如何使用示波器進(jìn)行射頻信號(hào)測(cè)試？每一位做射頻或者高速數(shù)字設(shè)計(jì)的工程師都會(huì)同時(shí)面臨頻域和時(shí)域測(cè)試的問題。比如從事高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)的工程師通常從時(shí)域分析信號(hào)的波形和眼圖，也會(huì)借用頻域的S參數(shù)分析傳輸通道的插入損耗，或者用相位噪聲指標(biāo)來分析時(shí)鐘抖動(dòng)等。對(duì)于無線通信、雷達(dá)、導(dǎo)航信號(hào)的分析來說，傳統(tǒng)上需要進(jìn)行頻譜、雜散、臨道抑制等頻域測(cè)試，但隨著信號(hào)帶寬更寬以及脈沖調(diào)制、跳頻等技術(shù)的應(yīng)用，有時(shí)采用時(shí)域的測(cè)量手段會(huì)更加有效?，F(xiàn)代實(shí)時(shí)示波器的性能比起10多年前已經(jīng)有了大幅度的提升，可以滿足高帶寬、高精度的射頻微波信號(hào)的測(cè)試要求。除此以外，現(xiàn)代實(shí)時(shí)示波器的觸發(fā)和分析功能也變得更加豐富、操作界面更加友好、數(shù)據(jù)傳輸速率更高、多通道的支持能力也更好，使得高帶寬實(shí)時(shí)示波器可以在寬帶信號(hào)測(cè)試領(lǐng)域發(fā)揮重要的作用。 RF射頻測(cè)試座是幾個(gè)部分構(gòu)成，首先是測(cè)試座外殼+測(cè)試座常規(guī)探針+RF射頻同軸連接器。杭州234G射頻靈敏度測(cè)試

射頻（Radio Frequency，簡稱RF）技術(shù)，作為無線通信的基石，在現(xiàn)代社會(huì)中扮演著至關(guān)重要的角色。從日常使用的手機(jī)、平板電腦到智能家居設(shè)備，再到全球衛(wèi)星導(dǎo)航系統(tǒng)和遠(yuǎn)程無線通信網(wǎng)絡(luò)，射頻技術(shù)無處不在，它實(shí)現(xiàn)了信息的無線傳輸與接收，極大地推動(dòng)了社會(huì)的信息化進(jìn)程。在無線通信領(lǐng)域，射頻技術(shù)主要用于調(diào)制和解調(diào)信號(hào)，將數(shù)字信息轉(zhuǎn)換為高頻電磁波信號(hào)進(jìn)行傳輸，并在接收端恢復(fù)為原始信息。這一過程中，射頻技術(shù)確保了信號(hào)的有效傳輸距離、傳輸速度以及信號(hào)質(zhì)量的穩(wěn)定性。此外，隨著5G、6G等新一代移動(dòng)通信技術(shù)的不斷發(fā)展，射頻技術(shù)也在不斷演進(jìn)，以滿足更高帶寬、更低時(shí)延、更大連接數(shù)等需求，為無線通信領(lǐng)域帶來性的變革。自動(dòng)化射頻測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)典型的手機(jī)射頻測(cè)試系統(tǒng)，由綜測(cè)儀、測(cè)試夾具、待測(cè)手機(jī)（DUT）組成。

    射頻測(cè)試是產(chǎn)品研發(fā)生產(chǎn)過程中保障其通信質(zhì)量的關(guān)鍵測(cè)試。常見的通信射頻檢測(cè)技術(shù)有兩種，一種是通信射頻傳導(dǎo)測(cè)試，即通過射頻發(fā)射端口直接引出射頻線纜連接測(cè)試儀器直接測(cè)量，也叫通信射頻直連測(cè)試。一種是OTA（OverTheAir）測(cè)試，是通信設(shè)備的無線電射頻信號(hào)質(zhì)量通過整機(jī)輻射的方式進(jìn)行測(cè)試。OTA（OverTheAir）“空口測(cè)試”是由CTIA（CellularTelecommunicationandInternetAssociation)早制定的射頻測(cè)試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，與射頻傳導(dǎo)測(cè)試相比，OTA測(cè)試將被測(cè)件的射頻模組、天線、外殼等作為一個(gè)整體，著重進(jìn)行整機(jī)輻射/接收性能測(cè)試，測(cè)試結(jié)果更接近產(chǎn)品實(shí)際使用性能。主要包括有源和無源無線通訊產(chǎn)品的測(cè)試，測(cè)試項(xiàng)目包含：全向輻射功率（TRP）、全向接收靈敏度（TIS）、整機(jī)2D/3D輻射方向圖、天線增益（Gain）、天線效率等。

