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四川SEM原位加載系統(tǒng)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-09-02

掃描電子顯微鏡的應(yīng)用:1、掃描電鏡觀(guān)察納米材料:所謂納米材料就是指組成材料的顆?;蛭⒕С叽缭?.1-100nm范圍內(nèi),掃描電鏡的一個(gè)重要特點(diǎn)就是具有很高的分辨率?,F(xiàn)已大范圍的用于觀(guān)察納米材料。2、掃描電鏡觀(guān)察材料斷口:掃描電鏡所顯示的斷口形貌從深層次,高景深的角度呈現(xiàn)材料斷裂的本質(zhì),在教學(xué)、科研和生產(chǎn)中,有不可替代的作用,在材料斷裂原因的分析、事故原因的分析已經(jīng)工藝合理性的判定等方面是一個(gè)強(qiáng)有力的手段。3、掃描電鏡觀(guān)察厚試樣:掃描電鏡在觀(guān)察厚試樣時(shí),能得到高的分辨率和很真實(shí)的形貌。利用原位拉伸掃描電鏡研究了新型環(huán)氧樹(shù)脂復(fù)合材料在拉伸與剪切等作用下的細(xì)觀(guān)損傷過(guò)程。四川SEM原位加載系統(tǒng)

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基于x射線(xiàn)斷層照相的原位加載裝置:采用荷載力承受在內(nèi)部的自洽裝置是一種合適的選擇,同時(shí)該裝置需要使用讓X射線(xiàn)盡量通過(guò)的窗口材料,考慮到斷層照相一般需要旋轉(zhuǎn)180度或360度,X射線(xiàn)窗口材料將不可避免的成為承力結(jié)構(gòu),因而選擇合適的窗口材料以及對(duì)其進(jìn)行合理的固定、連接成為技術(shù)難題。鑒于此,本發(fā)明選擇對(duì)X射線(xiàn)衰減小且具有優(yōu)良力學(xué)性能的碳纖維增強(qiáng)塑料作為窗口材料,利用側(cè)向緊固螺栓加壓和固定銷(xiāo)固定的雙重固定方法,解決了光滑的碳纖維增強(qiáng)塑料棒與金屬間的固定問(wèn)題,開(kāi)發(fā)了專(zhuān)門(mén)應(yīng)用于X射線(xiàn)斷層照相的原位加載裝置。該裝置是一個(gè)單獨(dú)于X射線(xiàn)斷層照相設(shè)備的自洽機(jī)構(gòu),即荷載只作用在裝置內(nèi)部,不作用在樣品臺(tái)上。浙江掃描電鏡原位加載系統(tǒng)哪里有賣(mài)CT原位加載系統(tǒng)由液壓油通過(guò)活塞對(duì)試樣施加載荷,或者直接對(duì)試樣施加圍壓載荷。

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數(shù)字圖像分析技術(shù)在掃描電鏡原位加載技術(shù)中的應(yīng)用:目前,基于分形幾何、非平衡統(tǒng)計(jì)力學(xué)和原位加載掃描電鏡的實(shí)驗(yàn)研究方法,對(duì)巖石、合金、混凝土復(fù)合材料、陶瓷復(fù)合材料等,建立微觀(guān)斷裂過(guò)程的系列分形模型,從微觀(guān)和宏觀(guān)上解釋裂紋發(fā)展擴(kuò)張的物理機(jī)理,發(fā)現(xiàn)影響材料力學(xué)性能的關(guān)鍵因素,取得了大批重要研究成果在通過(guò)原位拉伸掃描電鏡對(duì)固體推進(jìn)劑的細(xì)觀(guān)損傷破壞過(guò)程進(jìn)行定型研究基礎(chǔ)上,基于數(shù)字圖像分析技術(shù)對(duì)材料原位拉伸破壞過(guò)程的圖像進(jìn)行灰度轉(zhuǎn)換-邊界提取-黑白二值圖轉(zhuǎn)換等處理,進(jìn)一步地通過(guò)對(duì)破壞過(guò)程裂紋表面分形模型的構(gòu)建,將固體推進(jìn)劑的細(xì)觀(guān)損傷破壞過(guò)程實(shí)現(xiàn)了定量化的分析。

原位加載掃描電鏡技術(shù)與運(yùn)用:材料的力學(xué)性能是其諸多性能中的關(guān)鍵性能之一,對(duì)于材料獲得大范圍的應(yīng)用具有重要意義。因此,對(duì)材料的力學(xué)性能進(jìn)行研究,尋求提高材料力學(xué)性能的途徑,成為材料科學(xué)研究中的重要工作。但目前對(duì)材料性能的研究多是基于宏觀(guān)的試驗(yàn)研究,測(cè)試結(jié)果雖與材料的應(yīng)用效果緊密相關(guān),但這種方法難以為提高材料的力學(xué)性能提供直接的機(jī)理支撐。細(xì)觀(guān)力學(xué)的研究方法從介于宏觀(guān)與微觀(guān)之間的尺度對(duì)影響材料的力學(xué)性能因素進(jìn)行分析與研究,是近年來(lái)材料力學(xué)性能研究的熱點(diǎn)領(lǐng)域。原位加載設(shè)備是專(zhuān)門(mén)為X射線(xiàn)CT設(shè)備定制設(shè)計(jì)的緊湊型測(cè)試系統(tǒng)。

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uTS原位加載系統(tǒng):光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合,可以滿(mǎn)足納米級(jí)精度測(cè)量需求。光學(xué)顯微鏡受可見(jiàn)光波長(zhǎng)限制分辨率只能達(dá)到250nm,由于DIC技術(shù)具有強(qiáng)大圖像處理能力可以準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)0.1像素位移測(cè)量,因此uTS顯微測(cè)試系統(tǒng)的分辨率可達(dá)到25nm。在光學(xué)顯微鏡下材料的原位加載實(shí)驗(yàn)中,較大挑戰(zhàn)在于加載過(guò)程產(chǎn)生的離面位移,高分辨率位移場(chǎng)需要高放大倍數(shù)顯微鏡,意味著景深很小,幾微米的離面位移就會(huì)造成顯微鏡失焦。uTS顯微測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)離面位移有特殊的設(shè)計(jì),有效地控制了離面位移對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果影響。電鏡原位實(shí)驗(yàn)從來(lái)都不是一個(gè)簡(jiǎn)單的工作,有的時(shí)候甚至還需要一些運(yùn)氣。浙江掃描電鏡原位加載系統(tǒng)哪里有賣(mài)

原位加載設(shè)備系統(tǒng)搭配顯微觀(guān)測(cè)設(shè)備,實(shí)現(xiàn)微觀(guān)組織在線(xiàn)觀(guān)測(cè)。四川SEM原位加載系統(tǒng)

掃描電鏡原位加載設(shè)備:特點(diǎn):制樣簡(jiǎn)單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大、保真度高、有真實(shí)的三維效應(yīng)等,對(duì)于導(dǎo)電材料,可直接放入樣品室進(jìn)行分析,對(duì)于導(dǎo)電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導(dǎo)電層?;窘Y(jié)構(gòu):掃描電鏡主要由七大系統(tǒng)組成,即電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)探測(cè)處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)。其中很重要的三個(gè)系統(tǒng)是電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)探測(cè)處理和顯示系統(tǒng)以及真空系統(tǒng)。四川SEM原位加載系統(tǒng)

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