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手持式礦石分析儀的基本原理及應(yīng)用領(lǐng)域

一、基本原理概述

手持式礦石分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以激發(fā)樣品中對(duì)應(yīng)元素原子的內(nèi)層電子，并出現(xiàn)殼層空穴，此時(shí)原子處于不穩(wěn)定狀態(tài)，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線，原子恢復(fù)穩(wěn)態(tài)。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特征信息。 贏洲科技是奧林巴斯（Olympus）中國區(qū)授權(quán)一級(jí)代理商。便攜式X射線熒光地質(zhì)錄井勘探成分分析儀

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物探化探勘查、地質(zhì)構(gòu)造勘查、鉆探勘查、航空磁力重力勘查。

主要有坑、槽探、鉆探、地球物理勘探等方法。

坑、槽探

就是用人工或機(jī)械方式進(jìn)行挖掘坑、槽、井、洞。以便直接觀察巖土層的天然狀態(tài)以及各地層的地質(zhì)結(jié)構(gòu)，并能取出接近實(shí)際的原狀結(jié)構(gòu)土樣。

鉆探

是指用鉆機(jī)在地層中鉆孔，以鑒別和劃分地表下地層，并可以沿孔深取樣的一種勘探方法。鉆探是工程地質(zhì)勘察中應(yīng)用為的一種勘探手段，它可以獲得深層的地質(zhì)資料。 便攜式X射線熒光地質(zhì)錄井勘探成分分析儀贏洲科技多年來公司主營行業(yè)包括：飛機(jī)制造。

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工業(yè)品位:是指達(dá)到工業(yè)要求的比較低品位.就是冶煉的比較低要求.是計(jì)算礦體采礦成本的基本含量.也就是一噸礦石中的含量的百分比。

一級(jí)邊界品位:含量次于工業(yè)品位.是指在開采過程中.可以考慮一起開采的礦體。

二級(jí)邊界品位:是指含量又少于一級(jí)邊界品位.屬于遠(yuǎn)景儲(chǔ)量.在冶煉技術(shù)方面提高的基礎(chǔ)上.也可以考慮開采。

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總之，這項(xiàng)研究表明使用奧林巴斯Vanta便攜式XRF分析儀可以在現(xiàn)場(chǎng)迅速完成地球化學(xué)測(cè)繪工作，從而可以大幅提升投資回報(bào)價(jià)值，并加速檢測(cè)項(xiàng)目的進(jìn)程。在進(jìn)行研究項(xiàng)目的整個(gè)過程中，我們發(fā)現(xiàn)除了可以使用更少的成本獲得檢測(cè)結(jié)果之外，還可以提**分之二的時(shí)間交付結(jié)果，從而避免了多等一個(gè)月的時(shí)間。 贏洲科技多年來公司主營行業(yè)包括：鍋爐壓力容器。

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礦石分析儀元素分析范圍：從12號(hào)元素鎂Mg到94號(hào)元素钚Pu，儀器標(biāo)準(zhǔn)配置元素如下：

Soil模式（ppm含量）：P、S、Cl、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Rb、Sr、Zr、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、W、I、Ba、Pt、Au、Hg、Pb、Bi、Th、U等元素

Mining模式（%含量）：Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, W,

Pb, Bi等元素。

Two beam mining模式（%含量）：Mg,

Al, Si, P, S, Cl、K、Ca、Ti、Mn等元素，如果以上元素還不能滿足礦產(chǎn)勘探和開發(fā)過程中對(duì)巖心元素成分的檢測(cè)，礦石分析儀還可以根據(jù)客戶的需求添加對(duì)應(yīng)的元素。

礦石分析儀能快速分析巖心和其他鉆探樣品，建立礦山三維圖，分析儲(chǔ)量，可提高鉆探現(xiàn)場(chǎng)即刻決策效率。 贏洲科技主營奧林巴斯（Olympus）手持式X熒光光譜分析儀（XRF）。便攜式X射線熒光地質(zhì)錄井勘探成分分析儀

贏洲科技產(chǎn)品行業(yè)應(yīng)用包括：冶金材料中心。便攜式X射線熒光地質(zhì)錄井勘探成分分析儀

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礦石分析儀在鐵礦石分析中的應(yīng)用

伊諾斯的便攜式礦石分析儀用于分析鐵礦石、錳礦石、鎳礦石、金礦石、銅礦石等材料中鐵、錳、磷、硅、鉻、鎳、鉬、釩、鈦、鋁、銅、錫、鉛、稀土、鎂等多種元素的含量以及品位。該儀器自動(dòng)打印結(jié)果且可保存日期、及測(cè)試數(shù)據(jù)，測(cè)試數(shù)據(jù)可長期間大容量保存。 便攜式X射線熒光地質(zhì)錄井勘探成分分析儀