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貴州離子遷移絕緣電阻測(cè)試供應(yīng)商

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-08-28

在精密電子制造業(yè)的舞臺(tái)上,每一塊PCBA(印刷電路板組裝)的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展,PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升,如何有效控制生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的污染物,確保電路板的長(zhǎng)期可靠性,成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng),正是這一挑戰(zhàn)的解決方案。【深度洞察,精確監(jiān)測(cè)】廣州維柯多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng) GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn),專為PCBA的可靠性評(píng)估而設(shè)計(jì),它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控SIR(表面絕緣電阻)和CAF(導(dǎo)電陽極絲)的變化,精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象。用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑,封裝樹脂微間距、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評(píng)估。貴州離子遷移絕緣電阻測(cè)試供應(yīng)商

電阻測(cè)試

這種生長(zhǎng)可能發(fā)生在外部表面、內(nèi)部界面或穿過大多數(shù)復(fù)合材料本體。增長(zhǎng)的金屬纖維絲是含有金屬離子的溶液經(jīng)過電沉積形成的。電沉積過程是從陽極溶解電離子,由電場(chǎng)運(yùn)輸重新沉積在陰極上。在電路與組裝材料發(fā)生的反應(yīng)過程中,隨著時(shí)間的推移而逐漸形成這種失效。當(dāng)金屬纖維絲在線路板表面以下生長(zhǎng)時(shí),稱為導(dǎo)電陽極絲或CAF,本文中不會(huì)討論這種情況,但這也是一個(gè)熱門話題。當(dāng)電化學(xué)遷移發(fā)生在線路板的表面時(shí),它會(huì)導(dǎo)致線路之間的金屬枝晶狀生長(zhǎng),比較好使用表面絕緣電阻(SIR)進(jìn)行測(cè)試。可靠的電子組裝產(chǎn)品必須能在不同的環(huán)境中經(jīng)受住各種影響因素的考驗(yàn),例如:熱、機(jī)械、化學(xué)、電等因素。測(cè)試每一種考驗(yàn)因素對(duì)系統(tǒng)的影響,通常以加速老化的方式來測(cè)試。這也就是說,測(cè)試環(huán)境比起正常老化的環(huán)境是要極端得多的。此文中的研究對(duì)象主要是各種測(cè)試電化學(xué)可靠性的方法。IPC將電化學(xué)遷移定義為:在直流偏壓的影響下,印刷線路板上的導(dǎo)電金屬纖維絲的生長(zhǎng)貴州PCB絕緣電阻測(cè)試其中作為陽極的一方發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過絕緣體向另一邊的金屬(陰極)遷移。

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無論使用何種助焊劑,總會(huì)在焊接后的PCB及焊點(diǎn)上留下或多或少的殘留物,這些殘留物不僅影響PCBA的外觀,更可怕的是構(gòu)成了對(duì)PCB可靠性的潛在威脅;特別是電子產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間在高溫潮濕條件下工作時(shí),殘留物便可能導(dǎo)致線路絕緣老化以及腐蝕等問題,進(jìn)而出現(xiàn)絕緣電阻(SIR)下降及電化學(xué)遷移(ECM)的發(fā)生。隨著電子行業(yè)無鉛化要求的***實(shí)施,相伴錫膏而生的助焊劑也走過了松香(樹脂)助焊劑、水溶性助焊劑到******使用的免洗助焊劑的發(fā)展歷程,然而其殘留物的影響始終是大家尤為關(guān)心的方面[1]-[4]。

當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時(shí),在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場(chǎng)和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(dòng)(陰極向陽極轉(zhuǎn)移),相對(duì)的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象(類似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時(shí),表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓,經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的試驗(yàn),觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試可以用來評(píng)估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問題,也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會(huì)影響電子零件電氣特性的物質(zhì),通過表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。系統(tǒng)可通過曲線、表格的形式對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控,測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)和管理。

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SIR(表面絕緣電阻)測(cè)試在電子制造業(yè)中扮演著至關(guān)重要的角色,是確保產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的基石。它專注于評(píng)估印刷電路板(PCB)和其他電子組件表面的絕緣性能,防止因助焊劑殘留、污染物積累或材料老化導(dǎo)致的短路問題。通過模擬長(zhǎng)期使用條件下的電氣性能變化,SIR測(cè)試幫助制造商識(shí)別并解決潛在的電氣故障,保障電子產(chǎn)品在各種環(huán)境下的穩(wěn)定運(yùn)行,從而提高客戶滿意度和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。廣州維柯的SIR(表面絕緣電阻)測(cè)試測(cè)試電壓高達(dá) 2000V/5000V 可選,:1x106-1x109Ω≤±2%精度,20ms/所有通道每秒的速度。其中離子污染就是造成PCB板失效問題的一個(gè)重要原因。浙江pcb離子遷移絕緣電阻測(cè)試歡迎選購

離子污染導(dǎo)致異常的離子遷移,終導(dǎo)致產(chǎn)品失效,常見的是PCB板的腐蝕、短路等。貴州離子遷移絕緣電阻測(cè)試供應(yīng)商

廣州維柯多通道SIR-CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng)——GWHR256-500,通道數(shù)16-256/128/64/32(通道可選)測(cè)試組數(shù)1-16組(組數(shù)可選)測(cè)試時(shí)間1-9999小時(shí)(可設(shè)置)偏置電壓1-500VDC(0.1V步進(jìn))測(cè)試電壓1-500VDC(0.1V步進(jìn))偏置電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV(5-500VDC)測(cè)試電壓輸出精度±設(shè)置值1%+200mV(5-500VDC)電阻測(cè)量范圍1x106-1x1014Ω電阻測(cè)量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%測(cè)試間隔時(shí)間1-600分鐘(可設(shè)置)取值速度20mS/所有通道測(cè)試電壓穩(wěn)定時(shí)間1-600秒(可設(shè)置)高阻判定閥值1x106-109Ω短路保護(hù)電流閾值5–500uA數(shù)據(jù)顯示數(shù)據(jù)可曲線顯示限流電阻1MΩ電源配置配置不間斷電源UPS測(cè)試線線材特氟龍鍍銀屏蔽線(≥1014?,200℃)長(zhǎng)度標(biāo)配3.5m操作系統(tǒng)Windows系統(tǒng)選配溫濕度監(jiān)測(cè)模塊不含windows操作系統(tǒng),office軟件、數(shù)據(jù)庫貴州離子遷移絕緣電阻測(cè)試供應(yīng)商