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常州測(cè)試MICROVU影像測(cè)量?jī)x用途

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-05-18

避免光學(xué)零件表面污損、金屬零件生銹、塵埃雜物落入運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌,影響儀器性能。2、儀器使用完畢,工作面應(yīng)隨時(shí)擦干凈,再罩上防塵套。3、儀器的傳動(dòng)機(jī)構(gòu)及運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌應(yīng)定期上潤(rùn)滑油,使機(jī)構(gòu)運(yùn)動(dòng)順暢,保持良好的使用狀態(tài)。4、工作臺(tái)玻璃及油漆表面臟了,可以用中性清潔劑與清水擦干凈。絕不能用有機(jī)溶劑擦拭油漆表面,否則,會(huì)使油漆表面失去光澤。5、儀器LED光源使用壽命很長(zhǎng),但當(dāng)有燈泡燒壞時(shí),請(qǐng)通知廠商,由專業(yè)人員為您更換。6、儀器精密部件,如影像系統(tǒng)、工作臺(tái)、光學(xué)尺以及Z軸傳動(dòng)機(jī)構(gòu)等均需精密調(diào)校,所有調(diào)節(jié)螺絲與緊固螺絲均已固定,客戶請(qǐng)勿自行拆卸,如有問題請(qǐng)通知廠商解決。7、軟件已對(duì)工作臺(tái)與光學(xué)尺的誤差進(jìn)行了精確補(bǔ)償,請(qǐng)勿自行更改。否則,會(huì)產(chǎn)生錯(cuò)誤的測(cè)量結(jié)果。8、儀器所有電氣接插件、一般不要拔下,如已拔掉,則必須按標(biāo)記正確插回并擰緊螺絲。不正確的接插、輕則影響儀器功能,重則可能損壞系統(tǒng)。MICROVU影像測(cè)量?jī)x ,就選蘇州科貿(mào)時(shí)貿(mào)易有限公司,有想法的可以來電咨詢!常州測(cè)試MICROVU影像測(cè)量?jī)x用途

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我司致力于研發(fā)生產(chǎn)精密測(cè)量設(shè)備和精密智能裝備。為國內(nèi)制造業(yè)及院校、研究所提供測(cè)量技術(shù)及智能裝備。公司秉著“立足于高科技,服務(wù)于企業(yè)”的宗旨,為客戶提供“專業(yè)、及時(shí)、高效、”的服務(wù)。著力于高科技智能裝備及精密測(cè)量?jī)x器設(shè)備,加大科技研發(fā),提高產(chǎn)品性能,加大新產(chǎn)品,新項(xiàng)目投入.MICROVU歷經(jīng)十多年的發(fā)展,INSPEC測(cè)量軟件涵蓋先進(jìn)的燈光校準(zhǔn),工作臺(tái)控制和視野中間定位**提高了操作過程的效率。INSPEC整合工作臺(tái),機(jī)電系統(tǒng),圖像系統(tǒng)和照明系統(tǒng),使得設(shè)備能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的測(cè)量結(jié)果。零件編程檢測(cè)變得簡(jiǎn)單,還可實(shí)現(xiàn)幾何公差校驗(yàn),測(cè)量數(shù)據(jù)采集并輸出定制化測(cè)量報(bào)告。INSPEC提供先進(jìn)的對(duì)焦和邊緣檢測(cè)算法,性能***,具有亞像素精度和重復(fù)性。INSPEC測(cè)量軟件比較大限度地提高生產(chǎn)效率并簡(jiǎn)化了培訓(xùn)流程。簡(jiǎn)潔的用戶界面布局包括:測(cè)量程序分步顯示,測(cè)量數(shù)據(jù),視頻圖像和程序結(jié)構(gòu)原理圖。在滿足功能需求的前提下,極大地簡(jiǎn)化了操作步驟,簡(jiǎn)單易上手。軟件更新終生**,無需維護(hù)費(fèi)用。揚(yáng)州哪里有MICROVU影像測(cè)量?jī)x安裝蘇州科貿(mào)時(shí)貿(mào)易有限公司為您提供MICROVU影像測(cè)量?jī)x ,歡迎您的來電!

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   VF7是由美國Micro-Vu**新研制的全自動(dòng)的數(shù)字化影像測(cè)量?jī)x,集結(jié)了影像測(cè)量?jī)x的高性能,高精度和高速度,操作簡(jiǎn)單。創(chuàng)新的系統(tǒng),并使用強(qiáng)大的InSpec測(cè)量軟件,確保用**便捷的方式獲取所需的所有尺寸的信息,并保證精度。一鍵即可完成所需的所有測(cè)量,包括距離、半徑、直徑、角度、真直度、真圓度,直接在機(jī)器面板上即時(shí)回饋測(cè)量結(jié)果是否合格,對(duì)生產(chǎn)工件進(jìn)行精確而客觀的質(zhì)量檢測(cè)。與Micro-Vu的影像測(cè)量?jī)x采用相同的InSpec測(cè)量軟件,結(jié)合直覺窗口和下拉式菜單,人性化操作,用戶接口功能強(qiáng)大,采用先進(jìn)的點(diǎn)選模式即可建立測(cè)量程序,操作人員或程序編輯人員在短時(shí)間內(nèi)即可學(xué)會(huì)。VF7所使用的InSpec界面中,增加了影像窗口縮略圖,可滾動(dòng)縮放窗口,方便取點(diǎn),OK/NG視窗直接對(duì)測(cè)量工作作出是否通過檢測(cè)的判斷,直觀明了

