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海南sir電阻測試發(fā)展

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-09-02

1.碳膜的多采用酚醛樹脂,其結(jié)構(gòu)上存在羥基與苯環(huán)直接相連,由于共軛效應(yīng),氧原子上未共享電子對移向苯環(huán)上而使氫原子易成H+,它在堿溶液中與OH-作用,引起水解致使整個(gè)分子受破壞,同時(shí)高溫加速水解。2.文字油墨的主體是不形成網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)或體型結(jié)構(gòu)的線型樹脂,此類樹脂是碳原子以直鏈形式連接,穩(wěn)定性差。溶劑對表面分子鏈先溶劑化,然后樹脂內(nèi)部逐步溶劑化,使油墨溶脹引起鼓泡或脫落。3.采用中性水基清洗或常溫清洗可緩解碳膜和文字油墨等材料的破壞,在規(guī)定的清洗時(shí)限內(nèi)保持材料的完好性。2、原因分析闊智通測科技(廣州)有限公司QualtecTongceTechnology(Guangzhou)Co.,Ltdn案例分享3、PCBA水基清洗技術(shù)以XX水基清洗劑為例,結(jié)合了溶劑和表面活性劑技術(shù)優(yōu)點(diǎn)的水基清洗技術(shù),具有寬大的應(yīng)用窗口和從電子基材表面徹底去除所有污染物的能力。作業(yè)現(xiàn)場的塵埃、水及揮發(fā)溶劑的蒸氣、大氣煙霧、微小顆粒有機(jī)物、角質(zhì)及靜電引起的帶電粒子等。海南sir電阻測試發(fā)展

電阻測試

電阻測試夾具可以幫助工程師快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行電阻測試,提高工作效率。選擇電阻測試配件時(shí),首先要考慮其準(zhǔn)確性。準(zhǔn)確的測試結(jié)果對于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要,因此需要選擇具有高精度的電阻測試配件。電阻測試配件的穩(wěn)定性也是一個(gè)重要的考慮因素。穩(wěn)定的測試配件可以保證測試結(jié)果的一致性,減少誤差的發(fā)生。不同的電子產(chǎn)品對電阻測試配件的要求不同,因此需要根據(jù)實(shí)際需求選擇適用范圍的配件。一般來說,具有多種電阻值可選的配件更加靈活和實(shí)用。選擇品牌的電阻測試配件可以保證其質(zhì)量和售后服務(wù)。品牌通常具有豐富的經(jīng)驗(yàn)和技術(shù),能夠提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和專業(yè)的技術(shù)支持。湖北多功能電阻測試牌子評估PCB制作的工藝能力,驗(yàn)證制作工藝是否對PCB板上需要焊接位置的可焊性有不良影響。

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一般而言,SIR測試通常用于對助焊劑和/或清潔工藝進(jìn)行分類、鑒定或比較。對于后者,SIR測試通常用于評估一個(gè)人的“免清洗”焊接操作。執(zhí)行,例如85°C/85%RH和40°C/90%,并定期獲得絕緣電阻(IR)測量值。表面絕緣電阻測試(SIR測試)根據(jù)IPC的定義,表面絕緣電阻(SIR)是在特定環(huán)境和電氣條件下確定的一對觸點(diǎn)、導(dǎo)體或接地設(shè)備之間的絕緣材料的電阻。在印刷電路板(PCB)和印刷電路組件(PCA)領(lǐng)域,SIR測試——通常也稱為溫濕度偏差(THB)測試——用于評估產(chǎn)品或工藝的抗“通過電流泄漏或電氣短路(即樹枝狀生長)導(dǎo)致故障”。SIR測試通常在升高的溫度和濕度條件下在制定SIR測試策略時(shí),選擇用于測試的產(chǎn)品或過程將有助于確定**合適的SIR測試方法以及**適用的測試工具。

在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測試樣品表面,有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對濕度的波動時(shí)間越短越好,不允許超過5分鐘。保持測試樣品無污染,做好標(biāo)記,用無污染手套移動樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。通過外觀、潤濕時(shí)間、潤濕力評定,可以數(shù)值具體化。

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無論使用何種助焊劑,總會在焊接后的PCB及焊點(diǎn)上留下或多或少的殘留物,這些殘留物不僅影響PCBA的外觀,更可怕的是構(gòu)成了對PCB可靠性的潛在威脅;特別是電子產(chǎn)品長時(shí)間在高溫潮濕條件下工作時(shí),殘留物便可能導(dǎo)致線路絕緣老化以及腐蝕等問題,進(jìn)而出現(xiàn)絕緣電阻(SIR)下降及電化學(xué)遷移(ECM)的發(fā)生。隨著電子行業(yè)無鉛化要求的***實(shí)施,相伴錫膏而生的助焊劑也走過了松香(樹脂)助焊劑、水溶性助焊劑到******使用的免洗助焊劑的發(fā)展歷程,然而其殘留物的影響始終是大家尤為關(guān)心的方面[1]-[4]。離子污染導(dǎo)致異常的離子遷移,終導(dǎo)致產(chǎn)品失效,最常見的是PCB板的腐蝕、短路等。湖北多功能電阻測試推薦貨源

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在精密電子制造業(yè)的舞臺上,每一塊PCBA(印刷電路板組裝)的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展,PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升,如何有效控制生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的污染物,確保電路板的長期可靠性,成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測系統(tǒng),正是這一挑戰(zhàn)的解決方案?!旧疃榷床欤_監(jiān)測】廣州維柯多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測系統(tǒng) GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn),專為PCBA的可靠性評估而設(shè)計(jì),它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控SIR(表面絕緣電阻)和CAF(導(dǎo)電陽極絲)的變化,精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象。海南sir電阻測試發(fā)展