射頻測(cè)試適用于哪些產(chǎn)品呢？有以下幾種類(lèi)型的產(chǎn)品，可以用射頻測(cè)試來(lái)測(cè)試產(chǎn)品的1.短距離無(wú)線遙控產(chǎn)品（SRD）例如：遙控玩具、溫濕度傳輸器、無(wú)線鼠標(biāo)、無(wú)線鍵盤(pán)、遙控開(kāi)關(guān)、藍(lán)牙產(chǎn)品、智能穿戴設(shè)備、WiFi產(chǎn)品、無(wú)線遙控器、ZigBee，LoRa等.2.專業(yè)無(wú)線電遙控產(chǎn)品（PMR），例如：專業(yè)無(wú)線對(duì)講機(jī)、無(wú)線麥克風(fēng)、無(wú)線電話CTO、CT1、CT1+...ISDN（數(shù)字電話產(chǎn)品）、DECT（增強(qiáng)型數(shù)字無(wú)繩電話）、GSM、CDMA....等2.2G/3G/4G通信產(chǎn)品4.基站、直放站。藍(lán)?耳機(jī)、音箱、智能控制、智能穿戴競(jìng)爭(zhēng)越發(fā)激烈，用戶對(duì)產(chǎn)品用戶體驗(yàn)的不不斷提?。珠海自動(dòng)化射頻儀器

在產(chǎn)品嚴(yán)重同質(zhì)化的現(xiàn)在，研發(fā)和生產(chǎn)階段的精確射頻測(cè)試是保障品質(zhì)的重要手段。除了從設(shè)計(jì)上尋求突破，產(chǎn)品品質(zhì)也是各大廠商的另一個(gè)關(guān)注重點(diǎn)，具體到射頻硬件部分，研發(fā)和生產(chǎn)階段的精確射頻測(cè)試是保障品質(zhì)的重要手段。 發(fā)射功率是手機(jī)發(fā)射機(jī)測(cè)試的重要指標(biāo)之一，存在兩面性，一方面手機(jī)需要發(fā)射足夠高的功率以保證通信質(zhì)量，另一方面在保證通信質(zhì)量的前提下，發(fā)射功率越低越好，換言之，手機(jī)的發(fā)射功率需要根據(jù)實(shí)際情況被精確控制。接收靈敏度是接收機(jī)測(cè)試重要指標(biāo)之一，也是衡量接收機(jī)接收能力的重要體現(xiàn)，必須精確測(cè)試。寧波BLE射頻靈敏度測(cè)試射頻RF 測(cè)試有助于評(píng)估產(chǎn)品發(fā)出的輻射，這些輻射也必須在可接受的范圍內(nèi)才能獲得監(jiān)管合規(guī)性。

藍(lán)牙產(chǎn)品RF自動(dòng)化射頻測(cè)試系統(tǒng)是基于藍(lán)牙標(biāo)準(zhǔn)SIG認(rèn)證設(shè)備的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，數(shù)據(jù)可查詢，統(tǒng)計(jì)，分析，自動(dòng)完成測(cè)試，可用于各行各業(yè)的藍(lán)牙產(chǎn)品的設(shè)計(jì)驗(yàn)證和生產(chǎn)測(cè)試。該系統(tǒng)可提供藍(lán)牙產(chǎn)品RF的各項(xiàng)測(cè)試， 如輸出功率、 功率控制、 調(diào)制特性、 初始載波容限、 載波頻率漂移、 單時(shí)隙靈敏度、 多時(shí)隙靈敏度、 比較大輸入電平等， 還可 對(duì)產(chǎn)品藍(lán)牙名稱、 版本、 模組、 電量等進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)， 同時(shí)能夠結(jié)合服務(wù)器管理功能， 更好地提高生產(chǎn)品質(zhì)和生產(chǎn)效率。

