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IC零件導(dǎo)線X射線檢測供應(yīng)商

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-06-29

X-ray,X射線檢測系統(tǒng),X射線缺陷檢測,3D立體檢測。微焦點(diǎn)X射線檢測系統(tǒng)

雖然小巧,可是能夠達(dá)到幾何光學(xué)倍率900倍是性價(jià)比高的X射線觀察裝置X射線觀察裝置FX-3OOfR幾何學(xué)倍率:900倍熒光屏放大倍率:5400倍X射線輸出:90kVX射線焦點(diǎn)徑:5u,15u(切換)用幾何學(xué)倍率特征D隨然是小型設(shè)備但可達(dá)成幾何學(xué)倍率900倍2存儲良品的圖像,可以和現(xiàn)在的圖像做比較3可以將平板相機(jī)傾斜60°做觀察4即使做傾斜觀察也能自動追蹤觀察位置(即使相機(jī)傾斜位置點(diǎn)也不會偏移)5附帶有各種測定機(jī)能6可追加選項(xiàng)檢查機(jī)能選項(xiàng)功能可對應(yīng)CT及L尺寸8靶材~試料0.5mm,靶材~X射線相機(jī)450mm:450/0.5=900,幾何學(xué)倍率達(dá)到900倍L尺寸裝置可對應(yīng)600x600mm的基板 QFN、SON,BGA等的焊錫部位在零件底部的部件檢查的X-ray,X射線在線檢查設(shè)備。IC零件導(dǎo)線X射線檢測供應(yīng)商

IC零件導(dǎo)線X射線檢測供應(yīng)商,X射線檢測

我司銷售的日本愛比特 ,i-bit微焦點(diǎn)X射線用于封裝元器件、電子連接器模組檢測、印刷電路板焊點(diǎn)檢測等行業(yè)。

設(shè)備型號:FX-300fRXzwithcT用途:以往運(yùn)用X射線的檢查方式,背面的CHIP(芯片)零件成為雜訊而很難做正確的檢查。l-Bit公司所開發(fā)的r3D-X射線立體方式能夠?qū)⒈趁婊遒N裝的BGA,LGA,QFN等圖像刪除。與以往的X射線CT方式不同不需要斷層圖像所以能夠做高速處理。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。 山西IC零件導(dǎo)線X射線檢測上海晶珂銷售的X射線檢測設(shè)備是非工業(yè)CT掃描檢測,無損檢測X光成像檢測設(shè)備。

IC零件導(dǎo)線X射線檢測供應(yīng)商,X射線檢測

日本愛比特,i-bit 微焦點(diǎn)X射線檢測系統(tǒng)  3D自動X射線檢測

雖然小巧,可是能夠達(dá)到幾何光學(xué)倍率900倍是性價(jià)比高的X射線觀察裝置

型號:FX-3OOtR

幾何學(xué)倍率:

900倍熒光屏放大倍率:

5400倍X射線輸出:

90kVX射線焦點(diǎn)徑:5u,15u(切換)

特征;

隨然是小型設(shè)備,但可達(dá)成幾何學(xué)倍率900倍

存儲良品的圖像,可以和現(xiàn)在的圖像做比較

可以將平板相機(jī)傾斜60°做觀察

即使做傾斜觀察也能自動追蹤觀察位置(即使相機(jī)傾斜位置點(diǎn)也不會偏移)

附帶有各種測定機(jī)能

可追加選項(xiàng)檢查機(jī)能選項(xiàng)功能可對應(yīng)CT及L尺寸8靶材~試料0.5mm,靶材~X射線相機(jī)450mm:450/0.5=900,幾何學(xué)倍率達(dá)到900倍L尺寸裝置可對應(yīng)600x600mm的基板

日本愛比特  i-bit 公司的微焦點(diǎn)X射線檢測系統(tǒng) 使用3D-X射線立體方式的自動在線檢查來降低成本!

