介紹貼片電容的常用規(guī)格：(0402，0603，0805，1206)貼片電容等，一系列的貼片電容的命名規(guī)則與選型知識。常見的貼片電容規(guī)格封裝尺寸有：0201，0402，0603，0805，1206，它的容量范圍一般在0.5pF~1uF。1210，1812，1825，2225則是大規(guī)格貼片電容，容量范圍在1uF~100uF。0402貼片電容屬于小尺寸，隨著往后發(fā)展，是一大趨勢，而0603、0805、1206貼片電容，是目前市面經(jīng)常使用的型號。平尚科技給大家介紹下貼片電容的型號識別和命名：1、通用型貼片電容包括四個常用的封裝：0402、0603、0805、1206。2、介質(zhì)種類：貼片電容的介質(zhì)實際上對應著該電容的工作溫度。介質(zhì)不同工作溫度不同。平尚科技通用型貼片電容介質(zhì)有NPO、X7R、Y5V、X5R等。3、標稱容量代號：101：標稱阻值為100pf，4、電容值誤差精度代號：F(±1%)、G(±2%)、H(±3%)、J(±5%)、K(±10%)等。5、額定工作電壓：500表示50V;501表示500V，6R3表示6.3V;6、端頭電極種類：通用型貼片電容一般都是采用N正確選擇貼片電容時,除了要提供其規(guī)格尺寸及容量大小外，還必須注意電路對貼片電容的溫度系數(shù)、額定電壓等參數(shù)的要求。太誘貼片電容現(xiàn)貨商。16V貼片電容2.2UF

由于C0G、X7R、X7T、X7S、X8L、X8G、X8M、X9M、U2J、X5R的介質(zhì)的介電常數(shù)是依次減少的，所以，同樣的尺寸和耐壓下，能夠做出來的最大容量也是依次減少的。有的沒經(jīng)驗的工程師，以為想要什么容量都有，經(jīng)常會出現(xiàn)一些工廠根本沒有的參數(shù)。比如想用1206/X5R/25V/100UF的電容，但是1206/X5R/100UF的MLCC一般只做到10V。另外，對于入門不久的設計工程師，對元件規(guī)格的數(shù)序（E12、E24等）沒概念，會給出0.5uF之類的不存在的規(guī)格出來。即使是有經(jīng)驗的工程師，對于規(guī)格的壓縮也沒概念。比如說，在濾波電路上，原來有人用到了4.7uF的電容，他的電路也能用4.7uF的電容，但他有可能偏偏選了一個沒人用過的5.6uF或3.3uF的電容規(guī)格。一般說MLCC貼片電容的ESL（等效串聯(lián)電感）、ESR（等效串聯(lián)電阻）小，是相對于電解電容（包括鉭電解電容）而言的。事實上，高頻時，MLCC貼片電容的ESL、ESR不可以忽略。一般C0G電容的諧振點能達上百MHz，一般X7R電容的諧振點能達幾十MHz，而Y5V電容的諧振點**是數(shù)MHz甚至不到1MHz。諧振點意味著，超過了這個頻率，電容已經(jīng)不是電容特性了，而是電感特性了。如果想使MLCC用于更高頻率。太誘0603貼片電容特性太誘0.1UF貼片電容現(xiàn)貨。

