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廣西多功能電阻測(cè)試系統(tǒng)解決方案

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-09-02

這種生長(zhǎng)可能發(fā)生在外部表面、內(nèi)部界面或穿過(guò)大多數(shù)復(fù)合材料本體。增長(zhǎng)的金屬纖維絲是含有金屬離子的溶液經(jīng)過(guò)電沉積形成的。電沉積過(guò)程是從陽(yáng)極溶解電離子,由電場(chǎng)運(yùn)輸重新沉積在陰極上。在電路與組裝材料發(fā)生的反應(yīng)過(guò)程中,隨著時(shí)間的推移而逐漸形成這種失效。當(dāng)金屬纖維絲在線路板表面以下生長(zhǎng)時(shí),稱為導(dǎo)電陽(yáng)極絲或CAF,本文中不會(huì)討論這種情況,但這也是一個(gè)熱門話題。當(dāng)電化學(xué)遷移發(fā)生在線路板的表面時(shí),它會(huì)導(dǎo)致線路之間的金屬枝晶狀生長(zhǎng),比較好使用表面絕緣電阻(SIR)進(jìn)行測(cè)試。可靠的電子組裝產(chǎn)品必須能在不同的環(huán)境中經(jīng)受住各種影響因素的考驗(yàn),例如:熱、機(jī)械、化學(xué)、電等因素。測(cè)試每一種考驗(yàn)因素對(duì)系統(tǒng)的影響,通常以加速老化的方式來(lái)測(cè)試。這也就是說(shuō),測(cè)試環(huán)境比起正常老化的環(huán)境是要極端得多的。此文中的研究對(duì)象主要是各種測(cè)試電化學(xué)可靠性的方法。IPC將電化學(xué)遷移定義為:在直流偏壓的影響下,印刷線路板上的導(dǎo)電金屬纖維絲的生長(zhǎng)測(cè)試控制軟件管理模塊:用戶管理、工況管理、配置管理、設(shè)備管理。廣西多功能電阻測(cè)試系統(tǒng)解決方案

電阻測(cè)試

電阻測(cè)試夾具可以幫助工程師快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行電阻測(cè)試,提高工作效率。選擇電阻測(cè)試配件時(shí),首先要考慮其準(zhǔn)確性。準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果對(duì)于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要,因此需要選擇具有高精度的電阻測(cè)試配件。電阻測(cè)試配件的穩(wěn)定性也是一個(gè)重要的考慮因素。穩(wěn)定的測(cè)試配件可以保證測(cè)試結(jié)果的一致性,減少誤差的發(fā)生。不同的電子產(chǎn)品對(duì)電阻測(cè)試配件的要求不同,因此需要根據(jù)實(shí)際需求選擇適用范圍的配件。一般來(lái)說(shuō),具有多種電阻值可選的配件更加靈活和實(shí)用。選擇品牌的電阻測(cè)試配件可以保證其質(zhì)量和售后服務(wù)。品牌通常具有豐富的經(jīng)驗(yàn)和技術(shù),能夠提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和專業(yè)的技術(shù)支持。湖北電阻測(cè)試供應(yīng)商離子污染導(dǎo)致異常的離子遷移,終導(dǎo)致產(chǎn)品失效,最常見(jiàn)的是PCB板的腐蝕、短路等。

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電阻值的測(cè)定時(shí)間可設(shè)定范圍是:CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測(cè)定時(shí)間范圍1-600分鐘可設(shè)置,單次取值電阻測(cè)定電壓穩(wěn)定時(shí)間范圍1-600秒可設(shè)置,完成多次取值電阻測(cè)定時(shí)間1-9999小時(shí)可設(shè)置。電阻測(cè)試范圍1x104-1x1014Ω,電阻測(cè)量精度:1x104-1x1010Ω≤±2%,1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量電流的設(shè)定:使用低阻SIR系統(tǒng)測(cè)樣品導(dǎo)通性時(shí)可以設(shè)置測(cè)量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測(cè)樣品電阻時(shí)測(cè)量電流是不用設(shè)置,需設(shè)置測(cè)量電壓,因?yàn)閮x器恒壓工作測(cè)量漏電流,用歐姆定理計(jì)算電阻值。

