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湖北SIR和CAF電阻測試

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-06-10

《GWHR256:打造綠色PCBA生產(chǎn)的守護(hù)神》環(huán)保與可持續(xù)性是當(dāng)今電子制造業(yè)不可忽視的趨勢。GWHR256系統(tǒng)在確保PCBA清潔度的同時(shí),也助力企業(yè)向綠色生產(chǎn)轉(zhuǎn)型。通過對清洗工藝的精細(xì)優(yōu)化,減少清洗劑的過度使用,避免了資源浪費(fèi)和環(huán)境污染。系統(tǒng)支持的水基清洗劑監(jiān)測,更是推動(dòng)了環(huán)保型清洗工藝的應(yīng)用,體現(xiàn)了對環(huán)境負(fù)責(zé)的企業(yè)責(zé)任?!揪G色理念,智能決策】通過實(shí)時(shí)監(jiān)測與數(shù)據(jù)分析,企業(yè)能更好地理解不同清洗劑對PCBA清潔度的影響,選擇低環(huán)境影響的清洗方案。GWHR256系統(tǒng)在提升PCBA品質(zhì)的同時(shí),也為企業(yè)的綠色生產(chǎn)戰(zhàn)略提供了科學(xué)依據(jù),是推動(dòng)行業(yè)向更加可持續(xù)方向發(fā)展的強(qiáng)大推手。在這個(gè)數(shù)字化、綠色化并行的時(shí)代,GWHR256系統(tǒng)無疑是PCBA生產(chǎn)線上不可或缺的智能伙伴,為品質(zhì)與環(huán)保雙重目標(biāo)的達(dá)成提供了強(qiáng)有力的支持。錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會(huì)影響電子零件電氣特性的物質(zhì)。湖北SIR和CAF電阻測試

電阻測試

使用類似SIR測試模塊的68針LCC。這種設(shè)計(jì)有足夠的熱量,允許一個(gè)范圍內(nèi)的回流曲線。元件的高度和底部端子**了一個(gè)典型的組裝案例,其中助焊劑殘留物和其他污染物可以被截留在元件底部。在局部萃取過程中,噴嘴比組件小得多,且能滿足組件與板的高度差。局部萃取法會(huì)把板子表面所有殘留離子都溶解。電路板上離子材料的常見來源是多種多樣的,包括電路板制造和電鍍殘留物、人機(jī)交互殘留物、助焊劑殘留物等。這包括有意添加的化學(xué)物質(zhì)和無意的污染??紤]到這一點(diǎn),每當(dāng)遇到不可接受的結(jié)果時(shí),這種方法就被用來調(diào)查在過程和材料清單中發(fā)生了什么變化。在流程開發(fā)過程中,應(yīng)該定義一個(gè)“正?!钡慕Y(jié)果范圍,但是當(dāng)結(jié)果超出預(yù)期范圍時(shí),可能會(huì)有許多潛在的原因。海南表面絕緣SIR電阻測試市場電阻測試設(shè)備操作手冊應(yīng)包含基本信息、使用方法、故障排除指南等內(nèi)容。

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J-STD-004B要求使用65°C,相對濕度為88.5%的箱體,并且按照方法來制備測試樣板。表面絕緣電阻要穩(wěn)定96小時(shí)以后進(jìn)行測試。然后施加低電壓進(jìn)行500小時(shí)的測試。測試結(jié)束時(shí),在相同的電壓下再次測試表面絕緣電阻。除了滿足絕緣電阻值少于10倍的衰減之外,還需要觀察樣板是否有晶枝生長和腐蝕現(xiàn)象。這個(gè)測試結(jié)果可以定義助焊劑等級(jí)是L、M還是H,電化學(xué)遷移(ECM)IPC-TM-650方法用來評(píng)估表面電化學(xué)遷移的傾向性。助焊劑會(huì)涂敷在下圖1所示的標(biāo)準(zhǔn)測試板上。標(biāo)準(zhǔn)測試板是交錯(cuò)梳狀設(shè)計(jì),并模擬微電子學(xué)**小電氣間隙要求。然后按照助焊劑不同類型的要求進(jìn)行加熱。為了能通過測試,高活性的助焊劑在測試前需要被清洗掉。清洗不要在密閉的空間進(jìn)行。隨后帶有助焊劑殘留的樣板放置在潮濕的箱體內(nèi),以促進(jìn)梳狀線路之間枝晶的生長。分別測試實(shí)驗(yàn)開始和結(jié)束時(shí)的不同模塊線路的絕緣電阻值。第二次和***次測量值衰減低于10倍時(shí),測試結(jié)果視為通過。也就是說,通常測試阻值為10XΩ,X值必須保持不變。這個(gè)方法概括了幾種不同的助焊劑和工藝測試條件。

在七天的測試中,不同模塊之間的表面絕緣電阻值衰減必須少于10Ohms,但是要排除**開始24小時(shí)的穩(wěn)定時(shí)間。電壓是恒定不變的。這和ECM測試在很多方面不一樣。兩者的不同點(diǎn)是:持續(xù)時(shí)間、測試箱體條件和頻繁測量數(shù)據(jù)的目的。樣板同樣需要目測檢查枝晶生長是否超過間距的20%和是否有任何腐蝕引起的變色問題。表面絕緣電阻(SIR)IPC-TM-650方法定義了在高濕度環(huán)境下表面絕緣電阻的測試條件。SIR測試在40°C和相對濕度為90%的箱體里進(jìn)行。樣板的制備和ECM測試一樣,都是依據(jù)方法制備(如圖1)。***版本的測試要求規(guī)定每20分鐘要檢查一次樣板。系統(tǒng)可通過曲線、表格的形式對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控,測試數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)和管理。

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在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(dòng)(陰極向陽極轉(zhuǎn)移),相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象(類似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時(shí),表面絕緣電阻(SIR)測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。表面絕緣電阻(SIR)測試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓,經(jīng)過長時(shí)間的試驗(yàn),觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻(SIR)測試可以用來評(píng)估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問題,也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會(huì)影響電子零件電氣特性的物質(zhì),通過表面絕緣電阻(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時(shí),智能電阻具有更加便捷的操作和數(shù)據(jù)處理能力。江西表面絕緣電阻測試方法

很多用戶在使用電阻測試設(shè)備過程中會(huì)遇到各種問題。湖北SIR和CAF電阻測試

在精密電子制造業(yè)的舞臺(tái)上,每一塊PCBA(印刷電路板組裝)的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展,PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升,如何有效控制生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的污染物,確保電路板的長期可靠性,成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測系統(tǒng),正是這一挑戰(zhàn)的解決方案?!旧疃榷床?,精確監(jiān)測】廣州維柯多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測系統(tǒng) GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn),專為PCBA的可靠性評(píng)估而設(shè)計(jì),它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控SIR(表面絕緣電阻)和CAF(導(dǎo)電陽極絲)的變化,精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象。湖北SIR和CAF電阻測試