廣州維柯多通道SIR-CAF實時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)——GWHR256-（2000/5000），測試電壓高達(dá)2000V/5000V可選精度高:1x106-1x109Ω≤±2%；取值速度快:20ms/所有通道；限流電阻:每個通道設(shè)有1MΩ限流電阻，保護(hù)金屬絲晶體做失效分析；配置靈活:模塊化設(shè)計，可選擇16模塊*N（1≤N≤16);16通道/模塊；測試配置靈活:每塊模塊可設(shè)置不同的測試電壓，可同時完成多工況測試；授權(quán)手機APP可以遠(yuǎn)程進(jìn)行相關(guān)管理、操作，查看樣品監(jiān)測數(shù)據(jù)；操作方便：充分考慮實驗室應(yīng)用場景，方便工程師實施工作；數(shù)據(jù)可曲線顯示；配不間斷電源UPS；接口友好:軟件可定制，或開放數(shù)據(jù)接口，或接入實驗室LIMS系統(tǒng)；其中作為陽極的一方發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣體向另一邊的金屬（陰極）遷移。廣西表面絕緣電阻測試注意事項

J-STD-004B要求使用65°C，相對濕度為88.5%的箱體，并且按照方法來制備測試樣板。表面絕緣電阻要穩(wěn)定96小時以后進(jìn)行測試。然后施加低電壓進(jìn)行500小時的測試。測試結(jié)束時，在相同的電壓下再次測試表面絕緣電阻。除了滿足絕緣電阻值少于10倍的衰減之外，還需要觀察樣板是否有晶枝生長和腐蝕現(xiàn)象。這個測試結(jié)果可以定義助焊劑等級是L、M還是H,電化學(xué)遷移(ECM)IPC-TM-650方法用來評估表面電化學(xué)遷移的傾向性。助焊劑會涂敷在下圖1所示的標(biāo)準(zhǔn)測試板上。標(biāo)準(zhǔn)測試板是交錯梳狀設(shè)計，并模擬微電子學(xué)**小電氣間隙要求。然后按照助焊劑不同類型的要求進(jìn)行加熱。為了能通過測試，高活性的助焊劑在測試前需要被清洗掉。清洗不要在密閉的空間進(jìn)行。隨后帶有助焊劑殘留的樣板放置在潮濕的箱體內(nèi)，以促進(jìn)梳狀線路之間枝晶的生長。分別測試實驗開始和結(jié)束時的不同模塊線路的絕緣電阻值。第二次和***次測量值衰減低于10倍時，測試結(jié)果視為通過。也就是說，通常測試阻值為10XΩ，X值必須保持不變。這個方法概括了幾種不同的助焊劑和工藝測試條件。湖北SIR表面絕緣電阻測試注意事項一個的電阻測試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供詳細(xì)的產(chǎn)品說明和操作手冊。

選擇品牌的電阻測試配件可以保證其質(zhì)量和售后服務(wù)。品牌通常具有豐富的經(jīng)驗和技術(shù)，能夠提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和專業(yè)的技術(shù)支持。電阻測試配件是電子行業(yè)中不可或缺的測試工具，它的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性對于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要。在選擇電阻測試配件時，需要考慮準(zhǔn)確性、穩(wěn)定性、適用范圍和品牌信譽等因素。只有選擇合適的配件，才能保證電子產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。廣州維柯多通道SIR-CAF表面絕緣電阻電阻測試配件的穩(wěn)定性也是一個重要的考慮因素。穩(wěn)定的測試配件可以保證測試結(jié)果的一致性，減少誤差的發(fā)生。不同的電子產(chǎn)品對電阻測試配件的要求不同，因此需要根據(jù)實際需求選擇適用范圍的配件。一般來說，具有多種電阻值可選的配件更加靈活和實用。選擇品牌的電阻測試配件可以保證其質(zhì)量和售后服務(wù)。

在有偏置電壓加載的情況下，一旦水凝結(jié)在測試樣品表面，有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候，也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除，確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境，其相對濕度的波動時間越短越好，不允許超過5分鐘。保持測試樣品無污染，做好標(biāo)記，用無污染手套移動樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備，防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線，連接后再清潔。烘干，在105±2℃下烘烤6小時。進(jìn)行預(yù)處理，在中立環(huán)境下，保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。離子遷移的表現(xiàn)可以通過表面絕緣電阻（SIR）測試電阻值顯現(xiàn)出來。

當(dāng)一個較小的偏置電壓不能有效地區(qū)別更多不同的耐CAF材料和制程時，更高的偏置電壓由于會線性地影響失效時間，應(yīng)該被避免采用。這是因為過高的偏置電壓會抵消掉相對濕度的影響，而相對濕度由于局部加熱的原因是非常重要的失效機制部分。LK_ling:因為陽極導(dǎo)電絲是很細(xì)的，很容易被破壞掉。當(dāng)50%的部分已經(jīng)失效了，測試即可停止。當(dāng)CAF發(fā)生時，電阻偏小，施加到CAF失效兩端的電壓會下降。當(dāng)測試網(wǎng)絡(luò)的阻值接近限流電阻的阻值時，顯得尤為明顯。所以在整個測試過程中，并不需要調(diào)整電壓。9、500個小時的偏置電壓后（一共596個小時），像之前一樣重新進(jìn)行絕緣電阻的測量。10、在500小時的偏壓加載后，可以進(jìn)行額外的T/H/B條件。然而，**少要進(jìn)行500小時加載偏置電壓的測試，來作為CAF測試的結(jié)果之一。系統(tǒng)標(biāo)配≥256通道，可分為16組測試單元，同時測試16種不同樣品。江蘇SIR和CAF表面絕緣電阻測試

用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑，封裝樹脂微間距、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評估。廣西表面絕緣電阻測試注意事項

一般而言，SIR測試通常用于對助焊劑和/或清潔工藝進(jìn)行分類、鑒定或比較。對于后者，SIR測試通常用于評估一個人的“免清洗”焊接操作。執(zhí)行，例如85°C/85%RH和40°C/90%，并定期獲得絕緣電阻(IR)測量值。表面絕緣電阻測試（SIR測試）根據(jù)IPC的定義，表面絕緣電阻(SIR)是在特定環(huán)境和電氣條件下確定的一對觸點、導(dǎo)體或接地設(shè)備之間的絕緣材料的電阻。在印刷電路板(PCB)和印刷電路組件(PCA)領(lǐng)域，SIR測試——通常也稱為溫濕度偏差(THB)測試——用于評估產(chǎn)品或工藝的抗“通過電流泄漏或電氣短路（即樹枝狀生長）導(dǎo)致故障”。SIR測試通常在升高的溫度和濕度條件下在制定SIR測試策略時，選擇用于測試的產(chǎn)品或過程將有助于確定**合適的SIR測試方法以及**適用的測試工具。廣西表面絕緣電阻測試注意事項