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廣州燈具IES分布光度計(jì)品牌

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-04-07

分布光度計(jì)配光曲線表示燈具在空間各方向上的發(fā)光強(qiáng)度都不一樣,用數(shù)據(jù)和和圖形把照明燈具發(fā)光強(qiáng)度在空間的分布狀況記錄下來,將各處相近的光強(qiáng)連接起來即形成光強(qiáng)分布曲線。配光曲線表示方式分為兩種:一種為極坐標(biāo)表示法;另一種為直角坐標(biāo)表示法。通常情況下這兩種坐標(biāo)系描述曲線,每根曲線描述了該平面上的光強(qiáng)分布情況,不同顏色的曲線表征不同的平面。繪圖時(shí),通常選取兩個(gè)典型面的曲線做描述。極坐標(biāo)表示法:這種方法通常用于描述室內(nèi)和道路燈具的光分布。它很形象地以極坐標(biāo)的原點(diǎn)表示燈具的光中心。以一定方向的矢量表示光強(qiáng)的大小,以極坐標(biāo)的角度表示光強(qiáng)矢量與光軸之間的夾角。極坐標(biāo)表示法的好處是形象,直觀。直角坐標(biāo)表示法:這種方法通常用于描述室內(nèi)和道路的燈具的光分布。它很形象地以極坐標(biāo)的原點(diǎn)表示燈具的光中心,以一定方向的矢量表示光強(qiáng)的大小,以極坐標(biāo)的角度表示光強(qiáng)矢量月光軸之間的夾角。直角坐標(biāo)法的好處是便于查不同垂直角度的光強(qiáng)數(shù)值。分布光度計(jì)可以測試空間顏色。廣州燈具IES分布光度計(jì)品牌

分布光度計(jì)

翊明分布光度計(jì)暗室測試距離要求滿足GB/T7002-2008:光學(xué)測試距離是指燈具光度中心到光度探頭表面的距離。光強(qiáng)測試的距離應(yīng)在可行的范圍內(nèi)遵循平方反比定律??偟膩碚f,測試距離不應(yīng)小于燈具出光口面比較大尺寸的15倍,但是,對于過燈具長軸的平面上有近似余弦分布的燈具,**短測試距離可以垂直于光源軸的發(fā)光面尺寸的15倍或者平行于光源軸的發(fā)光面尺寸的5倍。使用的測試距離應(yīng)取兩個(gè)距離的較大者。應(yīng)注意在某種情況下,比如光束非常窄的燈具,即使15倍的測試距離也許仍是不夠的,確定方法參見GB/T7002-2008.常州快速分布光度計(jì)檢測設(shè)備分布光度計(jì)B-β坐標(biāo)系為基準(zhǔn)的測試方式,多數(shù)情況用于投光燈的測試。詳情可參考CIE-127測試標(biāo)準(zhǔn)。

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翊明分布光度計(jì)暗室的標(biāo)準(zhǔn)要求:①溫度要求:根據(jù)CIE70和LM-79的要求,在使用分布式光度計(jì)進(jìn)行測量時(shí),通常是在25°的環(huán)境溫度下進(jìn)行的。②雜散光要求:雜散光可以使光強(qiáng)分布測試結(jié)果失敗,所以推薦在光源和廣度探頭接收面之間使用擋屏來限制入射的雜散光,但擋屏不能在光束中引起阻隔。光強(qiáng)分布的測試應(yīng)該在擋屏處在對應(yīng)位置上時(shí)能夠復(fù)現(xiàn)。此時(shí)的測量信號(hào)就是直射雜散光的信號(hào),應(yīng)該將這個(gè)量從沒有這個(gè)擋屏的測試結(jié)果中減去。③暗室墻面涂刷要求:通常在給用戶設(shè)計(jì)暗室圖紙時(shí),都會(huì)指明使用亞光黑的涂料,將房間內(nèi)所有墻面涂刷好。需要注意的是,房間所有墻面中,**重要的墻面是正對光度探頭的墻面,通常也是分布式光度計(jì)主機(jī)背后的墻面。該處若存在雜散光,將會(huì)直接照射到探頭中。④暗室尺寸要求:根據(jù)LM-79和CIE-70的要求,測試光路長度至少要為被測燈具直徑**長尺寸的6倍以上,意味著如果被測燈具的比較大尺寸為1.2米,那么光路的長度至少需要為6米,加上主機(jī)和探頭預(yù)留的位置,整體暗室長度至少要在8米以上。符合規(guī)范的暗室環(huán)境能夠很大程度地保證測試精度。

