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上海硅晶圓片X射線檢測(cè)

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-04-11

日本愛比特,i-bit  微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)  3D自動(dòng)X射線檢測(cè)

型號(hào):FX-300tRX.ll

對(duì)應(yīng)大型基板的3D-X射線觀察裝置


特征:

可的覆蓋600x600mm尺寸的基板;

幾何學(xué)倍率:達(dá)到1,000倍;

X射線相機(jī)可以任意斜0°~60;

用觸摸屏和操作桿提高操作 ;

滑動(dòng)門大型樣品也能輕松設(shè)置

X,Y,Z1(相機(jī)),Z2(X射線),Q軸(傾斜)的5軸操作

用X射線立體方式可除去背面的安裝零件的信息進(jìn)行觀察(可以選擇的追加功能)

轉(zhuǎn)盤能夠?qū)?yīng)400x400mm尺寸的基板(可選擇的追加功能))。。。 上海晶珂銷售愛比特FX-300tRX 的X射線立體方式檢測(cè)裝置,對(duì)基板芯片的焊錫部分缺陷檢測(cè)。上海硅晶圓片X射線檢測(cè)

上海硅晶圓片X射線檢測(cè),X射線檢測(cè)

檢測(cè)硅晶片結(jié)晶缺陷Void(空隙)全自動(dòng)檢查裝置,自動(dòng)檢查機(jī)能,VIID(焊錫氣泡)檢查錫橋檢查等。選我司銷售的微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng),小型密閉管式X射線裝置,達(dá)成幾何學(xué)倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分層攝影法而是運(yùn)用第三種檢查方式X射線立體方式.能夠節(jié)省檢查成本幾何學(xué)倍率達(dá)到1000倍!搭載芯片計(jì)數(shù)功能!"X射線立體方式3D-X射線觀察裝置FX-3o0fRXzwithcT以往運(yùn)用X射線的檢查方式,背面的CHIP(芯片)零件成為雜訊而很難做正確的檢查。l-Bit公司所開發(fā)的r3D-X射線立體方式能夠?qū)⒈趁婊遒N裝的BGA,LGA,QFN等圖像刪除。與以往的X射線CT方式不同不需要斷層圖像所以能夠做高速處理特征采用X射線立體方式(愛比特公司的***技術(shù))2幾何學(xué)倍率:達(dá)到1000倍3搭載CHIPCOUNTER(芯片計(jì)數(shù))機(jī)能4運(yùn)用光廣角照射能夠做高倍率傾斜攝影GBGA自動(dòng)檢查機(jī)能(選配功能)VCT(垂直CT)PCT(傾斜CT)功能(選配功能)裝基板等的焊錫部位的檢查用途@LED的FLIPCHIP(倒裝芯片)裝的焊錫部位檢查POWERDEVICE(IGBT)的雙層焊錫部的Void(氣泡)檢查山西BAG焊接部位X射線檢測(cè)3D X -RAY I-BIT 日本愛比特可進(jìn)行雙層焊錫分離檢查,快速查出2D X- RAY無法檢查出的缺陷。

上海硅晶圓片X射線檢測(cè),X射線檢測(cè)

微焦點(diǎn)X-rayX射線檢測(cè)IGBT雙層焊錫空洞、POP堆疊封裝芯片等

3D自動(dòng)X射線檢測(cè)型號(hào):FX-300tRX.ll對(duì)應(yīng)大型基板的3D-X射線觀察裝置特征:可的覆蓋600x600mm尺寸的基板;幾何學(xué)倍率:達(dá)到1,000倍;X射線相機(jī)可以任意斜0°~60;用觸摸屏和操作桿提高操作;滑動(dòng)門大型樣品也能輕松設(shè)置X,Y,Z1(相機(jī)),Z2(X射線),Q軸(傾斜)的5軸操作用X射線立體方式可除去背面的安裝零件的信息進(jìn)行觀察(可以選擇的追加功能)轉(zhuǎn)盤能夠?qū)?yīng)400x400mm尺寸的基板(可選擇的追加功能))。

日本愛比特,i-bit 微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)