3次元立體有式在線射線檢查設(shè)備 

型號:LX-1100/2000

介紹:

這是一種在線型檢查設(shè)奇,可自動以在線方式用X光進(jìn)行安裝基板焊錫部位檢查,高密度裝基板,因?yàn)槁a部位都在部件底部(FACE DOWN),所以外觀無法檢查,因?yàn)檫m宜QFN/SON等的焊錫部位在零件底部的部件的檢查。

關(guān)于X射線立體方式:

運(yùn)用X射線穿透原理時(shí),因?yàn)榛灞趁姘惭b的零件也會被拍到所以表面和背面重疊,而無法進(jìn)行正確的檢查。X射線立體方式是能夠?qū)⒄?背面分開檢查的劃時(shí)代的檢查設(shè)備。 I-BIT X-RAY 日本愛比特 X射線檢測 檢測基板焊點(diǎn)的焊錫不足、焊接不良、焊錫短路等問題。

IC零件導(dǎo)線X射線檢測供應(yīng)商,X射線檢測

檢測硅晶片結(jié)晶缺陷Void(空隙)全自動檢查裝置,自動檢查機(jī)能,VIID(焊錫氣泡)檢查錫橋檢查等。選我司銷售的微焦點(diǎn)X射線檢測系統(tǒng),小型密閉管式X射線裝置,達(dá)成幾何學(xué)倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分層攝影法而是運(yùn)用第三種檢查方式X射線立體方式.能夠節(jié)省檢查成本幾何學(xué)倍率達(dá)到1000倍!搭載芯片計(jì)數(shù)功能!"X射線立體方式3D-X射線觀察裝置FX-3o0fRXzwithcT以往運(yùn)用X射線的檢查方式,背面的CHIP(芯片)零件成為雜訊而很難做正確的檢查。l-Bit公司所開發(fā)的r3D-X射線立體方式能夠?qū)⒈趁婊遒N裝的BGA,LGA,QFN等圖像刪除。與以往的X射線CT方式不同不需要斷層圖像所以能夠做高速處理特征采用X射線立體方式(愛比特公司的***技術(shù))2幾何學(xué)倍率:達(dá)到1000倍3搭載CHIPCOUNTER(芯片計(jì)數(shù))機(jī)能4運(yùn)用光廣角照射能夠做高倍率傾斜攝影GBGA自動檢查機(jī)能(選配功能)VCT(垂直CT)PCT(傾斜CT)功能(選配功能)裝基板等的焊錫部位的檢查用途@LED的FLIPCHIP(倒裝芯片)裝的焊錫部位檢查POWERDEVICE(IGBT)的雙層焊錫部的Void(氣泡)檢查上海晶珂銷售X-ray,X射線檢測系統(tǒng),X射線缺陷檢測,3D立體檢測。上海多層基板X射線檢測

上海晶珂銷售的X射線檢測設(shè)備針對產(chǎn)品內(nèi)部缺陷的裝置檢查。IC零件導(dǎo)線X射線檢測供應(yīng)商

微焦點(diǎn)X射線檢測系統(tǒng)  硅晶片結(jié)晶缺陷 Void(空隙)檢查裝置

日本愛比特,i-bit  X射線觀察裝置    硅晶片內(nèi)部的結(jié)晶缺陷Void(空隙)全自動檢查裝置

型號:X-CAS-2

特征:

本裝置使用X射線針對于硅晶片內(nèi)部的結(jié)晶缺陷之空隙進(jìn)行自動檢查

隨然用紅外線也能夠做同樣的檢查,但是難以做低電阻的硅晶片檢查,并且需要完成終制造過程的拋光過的硅晶圓片才能做精度高的檢測。用X射線檢查不需要這些條件,研磨前的狀態(tài)(剛切片后)也能夠檢查并且與硅晶圓片有無電阻值無關(guān)都可以進(jìn)行檢查

可檢查的硅晶圓片尺寸為12英寸,及8英寸(6英寸為選配功能)

關(guān)于安全性:不需要X射線操作人員資格,因?yàn)閄射線會被完全遮蔽,所以能夠安全的使用 IC零件導(dǎo)線X射線檢測供應(yīng)商

“金屬檢測機(jī)|雙槳混和機(jī)|多列條狀包裝機(jī)|x射線異物檢測機(jī)”上海晶珂機(jī)電設(shè)備有限公司,公司位于:浦錦路2049號萬科VMO, 37號216室,多年來,上海晶珂機(jī)電堅(jiān)持為客戶提供好的服務(wù)。歡迎廣大新老客戶來電,來函,親臨指導(dǎo),洽談業(yè)務(wù)。上海晶珂機(jī)電期待成為您的長期合作伙伴!