BR125低溫黑體輻射源/黑體爐溫度范圍寬廣，由-25～125℃內(nèi)任意一溫度點皆可隨需要調整。穩(wěn)定、重復的校正面板讓使用者能快速而準確地校正及測試紅外線高溫計(紅外測溫儀)。黑體開孔直徑Φ50mm的面積，適用大部份的紅外線高溫計(紅外測溫儀)。系統(tǒng)另有RS-232或485的計算機通訊接口方便計算機控制設定溫度及自動測試。功能特點：●溫度范圍：-25～125℃●采用自動升溫控溫方式、安全可靠、溫度穩(wěn)定性好、使用操作方便●使用雙排數(shù)字顯示測量值及設定值●緊湊而堅固的設計、集校準與測試的完美結合靶面式黑體爐的有效輻射面更大，但是散熱較快，不適宜和環(huán)境溫度相差較大。上海國產(chǎn)黑體爐凱爾文

黑體輻射源的發(fā)展歷史:早期的黑體輻射源，結構簡單，腔體材料多應用碳硅化物、陶瓷或石墨，采用恒溫油槽或非均勻布置的加熱絲來取得均勻溫場，為取得較好的黑體輻射特性，開口孔徑都比較小。比較典型的有1960年由Bed-ford設計的工作于200℃的黑體爐，恒溫油均溫，光闌朝下，探測器可見內(nèi)表面溫差小于0.01℃，εn=0.998±0.001;1966年，由Clark和Moore設計的工作于1100～1325℃的黑體爐，加熱絲非均勻布置，空腔內(nèi)表面覆蓋鎳氧化層（Ni2O3）腔體式黑體爐質保腔體式黑體爐的有效輻射面較小，且隱藏在體腔內(nèi)，更容易控制溫度。

由于是針對目標響應值相對大小關系的校正，這就使得一點校正法可以在目標響應值與校正測量值相近時的任何情況下都能較好地成像。例如，一種很常見的實現(xiàn)方式是在環(huán)境溫度、FPA溫度變化后，通過實時動態(tài)調節(jié)積分時間、全局偏置等參數(shù)，讓目標響應值回到與校正測量時相近的范圍內(nèi)，則成像一般不成問題，但這樣處理后將導致測溫算法復雜化甚至根本無法實現(xiàn)測溫功能。各廠家在一點校正法的工藝實現(xiàn)中，還有個普遍的謬誤：用高、低溫黑體爐作校正測量，但在應用中卻是用的檔片機構此時檔片起到的是參考黑體的作用。如果用外檔片則還與校正測量的情況比較接近，但內(nèi)檔片差得就很離譜了。

    隨著科學技術的發(fā)展，黑體的用途已經(jīng)不局限于在溫度計量方面的應用。在光學方面，已經(jīng)普遍采用黑體作為標準輻射源和標準背景光源。在測量領域里，黑體已經(jīng)用于測量材料的光譜發(fā)射、吸收和反射特性。在高能物理的研究中，黑體已經(jīng)用作為產(chǎn)生中子源。不同的用途對黑體的要求是不一樣的。在溫度計量領域，主要是利用黑體輻射和溫度的對應關系，因此要求黑體的發(fā)射率越高越好。要求黑體的輻射能量按照光譜分布(也就是黑體光譜輻射能量、也稱為單色能量)都能符合普朗克定律，這樣我們在檢定或校準輻射溫度計時，以黑體的溫度(或標準輻射溫度計)的示值，來修正輻射溫度計的偏差。因此在選擇黑體時通常是選擇發(fā)射率較高的腔式黑體，同時也要注意黑體腔口直徑，溫度均勻性和輻射溫度不確定度。 黑體爐使用操作簡單，不僅適合用于實驗室的校準，也可用于現(xiàn)場的校準工作。

激光能量法具有幾下特點：a)激光輻射源本身的溫度可以很低，避免了現(xiàn)有黑體輻射源因本體材料的耐熱性導致的溫度上限不能超過3200℃的情況，因此溫度上限可以很高。由于采用激光器代替了黑體爐作為輻射源，其輸出的能量完全可以滿足輻射溫度計對高溫校準的要求。b)使用方便。從鍵盤輸入輻射溫度計光學系統(tǒng)的通光孔徑r，輻射溫度計與被測目標的距離R為1000mm時，目標能夠輻射到輻射溫度計面積S，光學系統(tǒng)光譜范圍的上、下限波長λ1，λ2和溫度值T0i后，激光輻射源即可直接輸出對應于溫度T0i的輻射能量φ0λ1，λ2(T0i)。c)激光能量法屬于***法校準，不需要標準溫度計。同時，也不同于一般的***法校準，不需要定義固定點和內(nèi)插方程。采用標準激光功率計作為標準器，通過激光輻射源的輸出能量來獲得對應于熱力學溫度T0的輻射能量φ0λ1，λ2(T0i)。標準激光功率計對激光輻射源的輸出能量進行測量，并進行自校準。因此不能籠統(tǒng)地以某一個黑體爐有效發(fā)射率值來評價腔體的好壞。國產(chǎn)黑體爐直銷價

腔體式黑體爐發(fā)射率至少可以做到0.99以上，市場上一些**黑體設備標稱可以做到0.999。上海國產(chǎn)黑體爐凱爾文

    黑體的主要功能是產(chǎn)生一定溫度下的標準輻射。因此在溫度計量中主要用于檢定各種輻射溫度計，如光學高溫計、紅外溫度計、紅外熱像儀等。隨著科學技術的發(fā)展，黑體的用途已經(jīng)不局限于在溫度計量方面的應用。在光學方面，已經(jīng)普遍采用黑體作為標準輻射源和標準背景光源。在測量領域里，黑體已經(jīng)用于測量材料的光譜發(fā)射、吸收和反射特性。在高能物理的研究中，黑體已經(jīng)用作為產(chǎn)生中子源。不同的用途對黑體的要求是不一樣的。在溫度計量領域，主要是利用黑體輻射和溫度的對應關系，因此要求黑體的發(fā)射率越高越好。要求黑體的輻射能量按照光譜分布（也就是黑體光譜輻射能量、也稱為單色能量）都能符合普朗克定律，這樣我們在檢定或校準輻射溫度計時，以黑體的溫度（或標準輻射溫度計）的示值，來修正輻射溫度計的偏差。因此在選擇黑體時通常是選擇發(fā)射率較高的腔式黑體，同時也要注意黑體腔口直徑，溫度均勻性和輻射溫度不確定度。在光學應用中，通常要求輻射源的輻射面積較大，但是溫度不高，只關注輻射面的溫度均勻性而不一定關注輻射能量與溫度對應的準確性，因此選擇面源黑體較多。 上海國產(chǎn)黑體爐凱爾文