當一個較小的偏置電壓不能有效地區(qū)別更多不同的耐CAF材料和制程時，更高的偏置電壓由于會線性地影響失效時間，應(yīng)該被避免采用。這是因為過高的偏置電壓會抵消掉相對濕度的影響，而相對濕度由于局部加熱的原因是非常重要的失效機制部分。LK_ling:因為陽極導(dǎo)電絲是很細的，很容易被破壞掉。當50%的部分已經(jīng)失效了，測試即可停止。當CAF發(fā)生時，電阻偏小，施加到CAF失效兩端的電壓會下降。當測試網(wǎng)絡(luò)的阻值接近限流電阻的阻值時，顯得尤為明顯。所以在整個測試過程中，并不需要調(diào)整電壓。9、500個小時的偏置電壓后（一共596個小時），像之前一樣重新進行絕緣電阻的測量。10、在500小時的偏壓加載后，可以進行額外的T/H/B條件。然而，**少要進行500小時加載偏置電壓的測試，來作為CAF測試的結(jié)果之一。HAST測試是目前所有半導(dǎo)體公司等行業(yè)對芯片等器件測試的標準測試之一。江西SIR表面絕緣電阻測試

CAF測試方法案例:1、保持測試樣品無污染，做好標記，用無污染手套移動樣品。做好預(yù)先準備，防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線，連接后再清潔。烘干，在105±2℃下烘烤6小時。進行預(yù)處理，在中立環(huán)境下，保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下，一旦水凝結(jié)在測試樣品表面，有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候，也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除，確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境，其相對濕度的波動時間越短越好，不允許超過5分鐘。廣州電阻測試市場電阻測試設(shè)備比較復(fù)雜。

電子元器件篩選的目的：剔除早期失效產(chǎn)品。提高產(chǎn)品批次使用的可靠性。元器件篩選的特點：篩選試驗為非破壞性試驗。不改變元器件固有失效機理和固有可靠性。對批次產(chǎn)品進行*篩選。篩選等級由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定。電子元器件篩選常規(guī)測試項目：檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、 X射線非破壞性檢查。密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示 蹤檢漏、濕度試驗、顆粒碰撞噪聲檢測。環(huán)境應(yīng)?篩選：高低溫貯存、高溫反偏、振動、沖擊、離?加速度、溫度沖擊、綜合應(yīng)?、動態(tài)老煉。 電子元器件篩選覆蓋范圍：半導(dǎo)體集成電路：時基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動器、電平轉(zhuǎn)換器、門器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運算放大器、電壓調(diào)整器、電壓比較器、電源類芯片（穩(wěn)壓器、開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等）、致模轉(zhuǎn)換器（A/D、D/A、SRD）、存儲器、可編程邏輯器件、單片機、微處理器、控制器等;

《GWHR256：打造綠色PCBA生產(chǎn)的守護神》環(huán)保與可持續(xù)性是當今電子制造業(yè)不可忽視的趨勢。GWHR256系統(tǒng)在確保PCBA清潔度的同時，也助力企業(yè)向綠色生產(chǎn)轉(zhuǎn)型。通過對清洗工藝的精細優(yōu)化，減少清洗劑的過度使用，避免了資源浪費和環(huán)境污染。系統(tǒng)支持的水基清洗劑監(jiān)測，更是推動了環(huán)保型清洗工藝的應(yīng)用，體現(xiàn)了對環(huán)境負責的企業(yè)責任。【綠色理念，智能決策】通過實時監(jiān)測與數(shù)據(jù)分析，企業(yè)能更好地理解不同清洗劑對PCBA清潔度的影響，選擇低環(huán)境影響的清洗方案。GWHR256系統(tǒng)在提升PCBA品質(zhì)的同時，也為企業(yè)的綠色生產(chǎn)戰(zhàn)略提供了科學依據(jù)，是推動行業(yè)向更加可持續(xù)方向發(fā)展的強大推手。在這個數(shù)字化、綠色化并行的時代，GWHR256系統(tǒng)無疑是PCBA生產(chǎn)線上不可或缺的智能伙伴，為品質(zhì)與環(huán)保雙重目標的達成提供了強有力的支持。模塊化的集成設(shè)計，16通道組成一個測試模塊。

電阻值的測定時間可設(shè)定范圍是：CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測定時間范圍1-600分鐘可設(shè)置，單次取值電阻測定電壓穩(wěn)定時間范圍1-600秒可設(shè)置，完成多次取值電阻測定時間1-9999小時可設(shè)置。電阻測試范圍1x104-1x1014Ω，電阻測量精度：1x104-1x1010Ω≤±2%，1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%，廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR/CAF實時監(jiān)控測試系統(tǒng)測量電流的設(shè)定：使用低阻SIR系統(tǒng)測樣品導(dǎo)通性時可以設(shè)置測量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測樣品電阻時測量電流是不用設(shè)置，需設(shè)置測量電壓，因為儀器恒壓工作測量漏電流，用歐姆定理計算電阻值。很多用戶在使用電阻測試設(shè)備過程中會遇到各種問題。江西離子遷移電阻測試系統(tǒng)

研究表明，由污染問題造成的產(chǎn)品失效率高達60%以上。江西SIR表面絕緣電阻測試

廣州維柯多通道SIR-CAF實時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)——GWHR256-（2000/5000），測試電壓高達2000V/5000V可選精度高:1x106-1x109Ω≤±2%；取值速度快:20ms/所有通道；限流電阻:每個通道設(shè)有1MΩ限流電阻，保護金屬絲晶體做失效分析；配置靈活:模塊化設(shè)計，可選擇16模塊*N（1≤N≤16);16通道/模塊；測試配置靈活:每塊模塊可設(shè)置不同的測試電壓，可同時完成多工況測試；授權(quán)手機APP可以遠程進行相關(guān)管理、操作，查看樣品監(jiān)測數(shù)據(jù)；操作方便：充分考慮實驗室應(yīng)用場景，方便工程師實施工作；數(shù)據(jù)可曲線顯示；配不間斷電源UPS；接口友好:軟件可定制，或開放數(shù)據(jù)接口，或接入實驗室LIMS系統(tǒng)；江西SIR表面絕緣電阻測試