關(guān)于測板的話較常見的就是其他測試機，用于樣品板的檢測；測試架則是用于批量性的PCB板檢測；還有離子污染測試，用于檢查電路板表面的離子數(shù)量，確定線路板的清潔度是否合格；關(guān)于阻焊工藝測試方面的話是阻焊膜的耐化學(xué)性試驗和阻焊層的硬度測試，用來檢查阻焊膜的耐化學(xué)性和阻焊膜的硬度大小等等；關(guān)于線路方面的測試，剝線強度試驗，用于檢查可以剝?nèi)ル娐钒迳香~線的力；還有可焊性測試、耐壓測試、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度試驗、熱膨脹系數(shù)（CTE）試驗等等。PCB可靠性測試系統(tǒng)對定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗收。紹興電子可靠性試驗中心生產(chǎn)廠家

線路板可靠性測試?yán)錈釠_擊:把樣品放入溫度為60℃的恒溫箱中保持1小時,然后讓其有5分鐘內(nèi)溫度降低到-30℃的恒溫箱中保持1小時,然后讓其在1分鐘內(nèi)溫度升到60℃保持1小時,接著又改變其溫度到30℃如此共20個循環(huán)樣品在高溫60℃下取出,然后在常溫下恢復(fù)2小時的檢測。要求:不得有破損、開裂、脫層、變色、過孔開路、變形(要符合過波峰后變形判定要求)等現(xiàn)象(過孔處借助顯微鏡看),不符合要求。具體測試方法不能一概而論，而是參照相應(yīng)的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，采用合理的儀器和方法，由合格上崗的實驗人員實施測試。汕頭電子元件測試系統(tǒng)廠家推薦PCB可靠性測試系統(tǒng)在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷。

以前，通常采用直流雙臂 電橋測量斷路器的接觸電阻。但是，當(dāng)使用雙臂電橋進(jìn)行斷路器導(dǎo)電回路電阻的測量時，由于雙臂電橋測量回路通過的是微弱的電流，難以消除電阻較大的氧化膜， 測出的電阻示值偏大，但氧化膜在大的電流下很容易被擊穿，不妨礙正常電流通過。因此，測試采用直流壓降法測試時，電流不得太小。高壓斷路器導(dǎo)電 回路的電阻主要取決于斷路器的動、靜觸頭間的接觸電阻。接觸電阻的存在，增加了導(dǎo)體在通電時的損耗，使接觸處的溫度升高，其值的大小直接影響正常工作時的 載流能力，在一定程度上影響短路電流的切斷能力。因此，斷路器每相導(dǎo)電回路電阻值是斷路器安裝、檢修、質(zhì)量驗收的一項重要數(shù)據(jù)。

線路板可靠性測試一般而言，熱測試主要是為了驗證產(chǎn)品的熱設(shè)計是否滿足產(chǎn)品的工作溫度范圍規(guī)格，是實驗室基準(zhǔn)測試，這意味著為了保證測試結(jié)果的一致性，必然對測試環(huán)境進(jìn)行嚴(yán)格要求，比如要求被測設(shè)備在一定范圍內(nèi)無熱源和強制風(fēng)冷設(shè)備運行、表面不能覆蓋任何異物。但實際上很多產(chǎn)品的工作環(huán)境跟上述測試環(huán)境是有差異的：有些產(chǎn)品使用時可能放在桌子上，也可能掛在墻上，而這些設(shè)備基本上靠自然散熱，安裝方法不同會直接影響到設(shè)備的熱對流，進(jìn)而影響到設(shè)備內(nèi)部的溫度分布。因此，測試此類設(shè)備時必須考慮不同的安裝位置，在實驗室條件把設(shè)備擺放在桌子熱測試通過，并不表示設(shè)備掛在墻上熱測試也能通過。PCB可靠性測試系統(tǒng)產(chǎn)品的功能千差萬別，應(yīng)用場合可能是各種各樣的。

線路板可靠性測試印刷線路板的功能測試PCB、更高的總線速度以及模擬RF電路等等對測試都提出了前所未有的挑戰(zhàn)，這種環(huán)境下的功能測試需要認(rèn)真的設(shè)計、深思熟慮的測試方法和適當(dāng)?shù)墓ぞ卟拍芴峁┛尚诺臏y試結(jié)果。由于圖形具有重復(fù)性（再現(xiàn)性）和一致性，減少了布線和裝配的差錯，節(jié)省了設(shè)備的維修、調(diào)試和檢查時間；設(shè)計上可以標(biāo)準(zhǔn)化，利于互換；布線密度高，體積小，重量輕，利于電子設(shè)備的小型化；利于機械化、自動化生產(chǎn)，提高了勞動生產(chǎn)率并降低了電子設(shè)備的造價。印制板的制造方法可分為減去法（減成法）和添加法（加成法）兩個大類。目前，大規(guī)模工業(yè)生產(chǎn)還是以減去法中的腐蝕銅箔法為主?！【€路板可靠性測試印刷線路板的功能測試PCB。紹興電子可靠性試驗中心生產(chǎn)廠家

PCB可靠性測試系統(tǒng)布線密度高，體積小，重量輕。紹興電子可靠性試驗中心生產(chǎn)廠家

線路板的使用環(huán)境日益嚴(yán)酷。從實驗室到野外，從熱帶到寒帶，從陸地到深海，從高空到宇宙空間，經(jīng)受著不同的環(huán)境條件，除溫度、濕度影響外，海水、鹽霧、沖擊、振動、宇宙粒子、各種輻射等對電子元器件的影響，導(dǎo)致產(chǎn)品失效的可能性增大。電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。從首先一代電子管產(chǎn)品進(jìn)入第二代晶體管，現(xiàn)已從小、中規(guī)模集成電路進(jìn)入到大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，電子產(chǎn)品正朝小型化、微型化方向發(fā)展，其結(jié)果導(dǎo)致裝置密度的不斷增加，從而使內(nèi)部溫升增高，散熱條件惡化。而電子元器件將隨環(huán)境溫度的增高，降低其可靠性，因而元器件的可靠性引起人們的極大重視。紹興電子可靠性試驗中心生產(chǎn)廠家

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