一個(gè)傳統(tǒng)的射頻測(cè)試探針包括了以下幾個(gè)部分：測(cè)試儀器接口（同軸或是波導(dǎo)）從測(cè)試接口到微同軸電纜的轉(zhuǎn)接微同軸電纜到平面波導(dǎo)（CPW/MS等）轉(zhuǎn)接共面接口到DUT部分即針尖。其他一些相關(guān)的概念Probepitch：指的是針尖(ProbeTips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對(duì)于毫米波頻率的應(yīng)用，針尖間距一般都比較小。Probeskate:當(dāng)你在Z軸方向往下“按壓”探針時(shí)，當(dāng)探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動(dòng)。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個(gè)現(xiàn)象。De-embeding:去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù)，之前經(jīng)常用在一些標(biāo)準(zhǔn)的分立的夾具測(cè)試中。射頻測(cè)試探針常見的用途之一是對(duì)處于高頻工作狀態(tài)的元件和設(shè)備進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試。

    各種射頻測(cè)試和微波自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展迅速，從測(cè)量放大器、接收機(jī)和發(fā)射機(jī)的射頻性能指標(biāo)，到更為復(fù)雜的電磁環(huán)境測(cè)試，人們更多地依賴集成化的測(cè)試系統(tǒng)和自動(dòng)化測(cè)試軟件來完成：一方面，儀表廠商開始重視各種模塊化的測(cè)試儀器，系統(tǒng)集成商則采用這些模塊化的儀表來開發(fā)針對(duì)性極強(qiáng)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)；另一方面，終到了應(yīng)用環(huán)節(jié)，使用者只需輸入一些測(cè)試條件，然后輕點(diǎn)“開始測(cè)試”的按鈕，系統(tǒng)就會(huì)自動(dòng)輸出測(cè)試結(jié)果。隨之產(chǎn)生的一種現(xiàn)象是，年輕一代的從業(yè)者開始不重視傳統(tǒng)儀表（如頻譜分析儀）復(fù)雜煩瑣的操作而更加注重測(cè)試結(jié)果。這一點(diǎn)筆者也有所體會(huì)：在以往和用戶的交流中，經(jīng)常會(huì)討論如何設(shè)定頻譜儀的分辨率帶寬或者測(cè)量帶寬等參數(shù)，以保證獲得更加精確的測(cè)試值；而近年來用戶則更加關(guān)注如何更加快速、有效地獲得他們所關(guān)心的終測(cè)試結(jié)果。 多終端藍(lán)牙射頻測(cè)試系統(tǒng)主要包括：藍(lán)牙綜合測(cè)試儀、天線或射頻線纜、控制電腦、屏蔽箱和被測(cè)物。自動(dòng)化射頻測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

新的RF芯片廣泛應(yīng)用于手機(jī)，平板等移動(dòng)設(shè)備，通訊基站等通訊平臺(tái)。RF射頻測(cè)試座的需求越來越多。杭州234G射頻靈敏度測(cè)試

射頻測(cè)試系統(tǒng)，作為電子信息技術(shù)領(lǐng)域的重要組成部分，對(duì)保障無線通信設(shè)備、航空航天設(shè)備、安全設(shè)備等正常運(yùn)行具有重要意義。射頻測(cè)試系統(tǒng)的基本概念射頻測(cè)試系統(tǒng)，英文全稱為RadioFrequencyTestSystem，簡稱RFTestSystem，是一種用于評(píng)估和測(cè)量無線通信設(shè)備和系統(tǒng)性能的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過使用射頻信號(hào)源和接收器來發(fā)送和接收從設(shè)備中發(fā)送和接收的射頻信號(hào)，以確保設(shè)備在無線電信號(hào)傳輸過程中能夠穩(wěn)定、可靠地工作。射頻測(cè)試系統(tǒng)通常包括信號(hào)發(fā)生器、射頻功率放大器、頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等設(shè)備，以及相應(yīng)的測(cè)試軟件和控制系統(tǒng)。杭州234G射頻靈敏度測(cè)試