(jì)部分設(shè)計(jì)誤差,并進(jìn)行優(yōu)化,使整體機(jī)械設(shè)計(jì)法案合適。北京Psylotech原位加載系統(tǒng)哪里能買(mǎi)到原位加載設(shè)備一些特殊的應(yīng)用,樣品需要放置在特殊的模擬環(huán)境中進(jìn)行檢測(cè)。
掃描電子顯微鏡工作原理:光柵掃描,逐點(diǎn)成像:電子設(shè)備發(fā)射電子束,電壓加速、磁透鏡系統(tǒng)匯聚,形成直徑約5nm的電子束。電子束在偏轉(zhuǎn)線(xiàn)圈的作用下,在樣品上做光柵狀掃描,激發(fā)多種電子信號(hào)。探測(cè)器收集電子信號(hào),經(jīng)過(guò)電信號(hào)放大器加以放大處理,在顯示系統(tǒng)上成像。二次電子的圖像信號(hào)動(dòng)態(tài)地形成三維圖像。組成部分:電子光學(xué)系統(tǒng):組成:電子設(shè)備、電磁透鏡、掃描線(xiàn)圈和樣品室等部件。作用:獲得掃描電子束、作為產(chǎn)生物理信號(hào)的激發(fā)源。
掃描電鏡原位加載技術(shù)及其進(jìn)展:在掃描電鏡中組裝具有拉伸、壓縮、彎曲、剪切等功能的附加加載裝置后,可以將加載作用與對(duì)材料表面結(jié)構(gòu)的顯微觀(guān)測(cè)研究結(jié)合起來(lái),甚至與材料的宏觀(guān)力學(xué)性能研究相結(jié)合,從而為研究影響材料力學(xué)性能的關(guān)鍵因素提供有力支撐。從上世紀(jì)60年代末期開(kāi)始,原位加載掃描電鏡技術(shù)逐漸成為材料性能研究中的一種重要技術(shù),從而獲得了大范圍的應(yīng)用,其中以原位拉伸試驗(yàn)應(yīng)用較多。在掃描電鏡內(nèi)對(duì)環(huán)氧樹(shù)脂CT試樣加載,觀(guān)察分析了裂尖場(chǎng)材料的微觀(guān)力學(xué)行為,結(jié)果表明,低速加載時(shí),裂紋的擴(kuò)展是不連續(xù)的,擴(kuò)展的模式為裂尖張開(kāi)、鈍化和向前擴(kuò)。裂尖應(yīng)力應(yīng)變場(chǎng)內(nèi)的應(yīng)變不均勻,在裂尖的正前方和與裂面成35°~40°角處出現(xiàn)高應(yīng)變區(qū),微損傷在該區(qū)域萌生的發(fā)展,從而增加材料的裂紋擴(kuò)展抗力。原位加載裝置基于掃描電鏡電子背散射衍射的分析方法。
掃描電鏡原位加載設(shè)備的相關(guān)知識(shí)點(diǎn):1、熱游離方式電子設(shè)備有鎢(W)燈絲及六硼化鑭(LaB6)燈絲兩種,它是利用高溫使電子具有足夠的能量去克服電子設(shè)備材料的功函數(shù)(workfunction)能障而逃離。對(duì)發(fā)射電流密度有重大影響的變量是溫度和功函數(shù),但因操作電子設(shè)備時(shí)均希望能以較低的溫度來(lái)操作,以減少材料的揮發(fā),所以在操作溫度不提高的狀況下,就需采用低功函數(shù)的材料來(lái)提高發(fā)射電流密度。2、電子設(shè)備的必要特性是亮度要高、電子能量散布(EnergySpread)要小,目前常用的種類(lèi)計(jì)有三種,鎢(W)燈絲、六硼化鑭(LaB6)燈絲、場(chǎng)發(fā)射(FieldEmission),不同的燈絲在電子源大小、電流量、電流穩(wěn)定度及電子源壽命等均有差異。雙相鋼原位拉伸試驗(yàn),針對(duì)不同的應(yīng)變點(diǎn)對(duì)雙相鋼進(jìn)行SEM實(shí)時(shí)觀(guān)測(cè)。北京Psylotech原位加載系統(tǒng)哪里能買(mǎi)到
SEM原位加載實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的應(yīng)用范圍,對(duì)材料力學(xué)性能研究的貢獻(xiàn)也有限。北京Psylotech原位加載系統(tǒng)哪里能買(mǎi)到
原位加載掃描電鏡技術(shù)與運(yùn)用:細(xì)觀(guān)實(shí)驗(yàn)觀(guān)測(cè)技術(shù)是材料細(xì)觀(guān)力學(xué)性能研究中的重要手段。由于具有高分辨率、高放大倍數(shù)、長(zhǎng)景深和對(duì)樣品處理的要求簡(jiǎn)單等特點(diǎn),使得掃描電鏡在細(xì)觀(guān)實(shí)驗(yàn)力學(xué)研究領(lǐng)域占有重要的地位,尤其是與原位加載附件配合后,就可實(shí)現(xiàn)材料動(dòng)態(tài)破壞過(guò)程細(xì)觀(guān)結(jié)構(gòu)的原位觀(guān)察技術(shù),對(duì)各種材料從各個(gè)截面的表面觀(guān)察和分析增強(qiáng)體、基體的界面形貌及損傷破壞過(guò)程,以及它們對(duì)宏觀(guān)力學(xué)性能的影響,進(jìn)而研究細(xì)、微觀(guān)區(qū)域內(nèi)的許多問(wèn)題,從而為評(píng)估和改善材料各細(xì)觀(guān)與微觀(guān)結(jié)構(gòu)的性能,建立細(xì)觀(guān)力學(xué)模型提供依據(jù)。北京Psylotech原位加載系統(tǒng)哪里能買(mǎi)到
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