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廣西sir電阻測試前景

來源: 發(fā)布時間:2024-06-19

半導體分立器件∶二極管、三極管、場效應管、達林頓陣列、半導體光電子器件等;被動元件:電阻器;電容器;磁珠;電感器;變壓器;晶體振蕩器;晶體諧報器;繼電器;電連接器;開關及面板元件;電源模塊:濾波器、電源模塊、高壓隔離運放、DC/DC、DC/AC;功率器件:功率器件、大功率器件;連接器:圓形連接器、矩形,印刷版插座等。元器件篩選覆蓋標準:GJB7243-2011軍電子元器件篩選技術要求;GJB128A-97半導體分立器件試驗方法;GJB360A-96電子及電?元件試驗方法;GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序;GJB40247A-2006軍電子元器件破壞性物理分析方法;QJ10003—2008進?元器件篩選指南;MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法;MIL-STD-883G;,由于起火事故往往破壞了PCB的原始狀態(tài),所以有的即便是離子遷移故障也無法加以確定。廣西sir電阻測試前景

電阻測試

電阻值的測定時間可設定范圍是:CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測定時間范圍1-600分鐘可設置,單次取值電阻測定電壓穩(wěn)定時間范圍1-600秒可設置,完成多次取值電阻測定時間1-9999小時可設置。電阻測試范圍1x104-1x1014Ω,電阻測量精度:1x104-1x1010Ω≤±2%,1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%,廣州維柯信息技術有限公司多通道SIR/CAF實時監(jiān)控測試系統(tǒng)測量電流的設定:使用低阻SIR系統(tǒng)測樣品導通性時可以設置測量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測樣品電阻時測量電流是不用設置,需設置測量電壓,因為儀器恒壓工作測量漏電流,用歐姆定理計算電阻值。江西pcb離子遷移絕緣電阻測試歡迎選購除了基本的電阻測試功能外,智能電阻還可以提供其他附加功能。

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無論使用何種助焊劑,總會在焊接后的PCB及焊點上留下或多或少的殘留物,這些殘留物不僅影響PCBA的外觀,更可怕的是構成了對PCB可靠性的潛在威脅;特別是電子產品長時間在高溫潮濕條件下工作時,殘留物便可能導致線路絕緣老化以及腐蝕等問題,進而出現(xiàn)絕緣電阻(SIR)下降及電化學遷移(ECM)的發(fā)生。隨著電子行業(yè)無鉛化要求的***實施,相伴錫膏而生的助焊劑也走過了松香(樹脂)助焊劑、水溶性助焊劑到******使用的免洗助焊劑的發(fā)展歷程,然而其殘留物的影響始終是大家尤為關心的方面[1]-[4]。

絕緣不良是電氣設備失效和安全事故的常見原因。廣州維柯信息技術有限公司深知這一點,因此研發(fā)出的SIR表面絕緣電阻測試系統(tǒng),專注于捕捉那些可能被忽視的微小缺陷。絕緣材料在長時間使用或特定環(huán)境下可能會老化,導致表面電阻下降,進而影響整個系統(tǒng)的安全性。通過定期進行SIR測試,可以早期發(fā)現(xiàn)這些問題,及時采取措施,避免重大事故的發(fā)生。廣州維柯的SIR測試系統(tǒng),以其高度的自動化和智能化,能夠在各種條件下快速、準確地完成測試任務,**提高了檢測效率和準確性。對于制造商而言,這不僅意味著產品可靠性增強,也是對品牌信譽的有力背書。測試配置靈活:每塊模塊可設置不同的測試電壓,可同時完成多工況測試。

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1.1機械開封機械開封后1#電阻樣品表面形貌如圖1所示,可明顯發(fā)現(xiàn)電阻表面有一層金屬光澤異物粘附,異物呈樹枝狀結晶,由一端電極往另一端電極方向生長,并連接了電阻兩端電極;一端電表表面發(fā)生溶解,且溶解的端電極表面存在黑色腐蝕產物。有數(shù)據統(tǒng)計90%以上的電阻在大氣環(huán)境中使用[1],因此不可避免地受到工作環(huán)境中的溫度、濕度、灰塵顆粒及大氣污染物的影響,很容易發(fā)生電化學遷移。電化學遷移被認為是電阻在電場與環(huán)境作用下發(fā)生的一種重要的失效形式,會導致產品在服役期間發(fā)生漏電、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的電路板使用大約2年后其內部電阻存在短路失效的情況。智能電阻的應用范圍更加廣,可以滿足不同行業(yè)和領域的需求。廣西sir電阻測試前景

產生離子遷移的原因,是當絕緣體兩端的金屬之間有直流電場時,這兩邊的金屬就成為兩個電極。廣西sir電阻測試前景

廣州維柯信息技術有限公司【SIR測試:確保汽車電子安全的關鍵環(huán)節(jié)】配置靈活:模塊化設計,可選擇16模塊*N(1≤N≤16);16通道/模塊;l測試配置靈活:每塊模塊可設置不同的測試電壓,可同時完成多工況測試;在汽車電子領域,SIR測試尤為重要,直接關系到行車安全。汽車電子系統(tǒng)必須在高溫、潮濕、振動等惡劣環(huán)境下保持高度的電氣穩(wěn)定性。通過定期的SIR測試,工程師可以驗證電路板涂層和封裝材料的耐久性,預防電路間的漏電和短路,保障車輛電子系統(tǒng)的正常運行,減少因電氣故障引發(fā)的安全隱患,為駕乘者提供更加安心的出行體驗。廣西sir電阻測試前景