機(jī)械沖擊：確定光電子器件是否能適用在需經(jīng)受中等嚴(yán)酷程度沖擊的電子設(shè)備中。沖擊可能是裝卸、運(yùn)輸或現(xiàn)場使用過程中突然受力或劇烈振動所產(chǎn)生的。變頻振動：確定在規(guī)范頻率范圍內(nèi)振動對光電子器件各部件的影響。熱沖擊：確定光電子器件在遭受到溫度劇變時的抵抗能力和產(chǎn)生的作用。耐久性：確定光電子器件光纖連接器的插入和拔出，光功率、損耗和反射等參數(shù)是否滿足重復(fù)性要求。存儲試驗：確定光電子器件能否經(jīng)受高溫和低溫下運(yùn)輸和儲存。溫度循環(huán)：確定光電子器件承受終點高溫度和終點低溫度的能力，以及終點高溫度和終點低溫度交替變化對光電子器件的影響。PCB可靠性測試系統(tǒng)使得測試電流與測試出的電壓相互不產(chǎn)生影響。廣西本地PCB可靠性測試系統(tǒng)PCB絕緣劣化測試

物理特性測試項目：內(nèi)部水汽：確定在金屬或陶瓷封裝的光電子器件內(nèi)部氣體中水汽含量。密封性：確定具有內(nèi)空腔的光電子器件封裝的氣密性?？扇夹裕捍_定光電子器件所使用材料的可燃性。剪切力：確定光電子器件的芯片和無源器件安裝在管座或其他基片上使用材料和工藝的完整性。可焊性：確定需要焊的光電子器件引線(直徑小于30175mm的引線，以及截面積相當(dāng)?shù)谋馄揭€)的可焊性。ESD闊值：確定光電子器件受靜電放電作用所造成損傷和退化的靈敏度和感應(yīng)性。引線鍵合強(qiáng)度：確定光電子器件采用低溫焊、熱壓焊、超聲焊等技術(shù)的引線鍵合強(qiáng)度。直銷PCB可靠性測試系統(tǒng)質(zhì)量PCB可靠性測試系統(tǒng)的使用環(huán)境日益嚴(yán)酷。

功能測試功能測試是較早的自動測試原理，它是特定PCB或特定單元的基本測試方法，可用各種測試設(shè)備來完成。功能測試主要有較終產(chǎn)品測試（FinalProductTest）和較新實體模型（HotMock-up）兩種。其他測試機(jī)也稱為探針測試機(jī)，也是一種常用的測試方法。由于在機(jī)械精度、速度和可靠性方面的進(jìn)步，它在過去幾年中已經(jīng)受到了普遍歡迎。此外，現(xiàn)在對于原型（Prototype）制造、低產(chǎn)量制造所需要的具有快速轉(zhuǎn)換、無夾具能力的測試系統(tǒng)的要求，使得其他測試成為較佳選擇。其他測試機(jī)的主要優(yōu)點是，它是較快速的到達(dá)市場時間（TimeToMarket）的工具，自動生成測試，無夾具成本，良好的診斷和易于編程。

在做測試設(shè)計時，需要跳出傳統(tǒng)測試規(guī)格和測試標(biāo)準(zhǔn)的限制，以產(chǎn)品應(yīng)用的角度進(jìn)行測試設(shè)計，保證產(chǎn)品的典型應(yīng)用組合、滿配置組合或者極端測試組合下的每一個硬件特性、硬件功能都充分暴露在各種測試應(yīng)力下，這個環(huán)節(jié)的測試保證了，產(chǎn)品的可靠性才得到保證。熱測試通過使用多通道點溫計測量產(chǎn)品內(nèi)部關(guān)鍵點或關(guān)鍵器件的溫度分布狀況，測試結(jié)果是計算器件壽命(如E-Cap)、以及產(chǎn)品可靠性指標(biāo)預(yù)測的輸入條件，它是產(chǎn)品開發(fā)過程中的一個重要的可靠性活動。PCB可靠性測試系統(tǒng)反映了產(chǎn)品質(zhì)量好壞的一個方面。

線路板可靠性測試PCBA加工絕不是在SMT加工的基礎(chǔ)上增加材料采購的組合。任何材料故障都會影響PCBA板的整體效果，這就要求我們具備足夠的材料檢測能力，供應(yīng)商管理能力，技術(shù)分析能力和可靠性測試能力。 可靠性測試經(jīng)常被PCBA加工商所忽略，他們經(jīng)常相信只要對PCBA板進(jìn)行了無問題的測試，較終用戶就會接受它。但是，許多PCBA板都有致命的缺陷，例如使用壽命短和終端產(chǎn)品使用不穩(wěn)定，這是由于PCBA工廠無法嚴(yán)格執(zhí)行可靠性測試而導(dǎo)致的。PCB可靠性測試系統(tǒng)包括固有可靠性和使用可靠性兩個方面。廣西品質(zhì)PCB可靠性測試系統(tǒng)離子遷移測試

PCB可靠性測試系統(tǒng)測試儀器在觀察結(jié)果的同時，反復(fù)插入啞元數(shù)據(jù)。廣西本地PCB可靠性測試系統(tǒng)PCB絕緣劣化測試

以前，通常采用直流雙臂 電橋測量斷路器的接觸電阻。但是，當(dāng)使用雙臂電橋進(jìn)行斷路器導(dǎo)電回路電阻的測量時，由于雙臂電橋測量回路通過的是微弱的電流，難以消除電阻較大的氧化膜， 測出的電阻示值偏大，但氧化膜在大的電流下很容易被擊穿，不妨礙正常電流通過。因此，測試采用直流壓降法測試時，電流不得太小。高壓斷路器導(dǎo)電 回路的電阻主要取決于斷路器的動、靜觸頭間的接觸電阻。接觸電阻的存在，增加了導(dǎo)體在通電時的損耗，使接觸處的溫度升高，其值的大小直接影響正常工作時的 載流能力，在一定程度上影響短路電流的切斷能力。因此，斷路器每相導(dǎo)電回路電阻值是斷路器安裝、檢修、質(zhì)量驗收的一項重要數(shù)據(jù)。廣西本地PCB可靠性測試系統(tǒng)PCB絕緣劣化測試

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