影像測(cè)量?jī)x工作原理經(jīng)由光學(xué)變焦鏡頭組系統(tǒng)放大,并使用高分辨率的攝影機(jī)得到影像畫面,使用InSpec測(cè)量軟件,對(duì)影像像素進(jìn)行分析,獲取影像畫面中單個(gè)或多個(gè)幾何元素,并根據(jù)像素計(jì)算幾何元素本身的形狀以及位置。通過馬達(dá)和光學(xué)尺控制機(jī)臺(tái)移動(dòng),得到不同位置的影像畫面進(jìn)行組合分析,可獲得多個(gè)元素間的相對(duì)位置系,并可通過拼接不同位置的影像,獲得被測(cè)量工件的整體二維影像圖輸出。以二維的影像測(cè)量為主,也可以結(jié)合接觸式探針系統(tǒng),測(cè)量工件側(cè)面的孔洞或是溝槽等,或是結(jié)合旋轉(zhuǎn)夾頭測(cè)量系統(tǒng),以旋轉(zhuǎn)的方式測(cè)量軸件,或是結(jié)合激光測(cè)量系統(tǒng),執(zhí)行高度測(cè)量、快速對(duì)焦以及工件平面度的測(cè)量。Micro-Vu影像測(cè)量?jī)x可以對(duì)各種復(fù)雜的工件輪廓和表面形狀進(jìn)行精密測(cè)量,廣泛應(yīng)用于光電與太陽能、手機(jī)、筆電、電腦及周邊、攝像頭模組、顯示器與觸控面板、橡塑膠、PCB&FPC、醫(yī)療、半導(dǎo)體、航空航天、機(jī)車/汽車、精密模具、沖壓、自動(dòng)化及周邊等行業(yè)零配件的檢測(cè)。蘇州科貿(mào)時(shí)貿(mào)易有限公司為您提供MICROVU影像測(cè)量?jī)x ,有需要可以聯(lián)系我司哦!

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icro-Vu于1959年在美國加州成立,60余年來Micro-Vu的影像測(cè)量?jī)x在國際市場(chǎng)廣受好評(píng),是全球占有率很高的高精度影像自動(dòng)測(cè)量?jī)x。優(yōu)越的性能、精度、速度、標(biāo)準(zhǔn)化生產(chǎn),具有同級(jí)別產(chǎn)品價(jià)格優(yōu)勢(shì)及同類產(chǎn)品性價(jià)比。全球超過40,000萬臺(tái)的銷售成績(jī)。其產(chǎn)品適用于光電與太陽能、手機(jī)、筆電,電腦及周邊、CCD攝像頭模組、顯示屏與觸控面板、橡塑膠、PCB&FPC、醫(yī)療、半導(dǎo)體、航空航天、汽車/機(jī)車、精密模具、沖壓、自動(dòng)化及周邊等所有要求精密之各個(gè)行業(yè),所有產(chǎn)品符合ISO/IECANSI/NCSLMIL-STD等標(biāo)準(zhǔn),并提供追溯及再校驗(yàn)之認(rèn)證。全自動(dòng)系列小行程-Vertex系列中行程-Excel500/700系列大行程-Excel1050及以上系列小行程-Vertex系列測(cè)量行程(XY):250x160mm測(cè)量高度(Z):160mm適用于航空航天,MICROVU影像測(cè)量?jī)x蘇州科貿(mào)時(shí)貿(mào)易有限公司 服務(wù)值得放心。常州測(cè)試MICROVU影像測(cè)量?jī)x用途

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影像測(cè)量?jī)x精度的因素主要有精度指示、結(jié)構(gòu)原理、測(cè)量方法、日常不注意維護(hù)等。中國1994年實(shí)行了國際《坐標(biāo)測(cè)量的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢測(cè)量》的實(shí)施。具體內(nèi)容如下:第1部分:測(cè)量線性尺寸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī);第2部分:配置轉(zhuǎn)臺(tái)軸線為第四軸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī);第3部分:掃描測(cè)量型坐標(biāo)測(cè)量機(jī);第4部分:多探針探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī);第5部分:計(jì)算高斯輔助要素的誤差評(píng)定。在測(cè)量空間的任意7種不同的方位,測(cè)量一組5種尺寸的量塊,每種量塊長(zhǎng)度分別測(cè)量3次所有測(cè)量結(jié)果必須在規(guī)定的MPEE值范圍內(nèi)。比較大允許探測(cè)誤差(MPEP):25點(diǎn)測(cè)量精密標(biāo)準(zhǔn)球,探測(cè)點(diǎn)分布均勻。比較大允許探測(cè)誤差MPEP值為所有測(cè)量半徑的比較大值。常州測(cè)試MICROVU影像測(cè)量?jī)x用途