在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測(cè)試樣品表面,有可能會(huì)造成表面樹(shù)枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹(shù)枝狀晶體的生長(zhǎng)。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測(cè)試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對(duì)濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對(duì)濕度的波動(dòng)時(shí)間越短越好,不允許超過(guò)5分鐘。保持測(cè)試樣品無(wú)污染,做好標(biāo)記,用無(wú)污染手套移動(dòng)樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開(kāi)路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對(duì)濕度至少24h。2、在該測(cè)試方法中相對(duì)濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對(duì)濕度偏差會(huì)造成電阻量測(cè)結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的塵埃、水及揮發(fā)溶劑的蒸氣、大氣煙霧、微小顆粒有機(jī)物、角質(zhì)及靜電引起的帶電粒子等。

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J-STD-004B要求使用65°C,相對(duì)濕度為88.5%的箱體,并且按照方法來(lái)制備測(cè)試樣板。表面絕緣電阻要穩(wěn)定96小時(shí)以后進(jìn)行測(cè)試。然后施加低電壓進(jìn)行500小時(shí)的測(cè)試。測(cè)試結(jié)束時(shí),在相同的電壓下再次測(cè)試表面絕緣電阻。除了滿足絕緣電阻值少于10倍的衰減之外,還需要觀察樣板是否有晶枝生長(zhǎng)和腐蝕現(xiàn)象。這個(gè)測(cè)試結(jié)果可以定義助焊劑等級(jí)是L、M還是H,電化學(xué)遷移(ECM)IPC-TM-650方法用來(lái)評(píng)估表面電化學(xué)遷移的傾向性。助焊劑會(huì)涂敷在下圖1所示的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試板上。標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試板是交錯(cuò)梳狀設(shè)計(jì),并模擬微電子學(xué)**小電氣間隙要求。然后按照助焊劑不同類型的要求進(jìn)行加熱。為了能通過(guò)測(cè)試,高活性的助焊劑在測(cè)試前需要被清洗掉。清洗不要在密閉的空間進(jìn)行。隨后帶有助焊劑殘留的樣板放置在潮濕的箱體內(nèi),以促進(jìn)梳狀線路之間枝晶的生長(zhǎng)。分別測(cè)試實(shí)驗(yàn)開(kāi)始和結(jié)束時(shí)的不同模塊線路的絕緣電阻值。第二次和***次測(cè)量值衰減低于10倍時(shí),測(cè)試結(jié)果視為通過(guò)。也就是說(shuō),通常測(cè)試阻值為10XΩ,X值必須保持不變。這個(gè)方法概括了幾種不同的助焊劑和工藝測(cè)試條件。CAF 故障會(huì)導(dǎo)致層間短路,降 低電路板的可靠性,從而影響 MTTF.湖北銷售電阻測(cè)試直銷價(jià)

助焊劑材料中的有機(jī)酸或無(wú)機(jī)酸及鹽等焊接后的殘留物以及經(jīng)高溫后會(huì)變成有腐蝕性的離子污染物。廣西多功能電阻測(cè)試系統(tǒng)解決方案

01電化學(xué)遷移測(cè)試技術(shù)特點(diǎn)1、專業(yè)的設(shè)備:采用行業(yè)占有率比較高的主流進(jìn)口設(shè)備,采樣速度更快,漏電捕捉精細(xì),電阻測(cè)量精度高。2、專業(yè)的工程技術(shù)能力支持:除能為客戶提供專業(yè)的試驗(yàn)評(píng)估外,還具備針對(duì)測(cè)試失效品的專業(yè)級(jí)失效分析能力,可實(shí)現(xiàn)一站式打包服務(wù)。3、可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗(yàn)箱,HAST箱,PCT等設(shè)備配合測(cè)試。某些國(guó)際**汽車電子大廠要求其不同供應(yīng)商,使用不同工藝,不同材質(zhì)的PCB光板,每一種類型全部需要通過(guò)電化學(xué)遷移測(cè)試才能獲得入門資格。廣西多功能電阻測(cè)試系統(tǒng)解決方案