半導(dǎo)體測試是半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)，其測試設(shè)備包括測試機(jī)、分選機(jī)、探針臺(tái)。其中，測試機(jī)是檢測芯片功能和性能的專業(yè)設(shè)備，分選機(jī)和探針臺(tái)是將芯片的引腳與測試機(jī)的功能模塊連接起來的專業(yè)設(shè)備，與測試機(jī)共同實(shí)現(xiàn)批量自動(dòng)化測試。受益于國內(nèi)封裝測試業(yè)產(chǎn)能擴(kuò)張，半導(dǎo)體測試設(shè)備市場快速發(fā)展。作為半導(dǎo)體封測行業(yè)三大設(shè)備之一，探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)的晶圓、芯片等器件的測試，研發(fā)難度大，國產(chǎn)化率低，進(jìn)口依賴度高，它的品質(zhì)和精度直接決定測試可靠性與否。上海勤確科技有限公司管理嚴(yán)格，服務(wù)超值。上海測試芯片探針臺(tái)生產(chǎn)廠家

探針臺(tái)是用于檢測每片晶圓上各個(gè)芯片電信號(hào)，保證半導(dǎo)體產(chǎn)品品質(zhì)的重要檢測設(shè)備。因?yàn)槲覀冃枰榔骷嬲男阅?，而不是封裝以后的，雖然可以去嵌，但還是會(huì)引入一些誤差和不確定性。因?yàn)槲覀冃枰_定哪些芯片是好的芯片來降低封裝的成本并提高產(chǎn)量。因?yàn)橛袝r(shí)我們需要進(jìn)行自動(dòng)化測試，在片進(jìn)行自動(dòng)化測試成本效益高而且更快。一個(gè)典型的在片測試系統(tǒng)，主要包括：矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，線纜，探針，探針定位器，探針臺(tái)，校準(zhǔn)設(shè)備及軟件，電源偏置等。上海測試芯片探針臺(tái)生產(chǎn)廠家上海勤確科技有限公司以滿足客戶要求為重點(diǎn)。

盡管半導(dǎo)體測試探針國產(chǎn)化迫在眉睫，但從技術(shù)的角度來看，要想替代進(jìn)口產(chǎn)品卻并不容易。業(yè)內(nèi)人士指出，國內(nèi)半導(dǎo)體測試探針還只能用于要求不高的測試需求，比如可靠性測試國產(chǎn)探針可以替代很多，但功能性測試和性能測試還有待突破。彈簧測試探針主要的技術(shù)是精微加工和組裝能力，涉及精微加工設(shè)備、經(jīng)驗(yàn)、工藝能力缺一不可。值得注意的是，由于半導(dǎo)體測試探針市場一直被國外廠商占據(jù)，同時(shí)也實(shí)施了技術(shù)封鎖，國內(nèi)并沒有相應(yīng)的技術(shù)人才，包括生產(chǎn)人員和設(shè)計(jì)人員都缺乏。國內(nèi)大部分測試探針廠商基本不具備全自動(dòng)化生產(chǎn)制造能力。

探針臺(tái)概要：晶圓探針臺(tái)是在半導(dǎo)體開發(fā)和制造過程中用于晶片電氣檢查的設(shè)備。在電氣檢查中，通過探針或探針卡向晶片上的各個(gè)設(shè)備提供來自測量儀器或測試器的測試信號(hào)，并返回來自設(shè)備的響應(yīng)信號(hào)。在這種情況下，晶片探測器用于輸送晶片并接觸設(shè)備上的預(yù)定位置。探針臺(tái)是檢測芯片的重要設(shè)備，在芯片的設(shè)計(jì)驗(yàn)證階段，主要工作是檢測芯片設(shè)計(jì)的功能是否能夠達(dá)到芯片的技術(shù)指標(biāo)，在檢測過程中會(huì)對芯片樣品逐一檢查，只有通過設(shè)計(jì)驗(yàn)證的產(chǎn)品型號(hào)才會(huì)量產(chǎn)。晶圓測試一般在晶圓廠、封測廠或?qū)ｉT的測試代工廠進(jìn)行，主要用到的設(shè)備為測試機(jī)和探針臺(tái)。上海勤確科技有限公司以完善的服務(wù)和改變?yōu)橹辽献非蟆?/p>

晶圓級半自動(dòng)面內(nèi)磁場探針臺(tái)詳細(xì)參數(shù)：垂直或面內(nèi)磁場探針臺(tái)，通用性設(shè)計(jì)；容納12寸晶圓，且向下兼容8寸、6寸、碎片；兼容4組探針（RF或DC測試）；提供Z軸探針平臺(tái)快速升降功能，實(shí)現(xiàn)高效測試；磁場強(qiáng)度≥330mT;直流探針（4組）或微波探針（4組）；XY電控行程±150mm，調(diào)節(jié)精度2μm；T軸手動(dòng)調(diào)節(jié)±5°，小至調(diào)節(jié)精度5’。晶圓級半自動(dòng)二維磁場探針臺(tái)：詳細(xì)參數(shù)可對晶圓施加垂直或面內(nèi)磁場，兼容性設(shè)計(jì)；容納12寸晶圓，且向下兼容8寸、6寸、碎片；兼容4組探針（RF或DC測試）；提供Z軸探針平臺(tái)快速升降功能，實(shí)現(xiàn)高效測試；磁場強(qiáng)度≥0.7T；直流探針（4組）或微波探針（4組）；XY電控行程±150mm，調(diào)節(jié)精度2μm；T軸手動(dòng)調(diào)節(jié)±5°，小到調(diào)節(jié)精度5’。上海勤確科技有限公司專業(yè)的一站式多方位貼心服務(wù)。云南磁場探針臺(tái)哪里有

隨著全球半導(dǎo)體行業(yè)市場規(guī)模不斷擴(kuò)大，半導(dǎo)體設(shè)備市場也呈增長趨勢。上海測試芯片探針臺(tái)生產(chǎn)廠家

半自動(dòng)型：chuck尺寸800mm/600mm；X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程200mm/150mm；chuck粗調(diào)升降9mm，微調(diào)升降16mm；可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡；針座擺放個(gè)數(shù)6～8顆；顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2"x2"x2"；可搭配Probecard測試；適用領(lǐng)域：8寸/6寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品。電動(dòng)型：chuck尺寸1200mm，平坦度土1u（不銹鋼或鍍金）；X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程300mmx300mm；chuck粗調(diào)升降9mm，微調(diào)升降16mm，微調(diào)精度土1u；可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡；針座擺放個(gè)數(shù)8～12顆；顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2“x2”x2“；材質(zhì)：花崗巖臺(tái)面+不銹鋼；可搭配Probecard測試；適用領(lǐng)域：12寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品。上海測試芯片探針臺(tái)生產(chǎn)廠家