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浙江sir電阻測試有哪些

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-05-22

當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時(shí),在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(dòng)(陰極向陽極轉(zhuǎn)移),相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象(類似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時(shí),表面絕緣電阻(SIR)測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。測試方法通常是認(rèn)證助焊劑在裸銅板上的表現(xiàn),但是NiAu和HASL工藝的殘留物對PCB表面的漏電有一定影響。HASL工藝使用的助焊劑中的乙二醇會(huì)被環(huán)氧基板編織布所吸收,增強(qiáng)基板的吸水性。己經(jīng)有一些案例說明NiAu的金屬層會(huì)增電化學(xué)遷移的趨勢。表面涂層的影響取決于表面涂層所用的助焊劑和化學(xué)劑。表面絕緣阻抗(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCBA的表面清潔度(包括加工、制造過程的殘留)。浙江sir電阻測試有哪些

電阻測試

在電路與組裝材料發(fā)生的反應(yīng)過程中,隨著時(shí)間的推移而逐漸形成這種失效。當(dāng)金屬纖維絲在線路板表面以下生長時(shí),稱為導(dǎo)電陽極絲或CAF,本文中不會(huì)討論這種情況,但這也是一個(gè)熱門話題。當(dāng)電化學(xué)遷移發(fā)生在線路板的表面時(shí),它會(huì)導(dǎo)致線路之間的金屬枝晶狀生長,比較好使用表面絕緣電阻(SIR)進(jìn)行測試??煽康碾娮咏M裝產(chǎn)品必須能在不同的環(huán)境中經(jīng)受住各種影響因素的考驗(yàn),例如:熱、機(jī)械、化學(xué)、電等因素。測試每一種考驗(yàn)因素對系統(tǒng)的影響,通常以加速老化的方式來測試。這也就是說,測試環(huán)境比起正常老化的環(huán)境是要極端得多的。此文中的研究對象主要是各種測試電化學(xué)可靠性的方法。IPC將電化學(xué)遷移定義為:在直流偏壓的影響下,印刷線路板上的導(dǎo)電金屬纖維絲的生長。這種生長可能發(fā)生在外部表面、內(nèi)部界面或穿過大多數(shù)復(fù)合材料本體。增長的金屬纖維絲是含有金屬離子的溶液經(jīng)過電沉積形成的。電沉積過程是從陽極溶解電離子,由電場運(yùn)輸重新沉積在陰極上。湖南pcb絕緣電阻測試批量定制離子遷移的表現(xiàn)可以通過表面絕緣電阻(SIR)測試電阻值顯現(xiàn)出來。

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PCB/PCBA絕緣失效的表征電介質(zhì)長期受到點(diǎn)場、熱能、機(jī)械應(yīng)力等的破壞。在電場的作用下,電介質(zhì)會(huì)發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象,這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。什么是PCB/PCBA絕緣失效?PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會(huì)產(chǎn)生能量損耗,這種損耗很大時(shí),原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能,使電介質(zhì)溫度升高,絕緣老化,甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦,終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標(biāo),電介質(zhì)即絕緣材料,是電氣設(shè)備、裝置中用來隔離存在不同點(diǎn)位的導(dǎo)體的物質(zhì),通過各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。

廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR-CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)——GWHR256-500,可在設(shè)定的環(huán)境參數(shù)下進(jìn)行長時(shí)間的測試樣品,觀察并記錄被測樣品阻抗變化狀況。系統(tǒng)可通過曲線、表格的形式對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控,測試數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)和管理,客戶根據(jù)需要可導(dǎo)出為Excel表格式,對測試樣品進(jìn)行分析。***用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑,封裝樹脂微間距圖形、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評估,以及焊錫膏、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評估。通道數(shù)16-256/128/64/32(通道可選),測試組數(shù)1-16組(組數(shù)可選)測試時(shí)間1-9999小時(shí)(可設(shè)置)偏置電壓1-500VDC(0.1V步進(jìn))測試電壓1-500VDC(0.1V步進(jìn))偏置電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV(5-500VDC)測試電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV(5-500VDC)電阻測量范圍1x106-1x1014Ω電阻測量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%。測試控制軟件管理模塊:用戶管理、工況管理、配置管理、設(shè)備管理。

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電子元器件篩選的目的:剔除早期失效產(chǎn)品。提高產(chǎn)品批次使用的可靠性。元器件篩選的特點(diǎn):篩選試驗(yàn)為非破壞性試驗(yàn)。不改變元器件固有失效機(jī)理和固有可靠性。對批次產(chǎn)品進(jìn)行*篩選。篩選等級由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定。電子元器件篩選常規(guī)測試項(xiàng)目:檢查篩選:顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、 X射線非破壞性檢查。密封性篩選:液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示 蹤檢漏、濕度試驗(yàn)、顆粒碰撞噪聲檢測。環(huán)境應(yīng)?篩選:高低溫貯存、高溫反偏、振動(dòng)、沖擊、離?加速度、溫度沖擊、綜合應(yīng)?、動(dòng)態(tài)老煉。 電子元器件篩選覆蓋范圍:半導(dǎo)體集成電路:時(shí)基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動(dòng)器、電平轉(zhuǎn)換器、門器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運(yùn)算放大器、電壓調(diào)整器、電壓比較器、電源類芯片(穩(wěn)壓器、開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等)、致模轉(zhuǎn)換器(A/D、D/A、SRD)、存儲(chǔ)器、可編程邏輯器件、單片機(jī)、微處理器、控制器等;選擇智能電阻時(shí),用戶需要根據(jù)具體需求考慮精度、穩(wěn)定性、接口等因素,以便選擇適合的智能電阻產(chǎn)品。浙江sir電阻測試有哪些

智能電阻能夠提供更加便捷和精確的電阻測試。浙江sir電阻測試有哪些

隨著電子設(shè)備的小型化、集成度提高,對材料的絕緣性能要求也日益嚴(yán)格。廣州維柯信息技術(shù)有限公司走在科技前沿,通過不斷的技術(shù)創(chuàng)新,推出了SIR表面絕緣電阻測試系統(tǒng),為材料科學(xué)和電氣工程領(lǐng)域帶來了一場技術(shù)分享。該系統(tǒng)采用了準(zhǔn)確的傳感器技術(shù)和數(shù)據(jù)分析算法,能夠深入分析材料表面絕緣性能的細(xì)微變化,為科研工作者提供了寶貴的數(shù)據(jù)支持,促進(jìn)了新材料的研發(fā)和應(yīng)用。同時(shí),廣州維柯還注重用戶體驗(yàn),系統(tǒng)設(shè)計(jì)兼顧了易用性和精確性,即便是復(fù)雜測試也能輕松完成,有效縮短了產(chǎn)品從研發(fā)到市場的周期。浙江sir電阻測試有哪些