在半導(dǎo)體芯片制造這一復(fù)雜且精細(xì)的領(lǐng)域，從芯片光刻、蝕刻到沉積、封裝等每一步，都對環(huán)境條件有著近乎嚴(yán)苛的要求，而精密環(huán)控柜憑借其性能成為保障生產(chǎn)的關(guān)鍵要素。芯片光刻環(huán)節(jié)，光刻機(jī)對環(huán)境穩(wěn)定性要求極高。哪怕 0.002℃的溫度波動，都可能使光刻機(jī)內(nèi)部的精密光學(xué)元件因熱脹冷縮產(chǎn)生細(xì)微形變，導(dǎo)致光路偏差，使光刻圖案精度受損。精密環(huán)控柜憑借超高精度溫度控制，將溫度波動控制在極小范圍，確保光刻機(jī)高精度運(yùn)行，讓芯片光刻圖案正常呈現(xiàn)。精密環(huán)境控制設(shè)備內(nèi)部溫度規(guī)格設(shè)定為 22.0 °C 且可靈活調(diào)節(jié)，以滿足不同控溫需求。光學(xué)顯微鏡溫濕度模擬柜

在現(xiàn)代精密制造領(lǐng)域，三坐標(biāo)測量儀是無可替代的關(guān)鍵設(shè)備，廣泛應(yīng)用于模具、汽車零部件等復(fù)雜形狀工件的精密測量工作中。它憑借高精度的測量能力，為工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量把控提供了支撐。然而，環(huán)境因素對其測量精度影響巨大。當(dāng)溫度不穩(wěn)定時(shí)，測量儀的花崗巖工作臺、坐標(biāo)軸導(dǎo)軌等關(guān)鍵部件會因熱脹冷縮產(chǎn)生熱變形。這種變形看似微小，卻足以導(dǎo)致測量空間的坐標(biāo)原點(diǎn)發(fā)生漂移，使得測量點(diǎn)的三維坐標(biāo)值出現(xiàn)不可忽視的誤差。而在濕度波動時(shí)，潮濕空氣宛如無孔不入的 “幽靈”，悄然侵蝕儀器的電子線路板。這極易造成短路、信號干擾等嚴(yán)重問題，進(jìn)而致使測量數(shù)據(jù)出現(xiàn)跳變、丟失等異常情況。此類狀況不僅嚴(yán)重影響測量的準(zhǔn)確性與連續(xù)性，還會對整個(gè)生產(chǎn)流程造成連鎖反應(yīng)，阻礙相關(guān)產(chǎn)業(yè)的高質(zhì)量發(fā)展。激光干涉儀高精度溫濕度實(shí)驗(yàn)箱設(shè)備內(nèi)部濕度穩(wěn)定性極強(qiáng)，8 小時(shí)內(nèi)可達(dá)±0.5%。

我司自主研發(fā)的高精密控溫技術(shù)，控制輸出精度達(dá) 0.1%，能精細(xì)掌控溫度變化。溫度波動控制可選 ±0.1℃、±0.05℃、±0.01℃、±0.005℃、±0.002℃等多檔，滿足嚴(yán)苛溫度需求。該系統(tǒng)潔凈度表現(xiàn)優(yōu)異，可達(dá)百級、十級、一級。關(guān)鍵區(qū)域靜態(tài)溫度穩(wěn)定性 ±5mK，內(nèi)部溫度均勻性小于 16mK/m，為芯片研發(fā)等敏感項(xiàng)目營造理想溫場，保障實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)不受溫度干擾。濕度方面，8 小時(shí)內(nèi)穩(wěn)定性可達(dá) ±0.5%；壓力穩(wěn)定性為 +/-3Pa，設(shè)備還能連續(xù)穩(wěn)定工作 144 小時(shí)，助力長時(shí)間實(shí)驗(yàn)與制造。在潔凈度上，工作區(qū)潔凈度優(yōu)于 ISO class3，既確保實(shí)驗(yàn)結(jié)果準(zhǔn)確可靠，又保障精密儀器正常工作與使用壽命，推動科研與生產(chǎn)進(jìn)步。