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貼片電容什么情況下會出現(xiàn)，在我們已知的情況下出現(xiàn)有幾十種原因，但是**多的是由電容器內(nèi)部元件擊穿、電容器外殼絕緣的損壞、密封不良和漏油、鼓肚和內(nèi)部游離、帶電荷合閘引起電容器等，這些原因大部分都是來自產(chǎn)品本身出廠時或多或少存在的不良。下面我們來看看具體的因素。貼片電容的可能原因如下：(1)電容器內(nèi)部元件擊穿：主要是由于制造工藝不良引起的。(2)電容器外殼絕緣的損壞。電容器高壓側引出線由薄鋼片制成，如果制造工藝不良.邊緣不平有毛刺或嚴重彎折，其前列容易產(chǎn)生電暈，電暈會使油分解、箱殼膨脹、油面下降而造成擊穿。另外，在封蓋時，轉角處如果燒焊時間過長，將內(nèi)部絕緣燒傷并產(chǎn)生油污和氣體，使電壓**下降而損壞。(3)密封不良和漏油：由于裝配套管密封不良，潮氣進入內(nèi)部，使絕緣電阻降低;或因漏油使油面下降，導致極對殼方向放電或元件擊穿。(4)鼓肚和內(nèi)部游離：由于內(nèi)部產(chǎn)生電暈、擊穿放電和嚴重游離，電容器在過電壓的作用下，使元件起始游離電壓降低到工作電場強度之下，由此引起物理、化學、電氣效應，使絕緣加速老化、分解，產(chǎn)生氣體，形成惡性循環(huán)，使箱殼壓力增大，造成箱壁外鼓以至。(5)帶電荷合閘引起電容器。yageo貼片電容渠道商。

很多客戶買了貼片電容回去測試，發(fā)現(xiàn)村田貼片電容的電容偏低。下面我們來分析一下為什么貼片電容的電容偏低？造成芯片電容低的因素有哪些？一起來分析一下。1、測試環(huán)境不同所獲得結果也不同較小的電容要考慮測試條件對貼片電容電容值的影響。對于不同電容值的貼片電容，測量電容值需要不同的測試條件，主要是測試電壓和測試頻率的設置。貼片電容不同電容值的測試條件為：電容交流電壓頻率容量＞10uF1.0±0.2Vrms120Hz1000pF＜容量≤10uF1.0±0.2Vrms1KHz容量≤1000pF1.0±0.2Vrms1MHz2、測量儀器的差異對測量結果的影響根據(jù)多年的經(jīng)驗的工程師解釋：實際施壓不能達到實驗條件所要求的的電壓時。由于儀器內(nèi)部阻抗的分壓，使電容器兩端施加的測試電壓與實際顯示的設定電壓不一致。為了盡量減少測量結果的誤差，建議對儀器進行調(diào)整，盡量將儀器的設定電壓調(diào)整到電容兩端實際測得的電壓，使待測電容上的實際電壓輸出一致.3、影響貼片電容電容值低測量的因素（1）測試儀器內(nèi)部阻抗的影響由于各儀器之間的內(nèi)部阻抗不同，儀器總電壓致使施加在測試電容器上的實際電壓更小。在實際測量中，需要講萬用表等工具測試兩端扥電壓，以確定施加在貼片電容兩端的輸出電壓。taiyo太誘22UF貼片電容現(xiàn)貨?，F(xiàn)貨貼片電容0201

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 很多客戶買了貼片電容回去測試，發(fā)現(xiàn)村田貼片電容的電容偏低。下面我們來分析一下為什么貼片電容的電容偏低？造成芯片電容低的因素有哪些？一起來分析一下。4、測量環(huán)境不同所得結果也不同：如，40°C的測試容量將比25°C的測試容量低近20％。可以看出，當外界環(huán)境溫度比較高時，電容值的測試值會顯得偏低。一般將其放置在20°C的環(huán)境中一段時間使材料處于穩(wěn)定的測試環(huán)境中進行電容測試。5、貼片陶瓷電容產(chǎn)品材料老化現(xiàn)象材料老化是指電容器的電容值隨著時間的推移而減小的現(xiàn)象，這種現(xiàn)象發(fā)生在所有使用鐵電材料作為介電材料的材料產(chǎn)品中。自然無法避免的現(xiàn)象。原因是內(nèi)部晶體結構隨著溫度和時間的變化而變化，導致電容降低，這是一種可逆現(xiàn)象。當老化材料應用一段時間高于材料的居里溫度時（電容恢復的推薦條件為150°C/1小時），當環(huán)境溫度恢復到恒溫時室內(nèi)24小時溫度25℃分子結構才會恢復到笨的狀態(tài)。材料將因此開始另一個老化循環(huán)，芯片電容器的電容將恢復到正常規(guī)格范圍內(nèi)。16V貼片電容2.2UF

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