每一條發(fā)射譜線的波長都取決于躍遷前后兩個能級之間的差異。原子具有許多能級，當原子被激發(fā)時，其外層電子可以發(fā)生不同的躍遷。然而，這些躍遷必須遵循一定的規(guī)則，也就是所謂的“光譜選律”。因此，特定元素的原子可以產生一系列不同波長的特征光譜線。這些譜線按照一定的順序排列，并且它們之間保持著一定的強度比例。光譜分析的目的是通過識別這些元素的特征光譜來確定元素的存在，這被稱為定性分析。而這些光譜線的強度與試樣中該元素的含量有關，因此可以利用這些譜線的強度來測定元素的含量，這被稱為定量分析。這就是發(fā)射光譜分析的基本原理。發(fā)射光譜分析是一種重要的分析技術，它可以用于研究和鑒定不同元素的存在和含量。通過測量和分析特征光譜線，我們可以獲取關于樣品中元素的有用信息。這種分析方法在許多領域都有廣泛的應用，包括化學、物理、材料科學等。通過發(fā)射光譜分析，我們可以深入了解物質的組成和性質，為科學研究和工業(yè)應用提供有力支持。OSAOSA國網入圍商家就找成都雄博科技發(fā)展有限公司。AQ6375B光譜分析儀四川一級代理

每一條所發(fā)射的譜線的波長，取決于躍遷前后兩個能級之差。由于原子的能級很多，原子在被激發(fā)后，其外層電子可有不同的躍遷，但這些躍遷應遵循一定的規(guī)則(即“光譜選律”)，因此對特定元素的原子可產生一系列不同波長的特征光譜線，這些譜線按一定的順序排列，并保持一定的強度比例。光譜分析就是從識別這些元素的特征光譜來鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強度又與試樣中該元素的含量有關，因此又可利用這些譜線的強度來測定元素的含量(定量分析)。這就是發(fā)射光譜分析的基本依據。日本橫河OSA四川一級代理營運商使用OSA國網入圍商家就找成都雄博科技發(fā)展有限公司。

無源器件測試結合ASE、SLD以及SC等光源，光譜分析儀（OSA）可以輕松評估WDM濾波器和FBG等無源器件。AQ6370D系列光譜分析儀具備出色的光學性能，可實現更高分辨率和更大動態(tài)范圍的測量。通過內置的光濾波分析功能，該系列光譜分析儀能夠同時報告波峰/波谷波長、功率、串擾和紋波寬度等參數。無源器件測試結合ASE、SLD以及SC等光源，光譜分析儀（OSA）可以輕松評估WDM濾波器和FBG等無源器件。AQ6370D系列光譜分析儀具備出色的光學性能，可實現更高分辨率和更大動態(tài)范圍的測量。通過內置的光濾波分析功能，該系列光譜分析儀能夠同時報告波峰/波谷波長、功率、串擾和紋波寬度等參數。此外，AQ6370D系列光譜分析儀還支持多種測試模式，如單點、掃描和連續(xù)掃描模式，以滿足不同測試需求。它還具備快速測量速度和高精度的特點，可為無源器件測試提供可靠的數據支持。總之，無源器件測試結合ASE、SLD以及SC等光源，光譜分析儀（OSA）的AQ6370D系列是一款功能強大、性能優(yōu)越的設備，可廣泛應用于光通信和光電子領域。

3．根據所得光譜圖進行定性鑒定或定量分析。由于不同元素的原子結構不同，當被激發(fā)后發(fā)射光譜線的波長不盡相同，即每種元素都有其特征的波長，故根據這些元素的特征光譜就可以準確無誤的鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強度與試樣中該元素的含量有關，因此還可利用這些譜線的強度來測定元素的含量(定量分析)。3．根據所得光譜圖進行定性鑒定或定量分析。由于不同元素的原子結構不同，當被激發(fā)后發(fā)射光譜線的波長不盡相同，即每種元素都有其特征的波長，故根據這些元素的特征光譜就可以準確無誤的鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強度與試樣中該元素的含量有關，因此還可利用這些譜線的強度來測定元素的含量(定量分析)。電信使用光譜分析儀國網入圍商家就找成都雄博科技發(fā)展有限公司。

波長精度： ±0.5nm ；由于內置校準功能和波長參考源， 維護起來非常方便。動態(tài)范圍： 55dB；測量激光器(1550 nm)，大動態(tài)范圍：@ peak±2 nm；分辨率設置： 0.1 ~ 2nm；可以讓用戶根據DUT特性選擇比較好值。水平刻度也可用波長數(cm-1)；除了常用的波長(nm)和頻率(THz)外， 還可用波長數(cm-1)。波長精度： ±0.5nm ；由于內置校準功能和波長參考源， 維護起來非常方便。動態(tài)范圍： 55dB；測量激光器(1550 nm)，大動態(tài)范圍：@ peak±2 nm；分辨率設置： 0.1 ~ 2nm；可以讓用戶根據DUT特性選擇比較好值。水平刻度也可用波長數(cm-1)；除了常用的波長(nm)和頻率(THz)外， 還可用波長數(cm-1)。高速高性能光譜分析儀國網入圍商家就找成都雄博科技發(fā)展有限公司。AQ6375B光譜分析儀四川一級代理

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光譜分析儀的工作原理是利用光源輻射出的待測元素的特征光譜，通過樣品中待測元素的基態(tài)原子吸收這些光譜。通過測量發(fā)射光譜的減弱程度，可以推導出樣品中待測元素的含量。這一原理符合郎珀-比爾定律，即A=-lgI/Io=-LgT=KCL。其中，I表示透射光強度，Io表示發(fā)射光強度，T表示透射比，L表示光通過原子化器的光程。由于L是一個恒定值，所以A=KC。根據物理原理，任何元素的原子都由原子核和繞核運動的電子組成。電子按照能量的高低分層分布，形成不同的能級。因此，一個原子核可以處于多種能級狀態(tài)。能量較低的能級狀態(tài)被稱為基態(tài)能級（E0=0），而其他能級則被稱為激發(fā)態(tài)能級。激發(fā)態(tài)能級中能量較低的狀態(tài)被稱為激發(fā)態(tài)。通過光譜分析儀，我們可以研究和測量這些能級狀態(tài)，從而獲得有關元素的重要信息。AQ6375B光譜分析儀四川一級代理