激光干涉儀以其納米級別的測量精度，在半導(dǎo)體制造、精密機(jī)械加工等領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。然而，它對環(huán)境變化極為敏感，溫度、濕度的微小波動以及空氣潔凈度的差異，都可能干擾激光的傳播路徑與干涉效果，致使測量結(jié)果出現(xiàn)偏差。精密環(huán)控柜的超高精度溫度控制，能將溫度波動控制在極小區(qū)間，如關(guān)鍵區(qū)域 ±2mK（靜態(tài)），同時(shí)確保濕度穩(wěn)定性可達(dá) ±0.5%@8h，并且實(shí)現(xiàn)百級以上潔凈度控制，為激光干涉儀提供穩(wěn)定、潔凈的測量環(huán)境，保障其測量精度不受外界因素干擾。光譜分析儀用于分析物質(zhì)的光譜特性，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料檢測、化學(xué)分析等領(lǐng)域。在工作時(shí)，外界環(huán)境的不穩(wěn)定可能導(dǎo)致儀器內(nèi)部光學(xué)元件的性能變化，影響光譜的采集與分析精度。精密環(huán)控柜通過調(diào)控溫濕度，避免因溫度變化使光學(xué)元件熱脹冷縮產(chǎn)生變形，以及因濕度異常造成的鏡片霉變、光路散射等問題。其穩(wěn)定的環(huán)境控制能力，保證光譜分析儀能夠準(zhǔn)確、可靠地分析物質(zhì)光譜，為科研與生產(chǎn)提供數(shù)據(jù)支持。關(guān)于防微振，除了控制風(fēng)速降低振動外，在地面增加隔振基礎(chǔ)，可有效降低外部微振動的傳遞。

電子設(shè)備制造，如智能手機(jī)、平板電腦、高性能計(jì)算機(jī)等的生產(chǎn)過程，對生產(chǎn)環(huán)境的要求日益嚴(yán)苛。精密環(huán)控柜在其中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)。以智能手機(jī)芯片的封裝環(huán)節(jié)為例，芯片封裝需要將微小的芯片與基板精確連接，并封裝在保護(hù)外殼內(nèi)。這一過程中，溫度的精確控制對芯片與基板之間的焊接質(zhì)量至關(guān)重要。溫度過高或過低都可能導(dǎo)致焊接點(diǎn)虛焊、短路等問題，影響芯片的電氣性能和可靠性。精密環(huán)控柜能夠?qū)囟炔▌涌刂圃跇O小范圍內(nèi)，保證焊接過程的穩(wěn)定性，提高芯片封裝的良品率。這時(shí)候就不得不在生產(chǎn)過程中配置環(huán)境控制設(shè)備，控制溫度波動。設(shè)備采用EC 風(fēng)機(jī)，運(yùn)行時(shí)更加靜音，高效。重慶溫濕度均勻性

電子顯微鏡觀測時(shí)，設(shè)備營造的穩(wěn)定環(huán)境，確保成像清晰，助力科研突破。光學(xué)顯微鏡溫濕度模擬柜

電子萬能試驗(yàn)機(jī)，作為材料力學(xué)性能測試設(shè)備，在金屬材料研發(fā)、塑料制品質(zhì)量檢測等眾多領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。它能夠開展材料拉伸、壓縮、彎曲等力學(xué)性能測試，為產(chǎn)品質(zhì)量把控與材料特性研究提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐。然而，環(huán)境溫濕度的波動對其影響極大。溫度波動時(shí)，試驗(yàn)機(jī)力傳感器的精度首先受到?jīng)_擊，測量的力值出現(xiàn)偏差，同時(shí)還會改變材料自身的力學(xué)性能，例如金屬在高溫下屈服強(qiáng)度降低，導(dǎo)致測試結(jié)果無法真實(shí)反映材料特性。濕度波動時(shí)，試驗(yàn)機(jī)的夾具、傳動部件極易生銹腐蝕，致使對試樣的夾持穩(wěn)定性大打折扣，加載均勻性也難以保證，進(jìn)一步降低測試精度。光學(xué)顯微鏡溫濕度模擬柜