雷達液位計故障原因和解決方法：雷達液位計測量介質(zhì)以及應用場所，隨著使用時間延長，會受到介質(zhì)影響，比如說泡沫、蒸汽、攪拌等，時間長不維護，會出現(xiàn)故障。天線染色結晶處理輕污染油罐的故障時，需要考慮天線污染和結晶的可能性。處理方法是停電之后穿戴合適的防護用品，取下雷達向下傾斜，擦去污垢或是晶體，請勿損壞天線，避免鐵器劃傷，以免損壞天線表皮。在多種液位測量儀表中的適用范圍較廣，維護起來也很方便，測量也是較為精確，若是想降低儀表故障率，需要在選型、安裝等方面要著重注意！雷達物位計具有故障自診斷功能，能夠快速定位故障原因。無錫國產(chǎn)雷達物位計原理

雷達液位計故障原因和解決方法：數(shù)據(jù)波動：主要是由于儲罐內(nèi)的攪拌裝置，會導致液面有波動?；蚴窍铝蠈е屡R時干擾回波增強，從而引起測量數(shù)據(jù)上下波動，可以使用更大規(guī)格的天線。測量值有誤差：出現(xiàn)實際液位和測量值變化一致，但數(shù)值不相等，出現(xiàn)這種情況，首先儀表本身沒有問題，從該設備原理出發(fā)，空罐高度必須準確無誤保證測量準確可靠，需要在標定前實時測量，獲取真實的數(shù)據(jù)。若是儀表接入計算機系統(tǒng)，需要檢查儀表滿量程參數(shù)和計算機數(shù)據(jù)是否一致。深圳耐腐蝕雷達物位計價格雷達物位計是一種常用的測量儀器，用于測量物料的液位或固體物位。

雷達物位計天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質(zhì)表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。即使工況比較復雜的情況下，存在虛假回波，用微處理技術和調(diào)試軟件也可以準確的分析出物位的回波。天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路，微處理器對此信號進行處理，識別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波正確的回波信號識別由智能軟件完成，精度可達到毫米級。

雷達物位計已成為物位測量儀表市場上的主流產(chǎn)品，主要分為雷達物位計和 導波雷達物位計。 1.雷達物位計 雷達物位計發(fā)射功率很低的極短的微波通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以 光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。即使存在虛假反射的時候，微處理技術和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉(zhuǎn)換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調(diào)試。在固體測量中的應用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好，料倉內(nèi)的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。 雷達物位計可以提供多種安裝方式，如側裝、頂裝等。

雷達物位計是目前物位測量儀表中的佼佼者，不管是測量液體還是固體，都不受現(xiàn)場工況的影響，該物位計配備液晶面板，可以顯示傾斜及波形。使用通用調(diào)整軟件，可在電腦上設定物位計進行調(diào)整。配線口配備旋轉(zhuǎn)機構，在狹窄的地方也可輕松設置。雷達物位計的特點是：不用接觸目標物體，傳感器不會粘附檢測物質(zhì)；即使目標物體的溫度、密度及粘性發(fā)生變化，也不易受到影響；還不易受到罐內(nèi)空氣及氣體等傳播媒體，或高溫、高壓、真空及腐蝕性條件等周圍環(huán)境因素的影響。雷達物位計的測量數(shù)據(jù)可與計算機系統(tǒng)進行集成，方便數(shù)據(jù)處理和監(jiān)控。上海防腐型雷達物位計水表

米特公司的雷達物位計具有簡單的安裝和操作步驟，方便用戶使用。無錫國產(chǎn)雷達物位計原理

一、產(chǎn)品概述雷達液位計具有低維護，高性能、高精度、高可靠性，使用壽命長等優(yōu)點。在與電容，重錘等接觸式儀表相比較，具有無可比擬的優(yōu)越性。微波信號的傳輸不受大氣的影響，所以它可以滿足工藝過程中揮發(fā)性氣體、高溫、高壓、蒸汽、真空及高粉塵等惡劣環(huán)境的要求。該產(chǎn)品適用于高溫、高壓、真空、蒸汽、高粉塵及揮發(fā)性氣體等惡劣環(huán)境，可對不同料位進行連續(xù)測量。二、產(chǎn)品原理雷達液位計是依據(jù)時域反射原理(TDR)為基礎的雷達液位計，雷達液位計的電磁脈沖以光速沿鋼纜或探棒傳播，當遇到被測介質(zhì)表面時，雷達液位計的部分脈沖被反射形成回波并沿相同路徑返回到脈沖發(fā)射裝置，發(fā)射裝置與被測介質(zhì)表面的距離同脈沖在其間的傳播時間成正比，經(jīng)計算得出液位高度，其原理圖如下。無錫國產(chǎn)雷達物位計原理