射頻技術(shù)（RF）是Radio Frequency的縮寫(xiě)。較常見(jiàn)的應(yīng)用有無(wú)線射頻識(shí)別（Radio Frequency Identification，RFID），常稱為感應(yīng)式電子晶片或近接卡、感應(yīng)卡、非接觸卡、電子標(biāo)簽、電子條碼等。其原理為由掃描器發(fā)射一特定頻率之無(wú)線電波能量給接收器，用以驅(qū)動(dòng)接收器電路將內(nèi)部的代碼送出，此時(shí)掃描器便接收此代碼。接收器的特殊在于免用電池、免接觸、免刷卡故不怕臟污，且晶片密碼為世界獨(dú)有無(wú)法復(fù)制，安全性高、長(zhǎng)壽命。RFID的應(yīng)用非常廣，典型應(yīng)用有動(dòng)物晶片、汽車(chē)晶片防盜器、門(mén)禁管制、停車(chē)場(chǎng)管制、生產(chǎn)線自動(dòng)化、物料管理。在高級(jí)射頻測(cè)試儀方面，全球幾大巨頭基本壟斷，國(guó)內(nèi)廠商相對(duì)技術(shù)落后。

一個(gè)傳統(tǒng)的射頻測(cè)試探針包括了以下幾個(gè)部分：測(cè)試儀器接口（同軸或是波導(dǎo)）從測(cè)試接口到微同軸電纜的轉(zhuǎn)接微同軸電纜到平面波導(dǎo)（CPW/MS等）轉(zhuǎn)接共面接口到DUT部分即針尖。其他一些相關(guān)的概念Probepitch：指的是針尖(ProbeTips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對(duì)于毫米波頻率的應(yīng)用，針尖間距一般都比較小。Probeskate:當(dāng)你在Z軸方向往下“按壓”探針時(shí)，當(dāng)探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動(dòng)。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個(gè)現(xiàn)象。De-embeding:去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù)，之前經(jīng)常用在一些標(biāo)準(zhǔn)的分立的夾具測(cè)試中。射頻或“RF”能量是電磁能的一種形式，被定義為由發(fā)射天線發(fā)射的電能和磁能在空間中一起移動(dòng)的波。蘇州自動(dòng)化射頻測(cè)試廠家

射頻測(cè)試的脈沖測(cè)試中，需要知道脈沖信號(hào)是雷達(dá)系統(tǒng)基礎(chǔ)、常見(jiàn)的信號(hào)形式。珠海自動(dòng)化射頻儀器

射頻測(cè)試也會(huì)對(duì)成本比較敏感。如今的無(wú)線設(shè)備變得越來(lái)越復(fù)雜，競(jìng)爭(zhēng)壓力日趨增大，利潤(rùn)率被壓的很低。同時(shí)，測(cè)試越來(lái)越難，單位成本面臨增大的壓力。面對(duì)縮小的利潤(rùn)，制造商想盡一切辦法來(lái)降低成本，這就包括降低測(cè)試儀器以及測(cè)試的成本。這不僅體現(xiàn)在生產(chǎn)過(guò)程中，同樣體現(xiàn)在研發(fā)過(guò)程中，在這兩種環(huán)境下，對(duì)于更多功能、更高吞吐量和更簡(jiǎn)單操作的測(cè)試設(shè)備需求越來(lái)越強(qiáng)烈。對(duì)于多空間流的WLAN、LTE和WiMAX系統(tǒng)的測(cè)試，首要目標(biāo)就是在不性能的前提下保持每信道流測(cè)試成本的降低。然而，測(cè)試儀器的成本，特別是在WiMAX系統(tǒng)中，往往會(huì)成倍的增加。比如，為了得到N輸入和M輸出，每個(gè)輸入-輸出需要一個(gè)的發(fā)射機(jī)和一個(gè)接收機(jī)，或者說(shuō)一個(gè)信號(hào)發(fā)生器和一個(gè)信號(hào)分析儀。更加先進(jìn)的測(cè)試儀器的設(shè)計(jì)考慮了以上所談到的這些因素。珠海自動(dòng)化射頻儀器