光強(qiáng)分布曲線測試是一種測試光學(xué)系統(tǒng)光強(qiáng)分布的技術(shù),主要通過測量光在空間中的分布情況,并繪制出相應(yīng)的曲線圖來描述光的強(qiáng)度分布情況。由于光學(xué)系統(tǒng)中不同位置的光強(qiáng)度不同,因此對光強(qiáng)分布曲線的測試可以幫助我們更好地了解光在系統(tǒng)中的運(yùn)動(dòng)和傳遞規(guī)律。在進(jìn)行光強(qiáng)分布曲線測試時(shí),通常采用光路干涉法或掃描法。光路干涉法主要使用干涉儀,通過干涉光束得到光強(qiáng)分布情況。而掃描法則通過掃描測量系統(tǒng)的物面或像面,得到光在不同位置的強(qiáng)度分布情況。兩種方法各有優(yōu)劣,選擇合適的測試方法應(yīng)根據(jù)測試目的和實(shí)驗(yàn)條件來進(jìn)行選擇。GMS-1920S分布光度計(jì)(配光曲線)測試系統(tǒng),航空障礙燈用。

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光強(qiáng)空間分布測試系統(tǒng)是一種專門用于測試光線強(qiáng)度空間分布的設(shè)備。該系統(tǒng)通過測量光束在不同空間位置的強(qiáng)度分布,可以提供有關(guān)光源空間分布、光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量和光束聚焦效果等方面的重要信息。此外,該系統(tǒng)還可以用于測試機(jī)器視覺、光學(xué)測量、自動(dòng)化工業(yè)等領(lǐng)域。該系統(tǒng)的工作原理是利用特殊的探測器來對光束進(jìn)行探測和測量,然后通過計(jì)算和分析,生成空間光強(qiáng)分布的圖像。由于該系統(tǒng)具有高度的自動(dòng)化和智能化程度,可以適用于各種復(fù)雜的測試場景,并且還可以通過數(shù)據(jù)接口和網(wǎng)絡(luò)接口與其他測試設(shè)備進(jìn)行聯(lián)動(dòng),實(shí)現(xiàn)***、高效的測試和分析。因此,光強(qiáng)空間分布測試系統(tǒng)是一種功能強(qiáng)大、性能穩(wěn)定的測試設(shè)備,為光源的性能評估和研發(fā)提供了有力的支持,是現(xiàn)代科學(xué)研究和工程領(lǐng)域必不可少的重要工具。分布光度計(jì)在照明行業(yè)的應(yīng)用,提高了產(chǎn)品質(zhì)量和競爭力。廈門眩光分布光度計(jì)方案

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發(fā)光角度,又稱功率角度,通常我們使用半峰邊角度和有效光束角,半峰邊角度即50%發(fā)光強(qiáng)度的角度記作發(fā)光角度。有效光束度即10%發(fā)光強(qiáng)度的角度記作發(fā)光角度。對于LED燈珠,透鏡的大小、散射劑的多少和支架的傾斜角度等等都影響著燈珠的發(fā)光角度。燈珠的發(fā)光角度影響著LED應(yīng)用端的燈具配光設(shè)計(jì)。為此,翊明科技推出專業(yè)的“LED燈珠的發(fā)光角度及IES配光文件測試”系統(tǒng),給客戶方便準(zhǔn)確的測試服務(wù),并可提供可用于光學(xué)模擬的IES配光文件,該文件可直接導(dǎo)入Dialux、Tracepro或Lighttools等光學(xué)軟件中使用。廣州燈具IES分布光度計(jì)品牌