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北京uTS原位加載試驗(yàn)機(jī)哪里有

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-03-29

掃描電子顯微鏡的應(yīng)用:1、掃描電鏡觀察生物試樣:由于電子照射面發(fā)生試樣的損傷和污染程度很小,這一點(diǎn)對(duì)觀察一些生物試樣特別重要。2、掃描電鏡進(jìn)行動(dòng)態(tài)觀察:在樣品室內(nèi)裝有加熱、冷卻、彎曲、拉伸和離子刻蝕等附件,則可以通過電視裝置,觀察相變、斷烈等動(dòng)態(tài)的變化過程。3、掃描電鏡觀察試樣表面形貌:掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進(jìn)行成分和元素的分析,以及通過電子通道花樣進(jìn)行結(jié)晶學(xué)分析,選區(qū)尺寸可以從10μm到3μm。SEM原位加載實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的應(yīng)用范圍,對(duì)材料力學(xué)性能研究的貢獻(xiàn)也有限。北京uTS原位加載試驗(yàn)機(jī)哪里有

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掃描電鏡原位加載設(shè)備的相關(guān)知識(shí)點(diǎn):SEM樣品若為金屬或?qū)щ娦粤己茫瑒t表面不需任何處理,可直接觀察。若為非導(dǎo)體,則需鍍上一層金屬膜或碳膜協(xié)助樣品導(dǎo)電,膜層應(yīng)均勻無明顯特征,以避免干擾樣品表面。金屬膜較碳膜容易鍍,適用于SEM影像觀察,通常為Au或Au-Pd合金或Pt。而碳膜較適于X光微區(qū)分析,主要是因?yàn)樘嫉脑有虻?,可以減少X光吸收。適當(dāng)?shù)墓ぷ骶嚯x的選擇,可以得到很好的影像。較短的工作距離,電子訊號(hào)接收較佳,可以得到較高的分辨率,但是景深縮短。北京SEM原位加載設(shè)備哪家好CT原位加載設(shè)備特點(diǎn)有采用閉環(huán)控制,實(shí)現(xiàn)高精度力學(xué)控制。

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CT原位加載系統(tǒng):由液壓油通過活塞對(duì)試樣施加載荷,或者直接對(duì)試樣施加圍壓載荷。加載同時(shí)X射線照射罐體中試樣,得到試樣CT掃描圖像。為得到不同角度的CT掃描圖像,加載裝置在加載同時(shí)緩慢轉(zhuǎn)動(dòng)。如果加載過程中信號(hào)采用有線形式傳輸,在加載過程中會(huì)出現(xiàn)導(dǎo)線纏繞的問題,跨過罐體上下端的導(dǎo)線還會(huì)影響CT掃描圖像的效果,因此系統(tǒng)方案設(shè)計(jì)中考慮信號(hào)的傳輸采用無線傳輸形式。另外,為防止射線泄露,工業(yè)CT主機(jī)放置在用硫酸鋇磚砌成的CT屏蔽室內(nèi),因而無線信號(hào)也無法穿透墻體,到達(dá)隔壁的CT監(jiān)控室。鑒于以上特殊情況,設(shè)計(jì)了如圖1所示的系統(tǒng)方案。整個(gè)系統(tǒng)由安裝在加載裝置上的下位機(jī)、放置于CT屏蔽室的無線路由器、放置于CT監(jiān)控室的PC上位機(jī)三部分組成。

原位加載設(shè)備的應(yīng)用:1.電路設(shè)計(jì)部分:基于掃描電鏡的表征分析方法,實(shí)現(xiàn)合適的電路設(shè)計(jì)方法,并針對(duì)傳感器的選型方案,進(jìn)行電路仿真和濾波處理。2.通訊軟件開發(fā):針對(duì)實(shí)驗(yàn)需求,開發(fā)一種簡(jiǎn)單易操作的通訊軟件,對(duì)材料加載的過程進(jìn)行操作控制,并實(shí)時(shí)收集微觀形貌圖像和晶體學(xué)數(shù)據(jù)。3.原位加載裝置的可靠性及重復(fù)性測(cè)試,利用實(shí)驗(yàn)室已有的instron-5944試驗(yàn)機(jī)對(duì)材料進(jìn)行拉伸測(cè)試獲得應(yīng)力-應(yīng)變曲線測(cè)試,并與原位拉伸裝置的應(yīng)力應(yīng)變曲線進(jìn)行對(duì)比。模擬掃描電鏡下的真空環(huán)境,對(duì)已經(jīng)搭建好的原位加載裝置進(jìn)行可靠性測(cè)試,從而判斷能否在高真空環(huán)境下正常工作。4.雙相鋼原位拉伸試驗(yàn),針對(duì)不同的應(yīng)變點(diǎn)對(duì)雙相鋼進(jìn)行SEM實(shí)時(shí)觀測(cè),并進(jìn)行EBSD分析,從而驗(yàn)證原位加載裝置的可適用性。uTS原位加載系統(tǒng)是光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合。

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掃描電鏡原位加載設(shè)備的相關(guān)知識(shí)點(diǎn):1.光學(xué)顯微鏡以可見光為介質(zhì),電子顯微鏡以電子束為介質(zhì),由于電子束波長(zhǎng)遠(yuǎn)較可見光小,故電子顯微鏡分辨率遠(yuǎn)比光學(xué)顯微鏡高。光學(xué)顯微鏡放大倍率較高只有約1500倍,掃描式顯微鏡可放大到10000倍以上。2.根據(jù)deBroglie波動(dòng)理論,電子的波長(zhǎng)單與加速電壓有關(guān)。3.掃描式顯微鏡有一重要特色是具有超大的景深(depthoffield),約為光學(xué)顯微鏡的300倍,使得掃描式顯微鏡比光學(xué)顯微鏡更適合觀察表面起伏程度較大的樣品。原位加載試驗(yàn)機(jī)是配合光學(xué)顯微鏡、X射線衍射儀等微觀觀測(cè)設(shè)備。江西原位加載系統(tǒng)哪里有賣

掃描電鏡原位解決方案將掃描電鏡、原位樣品臺(tái)、ebsd和eds控制軟件深度整合。北京uTS原位加載試驗(yàn)機(jī)哪里有

工業(yè)CT在各種環(huán)境條件下的原位掃描:工業(yè)CT是材料無損檢測(cè)的方法之一,可用于各種樣品內(nèi)部和外部復(fù)雜結(jié)構(gòu)的觀察、分析和測(cè)量等,并越來越被大范圍使用。一些特殊的應(yīng)用,樣品需要放置在特殊的模擬環(huán)境中進(jìn)行檢測(cè),因此需要將特殊的環(huán)境模擬裝置與檢測(cè)設(shè)備相結(jié)合。對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量控制、長(zhǎng)期儲(chǔ)存、老化試驗(yàn)和可靠性試驗(yàn)等,這種原位掃描可以提供更準(zhǔn)確、可靠的信息,便于提高產(chǎn)品質(zhì)量和客戶使用的安全性。將工業(yè)CT掃描裝置和環(huán)境模擬裝置有機(jī)結(jié)合在了一起,實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品的原位、無損檢測(cè)和分析。北京uTS原位加載試驗(yàn)機(jī)哪里有

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