探針臺的日常維護:無論是全自動探針測試臺還是自動探針測試臺,向工作臺都是其主要的部分。有數(shù)據(jù)表明探針測試臺的故障中有半數(shù)以上是工作臺的故障,而工作臺故障有許多是對其維護保養(yǎng)不當或盲目調(diào)整造成的,所以對工作臺的維護與保養(yǎng)就顯得尤為重要。平面電機由定子和動子組成,它和傳統(tǒng)的步進電機相比其特殊性就是將定子展開,定子是基礎平臺,動子和定子間有一層氣墊,動子浮于氣墊上,而可編程承片臺則安裝在動子之上。這種結構的工作臺,由于動子和定子間無相對摩擦故無磨損,使用壽命長。探針卡常見故障分析及維護方法:芯片測試是IC制造業(yè)里不可缺少的一個重要環(huán)節(jié)。遼寧芯片探針臺供應商
頂端壓力主要由探針臺的驅(qū)動器件控制,額外的Z運動(垂直行程)會令其直線上升。此外,探針材質(zhì)、探針直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時起重要的作用。解釋了觸點壓力和接觸電阻的關系。從本質(zhì)上來說,隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點氧化物和污染物的表層,接觸電阻減小而電流流動迅速開始。隨著探針接觸到焊點金屬的亞表層,這些效應將增加。盡管隨著探針壓力的增強,接觸電阻逐漸降低,終它會達到兩金屬的標稱接觸電阻值。遼寧芯片探針臺供應商探針臺可編程承片臺則安裝在動子之上。
探針臺的使用:1、將樣品載入真空卡盤,開啟真空閥門控制開關,使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。2、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺,在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移動至顯微鏡下。4、顯微鏡切換為高倍率物鏡,在大倍率下找到待測點,再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品,將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測點在顯微鏡視場中心。待測點位置確認好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊,再使用探針座-Z三個微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測點,此時動作要小心且緩慢,以防動作過大誤傷芯片,當探針針尖懸空于被測點上空時,可先用Y軸旋鈕將探針退后少許,再使用Z軸旋鈕進行下針,后則使用X軸旋鈕左右滑動,觀察是否有少許劃痕,證明是否已經(jīng)接觸。
探針臺市場逐年增長:半導體測試對于良率和品質(zhì)控制至關重要,是必不可少的環(huán)節(jié),主要涉及兩種測試(CP 測試、FT 測試等)、三種設備(探針臺、測試機、分選機等)。根據(jù)半導體產(chǎn)線投資配置規(guī)律,測試設備在半導體設備投資的占比約為8%,次于晶圓制造裝備,其中測試機、分選機、探針臺的占比分別為63.10%、17.40%、15.20%。中國半導體市場飛速增長。在全球貿(mào)易摩擦背景下,半導體行業(yè)國產(chǎn)化率提高成為必然趨勢,國內(nèi)半導體產(chǎn)業(yè)的投資規(guī)模持續(xù)擴大。一般,信號路徑電阻被用來替代接觸電阻,而且它在眾多情況下更加相關。
在實際使用中,探針的接觸電阻在很大程度上取決于焊點的材料、清洗的次數(shù)、以及探針的狀況,而且它同標稱值相差較多。其中鎢錸合金(97%-3%)的接觸電阻比鎢稍高,抗疲勞性相似。但是,由于鎢錸合金的晶格結構比鎢更加緊密,其探針頂端的平面更加光滑。因此,這些探針頂端被污染的可能性更小,更容易清潔,其接觸電阻也比鎢更加穩(wěn)定。所以鎢錸合金是一種更佳的選擇。但是,接觸電阻是信號路徑電阻的重要組成部分。即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。我們通過探針卡把測試儀和被測芯片連接起來。遼寧芯片探針臺供應商
圓片移動到下一個芯片的位置,這種方法可以讓圓片上的每一個芯片都經(jīng)過測試。遼寧芯片探針臺供應商
晶圓探針測試臺是半導體工藝線上的中間測試設備,與測試儀連接后,能自動完成對集成電路及各種晶體管芯電參數(shù)和功能的測試。隨著對高性能、多功能、高速度、低功耗、小型化、低價格的電子產(chǎn)品的需求日益增長,這就要求在一個芯片中集成更多的功能并進一步縮小尺寸,從而大片徑和高效率測試將是今后晶圓探針測試臺發(fā)展的主要方向。因此,傳統(tǒng)的手動探針測試臺和半自動探針測試臺已經(jīng)不能滿足要求,取而代之的是高速度,高精度,高自動化,高可靠性的全自動晶圓探針測試臺。遼寧芯片探針臺供應商