微焦點(diǎn)X射線用途:半導(dǎo)體BGA,線路板等內(nèi)部位移的分析 ;利于判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷XRAY:

微焦點(diǎn)X射線可以穿過塑封料并對(duì)包封內(nèi)部的金屬部件成像,因此,它特別適用于評(píng)價(jià)由流動(dòng)誘導(dǎo)應(yīng)力引起的引線變形 在電路測(cè)試中,引線斷裂的結(jié)果是開路,而引線交叉或引線壓在芯片焊盤的邊緣上或芯片的金屬布線上,則表現(xiàn)為短路。X射線分析也評(píng)估氣泡的產(chǎn)生和位置,塑封料中那些直徑大于1毫米的大空洞,很容易探測(cè)到. 微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)用于大型線路板上面的BGA、CSP、倒裝芯片檢測(cè)、半導(dǎo)體。。。

上海硅晶圓片X射線檢測(cè),X射線檢測(cè)

微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng),日本愛比特,i-bitX-ray檢測(cè)系統(tǒng)3D-X射線立體方式觀察裝置

產(chǎn)品型號(hào):FX-4OOtRX

運(yùn)用3D-X射線立體方式達(dá)成大電流元件的雙層錫焊分離檢查!

特征:

D130kV,0.5mA,39W的高輸出X射線5mm厚的鋼板也能穿透(FX-500tRX)

達(dá)到110kV,0.2mA,20W的高輸出及空間分辨率2um的高解像度(FX-400tRX)

可利用3D-X射線立體方式進(jìn)行2層分離檢查

采用壽命長(zhǎng),130萬畫素,14bit(16384階調(diào))平板X射線,可降低運(yùn)營(yíng)成本

小型的檢查設(shè)備本體

可以用QR碼識(shí)別作產(chǎn)品追蹤 上海晶珂銷售x-ray 對(duì)電子元器件的虛焊-氣泡-裂縫-缺陷檢測(cè)的.安徽在線X射線檢測(cè)

i-bit愛比特X射線,2D,3D斷層圖像掃描系統(tǒng),高幾何學(xué)倍率。上海硅晶圓片X射線檢測(cè)

X-ray,X射線檢測(cè)系統(tǒng),X射線缺陷檢測(cè),3D立體檢測(cè)。微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)

雖然小巧,可是能夠達(dá)到幾何光學(xué)倍率900倍是性價(jià)比高的X射線觀察裝置X射線觀察裝置FX-3OOfR幾何學(xué)倍率:900倍熒光屏放大倍率:5400倍X射線輸出:90kVX射線焦點(diǎn)徑:5u,15u(切換)用幾何學(xué)倍率特征D隨然是小型設(shè)備但可達(dá)成幾何學(xué)倍率900倍2存儲(chǔ)良品的圖像,可以和現(xiàn)在的圖像做比較3可以將平板相機(jī)傾斜60°做觀察4即使做傾斜觀察也能自動(dòng)追蹤觀察位置(即使相機(jī)傾斜位置點(diǎn)也不會(huì)偏移)5附帶有各種測(cè)定機(jī)能6可追加選項(xiàng)檢查機(jī)能選項(xiàng)功能可對(duì)應(yīng)CT及L尺寸8靶材~試料0.5mm,靶材~X射線相機(jī)450mm:450/0.5=900,幾何學(xué)倍率達(dá)到900倍L尺寸裝置可對(duì)應(yīng)600x600mm的基板 上海硅晶圓片X射線檢測(cè)

上海晶珂機(jī)電設(shè)備有限公司位于浦錦路2049號(hào)萬科VMO, 37號(hào)216室。在市場(chǎng)經(jīng)濟(jì)的浪潮中拼博和發(fā)展,目前上海晶珂機(jī)電在機(jī)械及行業(yè)設(shè)備中擁有較高的**度,享有良好的聲譽(yù)。上海晶珂機(jī)電取得全網(wǎng)商盟認(rèn)證,標(biāo)志著我們的服務(wù)和管理水平達(dá)到了一個(gè)新的高度。上海晶珂機(jī)電全體員工愿與各界有識(shí)之士共同發(fā)展,共創(chuàng)美好未來。