防水透氣膜涉及哪些領(lǐng)域?
防水透聲膜的工作原理
VariCut攜手SAP——解鎖威侃快速成長(zhǎng)活動(dòng)
威碼標(biāo)簽打印機(jī) GT2000,助力電力電信行業(yè)
威碼標(biāo)簽機(jī)走進(jìn)上海交大,共同推進(jìn)親踐式課題研究~
換季啦,號(hào)稱(chēng)多面手的媽媽們竟然憑借一枚小標(biāo)簽搞定家庭收納
出游季,行李箱雜而不亂的致勝法寶,威碼標(biāo)簽打印機(jī)GT600
威碼標(biāo)簽打印機(jī)亮相上海第十七屆EPOWER中國(guó)全電展
電子傳感器在透氣膜中的使用
防水透氣膜在醫(yī)療中的使用
研究液相環(huán)境下的流體載荷對(duì)探針振動(dòng)產(chǎn)生的影響可以將AFAM 定量化測(cè)試應(yīng)用范圍擴(kuò)展至液相環(huán)境。液相環(huán)境下增加的流體質(zhì)量載荷和流體阻尼使探針振動(dòng)的共振頻率和品質(zhì)因子都較大程度上減小。Parlak 等采用簡(jiǎn)單的解析模型考慮流體質(zhì)量載荷和流體阻尼效應(yīng),可以在液相環(huán)境下從探針的接觸共振頻率導(dǎo)出針尖樣品的接觸剛度值。Tung 等通過(guò)嚴(yán)格的理論推導(dǎo),提出通過(guò)重構(gòu)流體動(dòng)力學(xué)函數(shù)的方法,將流體慣性載荷效應(yīng)進(jìn)行分離。此方法不需要預(yù)先知道探針的幾何尺寸及材料特性,也不需要了解周?chē)黧w的力學(xué)性能。納米力學(xué)測(cè)試可以幫助研究人員了解納米材料的變形和斷裂機(jī)制,為納米材料的設(shè)計(jì)和優(yōu)化提供指導(dǎo)。湖北納米力學(xué)測(cè)試服務(wù)
經(jīng)過(guò)三十年的發(fā)展,目前科學(xué)家在AFM 基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)了多種測(cè)量和表征材料不同性能的應(yīng)用模式。利用原子力顯微鏡,人們實(shí)現(xiàn)了對(duì)化學(xué)反應(yīng)前后化學(xué)鍵變化的成像,研究了化學(xué)鍵的角對(duì)稱(chēng)性質(zhì)以及分子的側(cè)向剛度。Ternes 等測(cè)量了在材料表面移動(dòng)單個(gè)原子所需要施加的作用力。各種不同的應(yīng)用模式可以獲得被測(cè)樣品表面納米尺度力、熱、聲、電、磁等各個(gè)方面的性能。基于AFM 的定量化納米力學(xué)測(cè)試方法主要有力—距離曲線測(cè)試、掃描探針聲學(xué)顯微術(shù)和基于輕敲模式的動(dòng)態(tài)多頻技術(shù)。重慶半導(dǎo)體納米力學(xué)測(cè)試設(shè)備納米力學(xué)測(cè)試還可以評(píng)估材料在高溫、低溫等極端環(huán)境下的性能表現(xiàn)。
納米測(cè)量技術(shù)是利用改制的掃描隧道顯微鏡進(jìn)行微形貌測(cè)量,這個(gè)技術(shù)已成功的應(yīng)用于石墨表面和生物樣本的納米級(jí)測(cè)量。國(guó)外于1982年發(fā)明并使其發(fā)明者Binnig和Rohrer(美國(guó))榮獲1986年物理學(xué)諾貝爾獎(jiǎng)的掃描隧道顯微鏡(STM)。1986年,Binnig等人利用掃描隧道顯微鏡測(cè)量近10-18N的表面力,將掃描隧道顯微鏡與探針式輪廓儀相結(jié)合,發(fā)明了原子力顯微鏡,在空氣中測(cè)量,達(dá)到橫向精度3n m和垂直方向0.1n m的分辨率。California大學(xué)S.Alexander等人利用光杠桿實(shí)現(xiàn)的原子力顯微鏡初次獲得了原子級(jí)分辨率的表面圖像。
