廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR-CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)——GWHR256-500，可在設(shè)定的環(huán)境參數(shù)下進(jìn)行長時(shí)間的測試樣品，觀察并記錄被測樣品阻抗變化狀況。系統(tǒng)可通過曲線、表格的形式對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控，測試數(shù)據(jù)自動存儲和管理，客戶根據(jù)需要可導(dǎo)出為Excel表格式，對測試樣品進(jìn)行分析。***用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑，封裝樹脂微間距圖形、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評估，以及焊錫膏、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評估。通道數(shù)16-256/128/64/32(通道可選)，測試組數(shù)1-16組（組數(shù)可選）測試時(shí)間1-9999小時(shí)(可設(shè)置)偏置電壓1-500VDC（0.1V步進(jìn)）測試電壓1-500VDC（0.1V步進(jìn)）偏置電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV（5-500VDC）測試電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV（5-500VDC）電阻測量范圍1x106-1x1014Ω電阻測量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%。在電子設(shè)備領(lǐng)域，表面阻抗測試SIR測試被認(rèn)為是評估用戶線路板組裝材料可靠性的有效評估手段。湖南SIR和CAF電阻測試分析

CAF產(chǎn)生的原因：1、原料問題1)樹脂身純度不良，如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳；2)玻纖束之表面有問題，如耦合性不佳，親膠性不良；3)樹脂之硬化劑不良，容易吸水；4)膠片含浸中行進(jìn)速度太快；常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實(shí)填飽造成氣泡殘存。CAF形成過程：1、常規(guī)FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布，然后涂環(huán)氧樹脂半固化后制成；2、樹脂與玻纖之間的附著力不足，或含浸時(shí)親膠性不良，兩者之間容易出現(xiàn)間隙；3、鉆孔等機(jī)械加工過程中，由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對樹脂的粘合力進(jìn)一步破壞；4、距離較近的兩孔若電勢不同，則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動下逐漸向負(fù)極遷移。江西直銷電阻測試誠信合作通過表面絕緣電阻（SIR）測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。

1.1機(jī)械開封機(jī)械開封后1#電阻樣品表面形貌如圖1所示，可明顯發(fā)現(xiàn)電阻表面有一層金屬光澤異物粘附，異物呈樹枝狀結(jié)晶，由一端電極往另一端電極方向生長，并連接了電阻兩端電極；一端電表表面發(fā)生溶解，且溶解的端電極表面存在黑色腐蝕產(chǎn)物。有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)90%以上的電阻在大氣環(huán)境中使用[1]，因此不可避免地受到工作環(huán)境中的溫度、濕度、灰塵顆粒及大氣污染物的影響，很容易發(fā)生電化學(xué)遷移。電化學(xué)遷移被認(rèn)為是電阻在電場與環(huán)境作用下發(fā)生的一種重要的失效形式，會導(dǎo)致產(chǎn)品在服役期間發(fā)生漏電、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的電路板使用大約2年后其內(nèi)部電阻存在短路失效的情況。

電阻測試夾具可以幫助工程師快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行電阻測試，提高工作效率。選擇電阻測試配件時(shí)，首先要考慮其準(zhǔn)確性。準(zhǔn)確的測試結(jié)果對于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要，因此需要選擇具有高精度的電阻測試配件。電阻測試配件的穩(wěn)定性也是一個(gè)重要的考慮因素。穩(wěn)定的測試配件可以保證測試結(jié)果的一致性，減少誤差的發(fā)生。不同的電子產(chǎn)品對電阻測試配件的要求不同，因此需要根據(jù)實(shí)際需求選擇適用范圍的配件。一般來說，具有多種電阻值可選的配件更加靈活和實(shí)用。選擇品牌的電阻測試配件可以保證其質(zhì)量和售后服務(wù)。品牌通常具有豐富的經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)，能夠提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和專業(yè)的技術(shù)支持。表面絕緣阻抗(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCBA的表面清潔度（包括加工、制造過程的殘留）。

在七天的測試中，不同模塊之間的表面絕緣電阻值衰減必須少于10Ohms，但是要排除**開始24小時(shí)的穩(wěn)定時(shí)間。電壓是恒定不變的。這和ECM測試在很多方面不一樣。兩者的不同點(diǎn)是：持續(xù)時(shí)間、測試箱體條件和頻繁測量數(shù)據(jù)的目的。樣板同樣需要目測檢查枝晶生長是否超過間距的20%和是否有任何腐蝕引起的變色問題。表面絕緣電阻（SIR）IPC-TM-650方法定義了在高濕度環(huán)境下表面絕緣電阻的測試條件。SIR測試在40°C和相對濕度為90%的箱體里進(jìn)行。樣板的制備和ECM測試一樣，都是依據(jù)方法制備（如圖1）。***版本的測試要求規(guī)定每20分鐘要檢查一次樣板。傳統(tǒng)的電阻器件在測量電阻時(shí)可能存在一定的誤差。貴州CAF電阻測試服務(wù)

在所用的電子化學(xué)品中，容易被忽視的是焊劑。湖南SIR和CAF電阻測試分析

電阻箱是一種可以調(diào)節(jié)電阻值的測試儀器。它通常由多個(gè)電阻組成，通過選擇不同的電阻值來模擬不同的電路條件。電阻箱廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品的調(diào)試和測試過程中，可以幫助工程師快速定位和解決電路中的問題。在電子產(chǎn)品的制造和維修過程中，電阻測試配件起著至關(guān)重要的作用。電阻測試配件通過測量電路中的電阻值來判斷電路的工作狀態(tài)。電阻是電子元器件中基本的一種，它的作用是限制電流的流動，控制電路的工作狀態(tài)。電阻的大小決定了電流的大小，從而影響整個(gè)電路的性能。因此，電阻測試配件的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性對于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要。湖南SIR和CAF電阻測試分析