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廣東CHIP(芯片)X射線檢測

來源: 發(fā)布時間:2023-09-10

微焦點X射線檢測系統(tǒng),日本愛比特,i-bitX-ray檢測系統(tǒng)3D-X射線立體方式觀察裝置

產品型號:FX-4OOtRX

運用3D-X射線立體方式達成大電流元件的雙層錫焊分離檢查!

特征:

D130kV,0.5mA,39W的高輸出X射線5mm厚的鋼板也能穿透(FX-500tRX)

達到110kV,0.2mA,20W的高輸出及空間分辨率2um的高解像度(FX-400tRX)

可利用3D-X射線立體方式進行2層分離檢查

采用壽命長,130萬畫素,14bit(16384階調)平板X射線,可降低運營成本

小型的檢查設備本體

可以用QR碼識別作產品追蹤 上海晶珂銷售X射線立體方式檢查基板的焊錫部倍裝置,幾何學倍率達到1000倍。廣東CHIP(芯片)X射線檢測

廣東CHIP(芯片)X射線檢測,X射線檢測

日本愛比特  i-bit公司的微焦點X射線檢測系統(tǒng),3次元立體有式 在線射線檢查設備。

產品型號:ILX-1100/2000

特征:

運用X射線立體方式可進行BGA等底面的焊錫部位的檢查可以不受到雙面安裝基板背面的影響進行檢查采用X射線立體方式可進行3D的CT斷層掃描檢查能夠對應小型基板(50x50mm)到Lsize(510x460mm)安全設計,不需要具備X射線操作資格小型可省空間進行在線檢查.

BGA的焊接部位檢查:運用立體CT功能可指水平切割的100層的表面中的任意面作檢查。 硅晶片缺陷X射線檢測多少錢上海晶珂銷售的X射線檢測設備是針對內部結構的焊縫和鑄件方面缺陷檢測,是一種常用的無損檢測。

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日本愛比特,i-bit 微焦點X射線檢測系統(tǒng)  3D自動X射線檢測

雖然小巧,可是能夠達到幾何光學倍率900倍是性價比高的X射線觀察裝置

型號:FX-3OOtR

幾何學倍率:

900倍熒光屏放大倍率:

5400倍X射線輸出:

90kVX射線焦點徑:5u,15u(切換)

特征;

隨然是小型設備,但可達成幾何學倍率900倍

存儲良品的圖像,可以和現在的圖像做比較

可以將平板相機傾斜60°做觀察

即使做傾斜觀察也能自動追蹤觀察位置(即使相機傾斜位置點也不會偏移)

附帶有各種測定機能

可追加選項檢查機能選項功能可對應CT及L尺寸8靶材~試料0.5mm,靶材~X射線相機450mm:450/0.5=900,幾何學倍率達到900倍L尺寸裝置可對應600x600mm的基板

上海晶珂機電公司銷售的微焦點X射線檢測系統(tǒng)使用3D-X射線立體方式的自動在線檢查來降低成本!!3次元立體有式在線射線檢查設備LX-1100/2000傳檢李意購度些裝基板因為慢錫部位都在駕這是一種在線型檢查設奇,可自動以在線方式用X光進行安裝基板焊錢慢錫部位在零件底部的部件的檢查件底部(FACEDOWN)所以從外觀無法檢查。**為適宜QFN/SONX射線立體方式特征運用X射線立體方式可進行BGA等底面的焊錫部位的檢查可以不受到雙面安裝基板背面的影響進行檢查采用X射線立體方式可進行3D的CT斷層掃描檢查能夠對應小型基板(50x50mm)到Lsize(510x460mm)安全設計,不需要具備X射線操作資格小型可省空間進行在線檢查上海晶珂銷售愛比特FX-300tR的X射線立體方式檢測裝置,對基板芯片的焊錫部分缺陷檢測。

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微焦點X-ray檢測設備用途:檢查芯片,器件內部的結構,位移動。用途:半導體BGA,線路板等內部位移的分析 ;利于判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷XRAY:微焦點X射線可以穿過塑封料并對包封內部的金屬部件成像,因此,它特別適用于評價由流動誘導應力引起的引線變形 在電路測試中,引線斷裂的結果是開路,而引線交叉或引線壓在芯片焊盤的邊緣上或芯片的金屬布線上,則表現為短路。X射線分析也評估氣泡的產生和位置,塑封料中那些直徑大于1毫米的大空洞,很容易探測到.QFN、SON,BGA等的焊錫部位在零件底部的部件檢查的X-ray,X射線在線檢查設備。X射線檢測維修電話

i-bit 日本愛比特 X-ray 對雙面PCBA和FLIP CHIP焊點、BGA虛焊空焊枕窩、接插件通孔透錫不良。廣東CHIP(芯片)X射線檢測

微焦點X射線檢測系統(tǒng):IC打線結合/導線架狀態(tài)自動檢查在線式X射線檢查設備IC打線結合/導線架狀態(tài)自動檢查設備LFX-1000概要可進行全自動檢查的在線式X射線檢查設備,針對IC內部的打線接合/導線架的狀態(tài)進行高速/高精度檢查。3C31特征D在導線架的狀態(tài)下進行自動搬運及自動檢查標注不良的部位。不僅是打線結合的部位,也可以檢查金屬異物及導線架間隔等2導線架從進板機直接堆板設置或者是用抽換式基板收納架供料3可與各種上料機/下料機連接(為追加選配功能)QFP的檢查案例LED的檢查案例為追加遠配功臨導線架,打線結合IC檢查案例廣東CHIP(芯片)X射線檢測

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