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來源: 發(fā)布時間:2023-03-13

助焊劑等級分類所有的測試完成后,編輯L、M和H的測試數據,所有測試數據的比較高值決定助焊劑的等級。例如,一款助焊劑的活性等級要定為L,就需要五項測試中每個結果都是L_才可以。每個測試從不同的角度來量化電遷移的傾向性。ECM和SIR測試**接近組裝產品在使用壽命時間里**容易產生電化學遷移的情況。它們都是在更高的溫濕度下進行加速測試,并且發(fā)展成為表明可靠性的一種標準。當前SIR測試方法擅長用標準化的方式測試電化學遷移的傾向性。這種測試更接近真實失效機理。由于監(jiān)測頻率的關系,這種測試能夠捕捉到絕緣電阻的波動。這種波動可能表示枝晶形成然后又溶解了。這就可以不依賴于災難性故障來指示潛在的問題。SIR表面絕緣電阻測試的目的之一:基于可靠性的產品標定。貴州直銷電阻測試前景

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可靠性試驗中,有一項,叫做高加速應力試驗(簡稱HAST),主要是在測試IC封裝體對溫濕度的抵抗能力,藉以確保產品可靠性。這項試驗方式是需透過外接電源供應器,將DC電壓源送入高壓鍋爐機臺設備內,再連接到待測IC插座(Socket)與測試版(HASTboard),進行待測IC的測試。然而這項試驗,看似簡單,但在宜特20多年的可靠性驗證經驗中,卻發(fā)現客戶都會遇到一些難題需要克服。特別是芯片應用日益復雜,精密度不斷提升,芯片采取如球柵數組封裝(Ball Grid Array,簡稱BGA)和芯片尺寸構裝(Chip Scale package,簡稱CSP)封裝比例越來越高,且錫球間距也越來越小,在執(zhí)行HAST時,非常容易有電化學遷移(簡稱ECM)現象的產生,造成芯片于可靠性實驗過程中發(fā)生電源短路異常。陜西多功能電阻測試有哪些采用新的外觀設計理念!

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廣州維柯信息技術有限公司成立于2006年,是一家專業(yè)致力于檢測檢驗實驗室行業(yè)產品技術開發(fā)生產、集成銷售為一體的技術型公司。

1、**通道高精度微電流測試。2、**通道測試電流電阻,電阻超大量程測量范圍在10的4次方到10的14次方。3、實現多通道電流同時采集,實時監(jiān)控測試樣品離子和材料絕緣劣化過程。4、板卡式結構,靈活配置系統(tǒng)通道,1個板卡16通道,單系統(tǒng)可擴展256通道。5、每個板卡一個**測試電源,可適應多批量測試條件。6、測試電壓可以擴展使用外接電壓,最大電壓可高達2000V。7、測試電壓可在1.0-500V(2000V)之間以0.1V步進任意可調。

隨著電子產品向小型化/集成化的發(fā)展,線路和層間間距越來越小,電遷移問題也日益受到關注。一旦發(fā)生電遷移會造成電子產品絕緣性能下降,甚至短路。電遷移失效同常規(guī)的過應力失效不同,它的發(fā)生需要一個時間累積,失效通常會發(fā)生在**終客戶的使用過程中,可能在使用幾個月后,也可能在幾年后,往往會造成經濟上的重大損失。但是,電遷移的發(fā)生不僅同離子有關,它需要離子,電壓差,導體,傳輸通道,濕氣以及溫度等各種因素綜合作用,在長期累積下產生的失效。所以,通過在樣品上施加各類綜合應力來評估產品后期使用的電遷移風險就顯得異常重要。多通道導通電阻實時監(jiān)控測試系統(tǒng),可監(jiān)測溫度范圍:-70℃-200℃,精度± 1℃。

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什么是PCB/PCBA絕緣失效?PCB/PCBA絕緣失效是指電介質在電壓作用下會產生能量損耗,這種損耗很大時,原先的電能轉化為熱能,使電介質溫度升高,絕緣老化,甚至使電介質熔化、燒焦,終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標,電介質即絕緣材料,是電氣設備、裝置中用來隔離存在不同點位的導體的物質,通過各類導體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。PCB/PCBA絕緣失效的表征電介質長期受到點場、熱能、機械應力等的破壞。在電場的作用下,電介質會發(fā)生極化、電導、耗損和擊穿等現象,這些現象的相關物理參數可以用相對介電系數、電導率、介質損耗因數、擊穿電壓來表征。相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現象(類似錫須,容易造成短路),這種現象稱為離子遷移。陜西多功能電阻測試有哪些

系統(tǒng)測試可在IPC標準規(guī)定的環(huán)境條件下對試驗樣品進行高效、準確的絕緣電阻測試和漏電流監(jiān)測!貴州直銷電阻測試前景

表面絕緣電阻(SIR)IPC-TM-650方法定義了在高濕度環(huán)境下表面絕緣電阻的測試條件。SIR測試在40°C和相對濕度為90%的箱體里進行。樣板的制備和ECM測試一樣,都是依據方法制備(如圖1)。***版本的測試要求規(guī)定每20分鐘要檢查一次樣板。在七天的測試中,不同模塊之間的表面絕緣電阻值衰減必須少于10Ohms,但是要排除**開始24小時的穩(wěn)定時間。電壓是恒定不變的。這和ECM測試在很多方面不一樣。兩者的不同點是:持續(xù)時間、測試箱體條件和頻繁測量數據的目的。樣板同樣需要目測檢查枝晶生長是否超過間距的20%和是否有任何腐蝕引起的變色問題。貴州直銷電阻測試前景

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