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,納米尺度材料的研究變得越來(lái)越重要。納米尺度材料具有獨(dú)特的力學(xué)性質(zhì),與傳統(tǒng)材料相比有著許多不同之處。為了深入了解和研究納米尺度材料的力學(xué)性質(zhì),科學(xué)家們不斷開(kāi)發(fā)出各種先進(jìn)的測(cè)試方法。在本文中,我將分享一些納米尺度下常用的材料力學(xué)性質(zhì)測(cè)試方法,研究人員可以根據(jù)具體需求選擇適合的方法來(lái)進(jìn)行材料力學(xué)性質(zhì)的測(cè)試與研究。納米尺度下力學(xué)性質(zhì)的研究對(duì)于深入了解材料的力學(xué)行為、提高材料性能以及開(kāi)發(fā)新材料具有重要意義。希望本文所分享的方法能夠?qū)ο嚓P(guān)研究和應(yīng)用提供一定的指導(dǎo)和幫助。納米力學(xué)測(cè)試能夠揭示材料表面的微觀結(jié)構(gòu)與性能之間的關(guān)系。
目前納米壓痕在科研界和工業(yè)界都得到了普遍的應(yīng)用,但是它仍然存在一些難以克服的缺點(diǎn),比如納米壓痕實(shí)際上是對(duì)材料有損的測(cè)試,尤其是對(duì)于薄膜來(lái)說(shuō);其壓針的曲率半徑一般在50 nm 以上,由于分辨率的限制,不能對(duì)更小尺度的納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試;納米壓痕的掃描功能不強(qiáng),掃描速度相對(duì)較慢,無(wú)法捕捉材料在外場(chǎng)作用下動(dòng)態(tài)性能的變化?;贏FM 的納米力學(xué)測(cè)試方法是另一類(lèi)被普遍應(yīng)用的測(cè)試方法。1986 年,Binnig 等發(fā)明了頭一臺(tái)原子力顯微鏡(AFM)。AFM 克服了之前掃描隧道顯微鏡(STM) 只能對(duì)導(dǎo)電樣品或半導(dǎo)體樣品進(jìn)行成像的限制,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)絕緣體材料表面原子尺度的成像,具有更普遍的應(yīng)用范圍。AFM 利用探針作為傳感器對(duì)樣品表面進(jìn)行測(cè)試,不只可以獲得樣品表面的形貌信息,還可以實(shí)現(xiàn)對(duì)材料微區(qū)物理、化學(xué)、力學(xué)等性質(zhì)的定量化測(cè)試。目前,AFM 普遍應(yīng)用于物理學(xué)、化學(xué)、材料學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、微電子等眾多領(lǐng)域。利用納米力學(xué)測(cè)試,可以對(duì)納米材料的彈性形變和塑性形變進(jìn)行精細(xì)分析。廣州原位納米力學(xué)測(cè)試參考價(jià)
納米力學(xué)測(cè)試可以應(yīng)用于納米材料的質(zhì)量控制和品質(zhì)檢測(cè),確保產(chǎn)品符合規(guī)定的力學(xué)性能要求。湖北納米力學(xué)測(cè)試服務(wù)
量子效應(yīng)決定物理系統(tǒng)內(nèi)個(gè)別原子間的相互作用力。在納米力學(xué)中用一些原子間勢(shì)能的平均數(shù)學(xué)模型引入量子效應(yīng)。在經(jīng)典多體動(dòng)力學(xué)內(nèi)加入原子間勢(shì)能提供了納米結(jié)構(gòu)和原子尺寸決定性的力學(xué)模型。數(shù)據(jù)方法求解這些模型稱(chēng)為分子動(dòng)力學(xué)(MD),有時(shí)稱(chēng)為分子力學(xué)。非決定性數(shù)字近似包括蒙特卡羅,動(dòng)力蒙卡羅和其它方法?,F(xiàn)代的數(shù)字工具也包括交叉通用近似,允許同時(shí)和連續(xù)利用原子尺寸的模型。發(fā)展這些復(fù)雜的模型是另一應(yīng)用力學(xué)的研究課題。湖北納米力學(xué)測(cè)試服務(wù)