表面絕緣電阻測試(SIR測試)根據IPC的定義,表面絕緣電阻(SIR)是在特定環(huán)境和電氣條件下確定的一對觸點、導體或接地設備之間的絕緣材料的電阻。在印刷電路板(PCB)和印刷電路組件(PCA)領域,SIR測試——通常也稱為溫濕度偏差(THB)測試——用于評估產品或工藝的抗“通過電流泄漏或電氣短路(即樹枝狀生長)導致故障”。SIR測試通常在升高的溫度和濕度條件下在制定 SIR 測試策略時,選擇用于測試的產品或過程將有助于確定**合適的 SIR 測試方法以及**適用的測試工具。一般而言,SIR 測試通常用于對助焊劑和/或清潔工藝進行分類、鑒定或比較。對于后者,SIR 測試通常用于評估一個人的“免清洗”焊接操作。執(zhí)行,例如85°C/85%RH和40°C/90%,并定期獲得絕緣電阻(IR)測量值。操作方便:充分考慮實驗室應用場景,方便工程師實施工作。廣東多功能電阻測試系統(tǒng)
隨著電子產品的高密度化及電子制造的無鉛化,PCB及PCBA產品的技術水平、質量要求也面臨嚴峻的挑戰(zhàn),PCB的設計與生產加工及組裝過程中需要更嚴格的工藝與原材料的控制。目前由于尚處于技術和工藝的轉型期,客戶對PCB制程及組裝的認識尚有較大差異,于是類似漏電、開路(線路、孔)、焊接不良、爆板分層之類的失效常常發(fā)生,常引起供應商與用戶間的質量責任糾紛,為此導致了嚴重的經濟損失。通過對PCB及PCBA的失效現(xiàn)象進行失效分析,通過一系列分析驗證,找出失效原因,挖掘失效機理,對提高產品質量,改進生產工藝,仲裁失效事故有重要意義。廣東多功能電阻測試系統(tǒng)多通道導通電阻實時監(jiān)控測試系統(tǒng),可監(jiān)測溫度范圍:-70℃-200℃,精度± 1℃。
剖面結構觀察通過SEM觀察失效電阻鑲樣的橫截面,如圖4所示。由圖4可發(fā)現(xiàn):電阻一端外電極有一個明顯的腐蝕凹坑,這是由電化學反中陽極溶解所產生的,腐蝕形態(tài)主要為點蝕。根據文獻[5]報道,在電解液中存在Cl-的電化學過程中,陽極表面的鈍化膜易溶解于含Cl-的溶液中,或Cl-直接滲透陽極表面的鈍化膜,造成鈍化膜開裂或形成微孔誘發(fā)局部腐蝕,**終形成點蝕坑的腐蝕形貌。電化學遷移失效復現(xiàn)根據失效分析,得出離子、潮氣及電場為失效的敏感因子,故設計故障復現(xiàn)試驗。將樣品分為兩組,1000h潮熱加電實驗。
避免氯離子、溴離子、硝酸根及硫酸根等離子殘留,這些離子的殘留能加速陽極金屬的溶解或者引發(fā)電解質的形成。在實際生產中,要進行適當?shù)暮负笄逑?,避免與金屬離子電化學遷移相關的助焊劑成分、清洗工藝等引入的臟污和離子等有害物質的殘留。通過改變焊料合金的組分來提升自身的耐腐蝕性,如合金化Cu、Cr等耐腐蝕性元素;或使陽極表面形成一層致密的鈍化膜,從而降低電化學遷移過程中陽極的溶解速率,但是可能會導致生產時回流焊參數(shù)變化等事項,需要對生產工藝進行重新評估。廣州維柯GWHR-256 產品優(yōu)勢:、接口友好:軟件可定制,或開放數(shù)據接口,或接入實驗室 LIMS 系統(tǒng)!
陽極溶解過程從材料熱力學觀點看,通過金屬材料的標準電極電位可以判斷其腐蝕的傾向,常見的電子金屬材料發(fā)生電化學遷移的優(yōu)先順序為:Ag>Mo>Pb>Sn>Cu>Zn[8]。因此,當電阻貼裝的焊料為Sn-Pb合金時,在電化學遷移過程中,Pb比Sn更容易發(fā)生電化學遷移。在電化學遷移過程中,在陽極區(qū)主要發(fā)生電極溶解生成金屬離子的反應,同時伴有少量氧氣和氯氣的生成,反應方程式如下:Pb→Pb2++2e-Sn→Sn2++2e-Sn2+→Sn4++2e-2H2O→4H++O2+4e-2Cl-→Cl2+2e-從上述反應過程可知,通過抑制陽極溶解可以改善電化學遷移的敏感性。首先陽極溶解必須在電解液中發(fā)生,因此避免工作面潮濕顯的尤為重要,而此產品的灌封膠工藝存在缺陷,給潮濕水汽的進入留有空間,提供了電化學遷移的通道,構成了電化學遷移的必要條件之一。SIR測試目的更改清潔材料或工藝。廣東多功能電阻測試系統(tǒng)
印刷電路板的電極之間會出現(xiàn)離子轉移,出現(xiàn)絕緣劣化的現(xiàn)象。通常發(fā)生在PCB基板中。廣東多功能電阻測試系統(tǒng)
什么是PCB/PCBA絕緣失效?PCB/PCBA絕緣失效是指電介質在電壓作用下會產生能量損耗,這種損耗很大時,原先的電能轉化為熱能,使電介質溫度升高,絕緣老化,甚至使電介質熔化、燒焦,終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標,電介質即絕緣材料,是電氣設備、裝置中用來隔離存在不同點位的導體的物質,通過各類導體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。PCB/PCBA絕緣失效的表征電介質長期受到點場、熱能、機械應力等的破壞。在電場的作用下,電介質會發(fā)生極化、電導、耗損和擊穿等現(xiàn)象,這些現(xiàn)象的相關物理參數(shù)可以用相對介電系數(shù)、電導率、介質損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。廣東多功能電阻測試系統(tǒng)
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