什么是PCBA測(cè)試的ICT測(cè)試？PCBA測(cè)試的ICT測(cè)試主要是通過(guò)測(cè)試探針接觸PCBA板上的測(cè)試點(diǎn)，可以檢測(cè)出線(xiàn)路的短路、開(kāi)路以及元器件焊接等故障問(wèn)題。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試，對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試，如所有74系列、Memory類(lèi)、常用驅(qū)動(dòng)類(lèi)、交換類(lèi)等IC。 ICT測(cè)試處于PCBA生產(chǎn)環(huán)節(jié)的后端，PCBA測(cè)試的首道工序，可以及時(shí)的發(fā)現(xiàn)PCBA板生產(chǎn)過(guò)程的問(wèn)題，有助于改善工藝，提高生產(chǎn)的效率。在進(jìn)行PCBA之前，需要對(duì)電子元器件進(jìn)行嚴(yán)格的篩選和測(cè)試，以確保其質(zhì)量和性能?；葜輰?duì)講機(jī)PCBA射頻測(cè)試

在大批量測(cè)試電路板時(shí)，ICT測(cè)試與其他測(cè)試方法相比還有以下差異：1、采用電腦程序控制，誤操作以及決策失誤的概率更小2、ICT測(cè)試可以測(cè)試BGA組件，而多數(shù)AOI和飛行探針測(cè)試儀不能3、它可以執(zhí)行FPGA的車(chē)載驗(yàn)證4、它還能檢查底部端接元件（BTC）的焊料完整性。5、PCBA可以在不通電的情況下做L/C/R/D測(cè)試，可以有效減少測(cè)試等待時(shí)間和短路導(dǎo)致的電路板燒毀事故。進(jìn)行ICT測(cè)試時(shí)，每個(gè)元器件都由自動(dòng)化設(shè)備單獨(dú)測(cè)試。測(cè)試儀檢查邏輯功能，與大多數(shù)其他測(cè)試不同，它能為組件供電，并且每次 都是以同樣的方式進(jìn)行相同的測(cè)試。福建234GPCBA射頻測(cè)試隨著新興技術(shù)的發(fā)展，PCBA的應(yīng)用領(lǐng)域?qū)?huì)有哪些新的拓展？

依據(jù)控制器類(lèi)型來(lái)分， 可以分為：(1）MCU控制方式MCU控制方式可以視作簡(jiǎn)單的嵌入式控制。MCU和嵌入式CPU控制方式的特點(diǎn)在于：a測(cè)試執(zhí)行速度快b測(cè)試操作簡(jiǎn)單明了c數(shù)據(jù)顯示和輸出需要電路和程序d測(cè)試方案針對(duì)性強(qiáng)e測(cè)試軟件修改方便(2）嵌入式CPU控制方式(3）PC控制方式PC的控制方式是目前使用的FCT測(cè)試方式，這主要是因?yàn)椋篴PC技術(shù)已成為現(xiàn)今社會(huì)的基礎(chǔ)通用技術(shù)bPC價(jià)格便宜c測(cè)試結(jié)果的數(shù)據(jù)輸出和文件處理在PC的操作系統(tǒng)上能非常方便的實(shí)現(xiàn)d測(cè)試軟件的操作更貼近于使用者操作習(xí)慣e有**的測(cè)試程序開(kāi)發(fā)軟件(4）PLC控制方式PLC的控制方式也是目前常用的一種FCT開(kāi)發(fā)方式，它的重點(diǎn)多在于控制感應(yīng)部分，而針對(duì)被測(cè)板的測(cè)量功能偏弱。這是由于PLC是專(zhuān)業(yè)用于工業(yè)控制而決定的。

