【SIR測試促進(jìn)綠色能源技術(shù)發(fā)展】隨著綠色能源技術(shù)的快速發(fā)展，尤其是太陽能光伏板和風(fēng)力發(fā)電系統(tǒng)的廣泛應(yīng)用，SIR測試成為確保這些系統(tǒng)長期可靠性的關(guān)鍵。光伏板和風(fēng)電機(jī)組中的電子部件需要在戶外長期暴露，面臨風(fēng)雨侵蝕、溫度波動等挑戰(zhàn)。通過SIR測試，可以評估并選擇適合戶外環(huán)境的絕緣材料，減少因環(huán)境因素導(dǎo)致的性能衰退，提升能源轉(zhuǎn)換效率和設(shè)備壽命，加速清潔能源的普及和應(yīng)用?！維IR測試在醫(yī)療設(shè)備安全中的作用】醫(yī)療設(shè)備的電氣安全直接關(guān)系到患者的生命健康。SIR測試在這里發(fā)揮著不可替代的作用，確保設(shè)備中使用的絕緣材料能夠有效防止電流泄露，保護(hù)患者免受電擊風(fēng)險(xiǎn)。特別是在手術(shù)器械、監(jiān)測設(shè)備等對電氣安全有極高要求的場合，SIR測試結(jié)果是產(chǎn)品認(rèn)證和質(zhì)量控制的重要依據(jù)。通過對醫(yī)療設(shè)備進(jìn)行定期的SIR測試，制造商能夠持續(xù)改進(jìn)設(shè)計(jì)，提升設(shè)備的安全性和可靠性，保障醫(yī)療操作的安全無虞。HAST是High Accelerated Stress Test,是加速高溫高濕偏壓應(yīng)力測試，是通過對樣品施加高溫高壓高濕應(yīng)力。陜西離子遷移電阻測試價(jià)格

當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時(shí)，在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓，電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下，離子化金屬向相反的電極間移動（陰極向陽極轉(zhuǎn)移），相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象（類似錫須，容易造成短路），這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時(shí)，表面絕緣電阻（SIR）測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。測試方法通常是認(rèn)證助焊劑在裸銅板上的表現(xiàn)，但是NiAu和HASL工藝的殘留物對PCB表面的漏電有一定影響。HASL工藝使用的助焊劑中的乙二醇會被環(huán)氧基板編織布所吸收，增強(qiáng)基板的吸水性。己經(jīng)有一些案例說明NiAu的金屬層會增電化學(xué)遷移的趨勢。表面涂層的影響取決于表面涂層所用的助焊劑和化學(xué)劑。江西SIR和CAF電阻測試系統(tǒng)離子在單位強(qiáng)度(V/m)電場作用下的移動速度稱之為離子遷移率，它是分辨被測離子直徑大小的一個(gè)重要參數(shù)。

離子遷移（ECM/SIR/CAF）是電子電路板（PCB）中常見的失效模式，尤其在高電壓、高溫和濕度條件下更為突出。這些現(xiàn)象與電子組件的可靠性和壽命緊密相關(guān)。電解質(zhì)介電擊穿（ECM - Electrochemical Migration）：要因分析：ECM 主要是由于電路板上的電解質(zhì)（如殘留水分、污染物質(zhì)或潮濕環(huán)境中的離子）在電場作用下引發(fā)金屬離子的氧化還原反應(yīng)和遷移，導(dǎo)致短路或漏電流增加。解決方案：設(shè)計(jì)階段：采用***材料，如具有低吸濕性及良好耐離子遷移性的阻焊劑和基材（如FR-4改良型或其他高級復(fù)合材料）；優(yōu)化布線設(shè)計(jì)，減少高電壓梯度區(qū)域。工藝控制：嚴(yán)格清潔流程以減少污染，采用合適的涂層保護(hù)措施，提高SMT貼片工藝水平以防止錫膏等殘留物成為離子源。環(huán)境條件：產(chǎn)品儲存、運(yùn)輸和使用過程中需遵循防潮密封標(biāo)準(zhǔn)，確保封裝完整。

01電化學(xué)遷移測試技術(shù)特點(diǎn)1、專業(yè)的設(shè)備：采用行業(yè)占有率比較高的主流進(jìn)口設(shè)備，采樣速度更快，漏電捕捉精細(xì)，電阻測量精度高。2、專業(yè)的工程技術(shù)能力支持：除能為客戶提供專業(yè)的試驗(yàn)評估外，還具備針對測試失效品的專業(yè)級失效分析能力，可實(shí)現(xiàn)一站式打包服務(wù)。3、可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗(yàn)箱，HAST箱，PCT等設(shè)備配合測試。某些國際**汽車電子大廠要求其不同供應(yīng)商，使用不同工藝，不同材質(zhì)的PCB光板，每一種類型全部需要通過電化學(xué)遷移測試才能獲得入門資格。系統(tǒng)可通過曲線、表格的形式對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控，測試數(shù)據(jù)自動存儲和管理。

必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作，通過分析確定失效機(jī)理，找出失效原因，反饋給設(shè)計(jì)、制造和使用，共同研究和實(shí)施糾正措施，提高電子元器件的可靠性。電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機(jī)理，確認(rèn)結(jié)果的失效原因，可靠性研究的兩大內(nèi)容就是失效分析和可靠性測試（包括破壞性實(shí)驗(yàn)）。兩者之間是相互影響和相互制約的。電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ)，元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議，防止失效的重復(fù)出現(xiàn)，提高元器件可靠性。防止發(fā)生離子遷移故障的一個(gè)重要措施當(dāng)然是要保持使用環(huán)境的干燥。江西CAF電阻測試系統(tǒng)

四線法的基本原理在于通過將電流引入被測件的兩個(gè)端點(diǎn)，并通過另外兩根單獨(dú)的引線在被測件的兩端測量電壓。陜西離子遷移電阻測試價(jià)格

在七天的測試中，不同模塊之間的表面絕緣電阻值衰減必須少于10Ohms，但是要排除**開始24小時(shí)的穩(wěn)定時(shí)間。電壓是恒定不變的。這和ECM測試在很多方面不一樣。兩者的不同點(diǎn)是：持續(xù)時(shí)間、測試箱體條件和頻繁測量數(shù)據(jù)的目的。樣板同樣需要目測檢查枝晶生長是否超過間距的20%和是否有任何腐蝕引起的變色問題。表面絕緣電阻（SIR）IPC-TM-650方法定義了在高濕度環(huán)境下表面絕緣電阻的測試條件。SIR測試在40°C和相對濕度為90%的箱體里進(jìn)行。樣板的制備和ECM測試一樣，都是依據(jù)方法制備（如圖1）。***版本的測試要求規(guī)定每20分鐘要檢查一次樣板。陜西離子遷移電阻測試價(jià)格