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中山RF射頻模塊測(cè)試

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-10-27

自從無線電發(fā)射機(jī)誕生之日起,工程師們就開始關(guān)心射頻測(cè)試中射頻功率測(cè)量的問題,直到現(xiàn)在依然是個(gè)熱門話題。無論是在實(shí)驗(yàn)室、產(chǎn)線,還是教學(xué)里,功率測(cè)量都是必不可少的。在無線電發(fā)展初期,測(cè)試工程師所面對(duì)的大多數(shù)是連續(xù)波、調(diào)幅、調(diào)頻、調(diào)相或脈沖信號(hào),這些信號(hào)都是有規(guī)律可循的。例如,連續(xù)波調(diào)頻或調(diào)相信號(hào)的功率測(cè)量都是很簡單,只需要測(cè)量其平均功率;調(diào)幅信號(hào)功率與其調(diào)制深度有關(guān),而脈沖信號(hào)的特性是以脈沖寬度和占空比來表達(dá)。對(duì)于以上這些模擬或模擬調(diào)制信號(hào),射頻功率測(cè)量所關(guān)心的基本上都是平均功率和峰值功率。射頻測(cè)試性能包括發(fā)射/帶內(nèi)功率、調(diào)制一致性、帶內(nèi)雜散、發(fā)送頻譜密度以及相位噪聲等。中山RF射頻模塊測(cè)試

射頻

為什么我們需要射頻測(cè)試?由于全球射頻應(yīng)用眾多,因此有的涉及射頻能量的產(chǎn)品和系統(tǒng)必須在其電磁環(huán)境中運(yùn)行,并且不會(huì)將無法容忍的電磁干擾引入環(huán)境中。因此,在產(chǎn)品或系統(tǒng)投放市場之前,必須對(duì)其進(jìn)行射頻抗擾度和發(fā)射測(cè)試,才能在市場上更好地發(fā)揮它的作用。對(duì)于射頻抗擾度測(cè)試,設(shè)備暴露在射頻干擾和場中,其場強(qiáng)和頻率范圍在其操作環(huán)境中表示。當(dāng)對(duì)一臺(tái)設(shè)備進(jìn)行射頻發(fā)射測(cè)試時(shí),在正常操作下,該設(shè)備會(huì)受到射頻干擾和場的檢測(cè)。南京射頻測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頻射無處不在,不管是WI-FI、藍(lán)牙、GPS、NFC(近距離無線通信)等等,都需要頻射。因此需要射頻測(cè)試。

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射頻即RadioFrequency,通??s寫為RF。射頻測(cè)試是射頻電流,它是一種高頻交流變化電磁波的簡稱。·射頻概念表示可以輻射到空間的電磁頻率,頻率范圍從300KHz~30GHz之間。射頻簡稱RF射頻就是射頻電流,它是一種高頻交流變化電磁波的簡稱。每秒變化小于1000次的交流電稱為低頻電流,大于10000次的稱為高頻電流,而射頻就是這樣一種高頻電流。有線電視系統(tǒng)就是采用射頻傳輸方式。什么是射頻探針?射頻應(yīng)用中使用的傳輸線一般為與電路板連接的同軸線纜,以及設(shè)置于電路板內(nèi)部的微帶線。射頻同軸探針是一種測(cè)量裝置,用于電子測(cè)試設(shè)備,對(duì)硅片、管芯及開放式微芯片中的電子電路射頻(RF)信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。此外,射頻同軸探針還用于連接器組件中窄間距或高密度射頻互連應(yīng)用。

射頻測(cè)試中射頻探針的基本要求和工作原理:1)探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對(duì)于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì),探針的接觸是用小的金屬球來實(shí)現(xiàn)的,這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。2)為了能同時(shí)接觸到DUT的信號(hào)壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn),需要將探針傾斜。這個(gè)過程被稱為“探針的平面化”。3)探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及專門校準(zhǔn)方法的開發(fā)。4)具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測(cè)量參考平面移向其極尖處。來自探針線和到同軸連接器的過渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過由射頻電纜和連接器的誤差相類似的方式而抵消的。5)由于其很小的幾何尺寸,人們可以假設(shè)平面標(biāo)準(zhǔn)件的等效模型純粹是集總式的。此外,人們可以從標(biāo)準(zhǔn)件的幾何尺寸來很容易地預(yù)測(cè)模型參數(shù)。在手機(jī)終端中,重要的關(guān)鍵就是射頻芯片和基帶芯片。

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一個(gè)傳統(tǒng)的射頻測(cè)試探針包括了以下幾個(gè)部分:測(cè)試儀器接口(同軸或是波導(dǎo))從測(cè)試接口到微同軸電纜的轉(zhuǎn)接微同軸電纜到平面波導(dǎo)(CPW/MS等)轉(zhuǎn)接共面接口到DUT部分即針尖。其他一些相關(guān)的概念Probepitch:指的是針尖(ProbeTips)之間的間距,一般在50-1000um之間不等。對(duì)于毫米波頻率的應(yīng)用,針尖間距一般都比較小。Probeskate:當(dāng)你在Z軸方向往下“按壓”探針時(shí),當(dāng)探針接觸到DUT,它將在ZY平面彎曲移動(dòng)。通常,這也是我們判斷針是否扎上的一個(gè)現(xiàn)象。De-embeding:去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù),之前經(jīng)常用在一些標(biāo)準(zhǔn)的分立的夾具測(cè)試中。射頻器件是收發(fā)無線信號(hào)中的關(guān)鍵部件,遍布于各種通信場景,5G又進(jìn)一步推動(dòng)了射頻器件性能進(jìn)化。中山RFID射頻測(cè)試儀

射頻RF 測(cè)試有助于評(píng)估產(chǎn)品發(fā)出的輻射,這些輻射也必須在可接受的范圍內(nèi)才能獲得監(jiān)管合規(guī)性。中山RF射頻模塊測(cè)試

無線通信系統(tǒng)中,一般包含有天線、射頻前端、射頻收發(fā)模塊以及基帶信號(hào)處理器四個(gè)部分。隨著5G時(shí)代的,天線以及射頻前端的需求量及價(jià)值均快速上升,射頻前端是將數(shù)字信號(hào)向無線射頻信號(hào)轉(zhuǎn)化的基礎(chǔ)部件,也是無線通信系統(tǒng)的關(guān)鍵組件。按照功能,可將射頻前端分為發(fā)射端Tx以及接收端Rx。按照器件不同,射頻前端可分為功率放大器PA(發(fā)射端射頻信號(hào)放大)、濾波器filter(發(fā)射、接受端信號(hào)濾波)、低噪聲放大器LNA(接收端信號(hào)放大,降低噪聲)、開關(guān)switch(不同通道切換)、雙工器duplexer(信號(hào)選擇,實(shí)現(xiàn)濾波匹配)、調(diào)諧器tuner(天線信號(hào)通道阻抗匹配)等。中山RF射頻模塊測(cè)試

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