FCT測(cè)試英文全稱(chēng)為：FunctionalCircuitTest，即功能測(cè)試，一般專(zhuān)指PCBA上電后的功能測(cè)試，包括：電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、位置測(cè)定、LED亮度與顏色識(shí)別、LCD字符和顏色識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量與控制、壓力測(cè)量與控制、精密微量運(yùn)動(dòng)控制、FLASH和EEPROM在線(xiàn)燒錄等功能參數(shù)的測(cè)量。它指的是針對(duì)測(cè)試目標(biāo)板(UUT：UnitUnderTest)提供模擬的運(yùn)行環(huán)境(激勵(lì)和負(fù)載)，使其工作于各種設(shè)計(jì)狀態(tài)，從而獲取各個(gè)狀態(tài)的參數(shù)來(lái)驗(yàn)證UUT的功能好壞的測(cè)試方法。簡(jiǎn)單地說(shuō)，就是對(duì)UUT加載合適的激勵(lì)和負(fù)載，測(cè)量其 輸出端響應(yīng)是否滿(mǎn)足設(shè)計(jì)要求。PCBA測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是什么？

PCBA測(cè)試常見(jiàn)ICT測(cè)試方法：1、模擬器件測(cè)試?yán)眠\(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有：∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0，則Rx可求出。若待測(cè)Rx為電容、電感，則Vs交流信號(hào)源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。2、Vector（向量）測(cè)試對(duì)數(shù)字IC，采用Vector（向量）測(cè)試。向量測(cè)試類(lèi)似于真值表測(cè)量，激勵(lì)輸入向量，測(cè)量輸出向量，通過(guò)實(shí)際邏輯功能測(cè)試判斷器件的好壞。如:與非門(mén)的測(cè)試對(duì)模擬IC的測(cè)試，可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流，測(cè)量對(duì)應(yīng)輸出，當(dāng)作功能塊測(cè)試。3、非向量測(cè)試隨著現(xiàn)代制造技術(shù)的發(fā)展，超大規(guī)模集成電路的使用，編寫(xiě)器件的向量測(cè)試程序常?；ㄙM(fèi)大量的時(shí)間，如80386的測(cè)試程序需花費(fèi)一位熟練編程人員近半年的時(shí)間。SMT器件的大量應(yīng)用，使器件引腳開(kāi)路的故障現(xiàn)象變得更加突出。為此各公司非向量測(cè)試技術(shù)，Teradyne推出MultiScan； GenRad推出的Xpress非向量測(cè)試技術(shù)。PCBA是Printed Circuit Board Assembly的縮寫(xiě)，指的是印刷電路板組裝。福建234GPCBA射頻測(cè)試

PCBA異音測(cè)試需要用到哪些儀器。惠州對(duì)講機(jī)PCBA射頻測(cè)試

工藝上，PCBA的工藝加工流程可以大致劃分為四個(gè)主要環(huán)節(jié)，分別為：SMT貼片加工→DIP插件加工→PCBA測(cè)試→成品組裝。SMT貼片加工環(huán)節(jié)一般會(huì)根據(jù)客戶(hù)所提供的BOM配單對(duì)元器件進(jìn)行匹配購(gòu)置，確認(rèn)生產(chǎn)的PMC計(jì)劃。在事前準(zhǔn)備工作完成后，便開(kāi)始SMT編程、根據(jù)SMT工藝，制作激光鋼網(wǎng)、進(jìn)行錫膏印刷。通過(guò)SMT貼片機(jī)，將元器件貼裝到電路板上，必要時(shí)進(jìn)行在線(xiàn)AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)。檢測(cè)后，設(shè)置完美的回流焊爐溫曲線(xiàn)，讓電路板流經(jīng)回流焊。經(jīng)過(guò)必要的IPQC中檢，隨即就可以使用DIP插件工藝將插件物料穿過(guò)電路板，然后流經(jīng)波峰焊進(jìn)行焊接。接著就是進(jìn)行必要的爐后工藝了。在以上工序都完成后，還要QA進(jìn)行檢測(cè)，以確保產(chǎn)品品質(zhì)過(guò)關(guān)。 惠州對(duì)講機(jī)PCBA射頻測(cè)試