靜電發(fā)生器設(shè)置為單次輸出，示波器在“Menu”觸發(fā)菜單里選擇單次掃描方式，也可在示波器右上角按單次“Single”按鈕。當(dāng)靜電發(fā)生器輸出單次脈沖信號后，示波器能快速捕捉到該波形，并鎖存，此時右上角的運行/停止“Run/Stop”按鈕點亮。當(dāng)要再次捕捉該信號時，需先按“Run/Stop”按鈕，解除鎖定。那么在實際中該怎么選擇和使用呢？在實際使用中，不同觸發(fā)模式的選擇要依據(jù)被觀測信號特性和要觀測的內(nèi)容作出判斷。在對信號的特點不是很了解的時候，應(yīng)該選擇自動模式，這時不管是什么樣的信號示波器都會掃描，即使沒有波形，也會有掃描線。對差分探頭來說，共模抑制使加至 + 和 - 探頭輸入的相同信號不產(chǎn)生輸出。電流測試探頭

有源探頭有哪些分類？常見的有源探頭分為單端有源探頭和差分有源探頭，前者一般會留有一個接地插孔，通過地線可以連接被測電路。但這種結(jié)構(gòu)通常會造成環(huán)路面積較大，其環(huán)路電感會限制測量帶寬的使用，造成無法測量高帶寬的信號。差分有源探頭的好處是使用了差分放大器，可以直接測量高速信號或傳輸線上的差分信號，同時也有很好的共模抑制比，使得我們可以測量幾十G赫茲的高帶寬信號。通常情況下，您會選擇使用單端有源探頭測量單端信號（以接地為參考的電壓），使用差分有源探頭測量差分信號（正電壓與負電壓之比）。差分探頭中的信號連接之間的有效接地面比大部分單端探頭中的接地連接更理想。示波器 無源探頭絕大多數(shù)的高帶寬有源差分探頭無法支持高電壓測試。

示波器差分探頭和普通探頭區(qū)別：1.差分探頭比普通的無源探頭要貴很多。2.差分可以頻率很高，目前有達百GHz以上的。3.差分一般都是隔離的，把測量的信號端與示波器實現(xiàn)有效隔離。示波器差分探頭使用示波器差分探頭用于探測相互作為參考而不是以接地作為參考的信號，以及在有較大直流偏置或其他共模信號（例如電源線噪聲）時的弱信號。源系統(tǒng)測試中經(jīng)常要求測量三相供電中的火線與火線，或者火線與零（中）線的相對電壓差，很多用戶直接使用單端探頭測量兩點電壓，導(dǎo)致探頭燒毀的現(xiàn)象時有發(fā)生。這是因為：大多數(shù)示波器的“信號公共線”終端與保護性接地系統(tǒng)相連接，通常稱之為“接地”。

廣州德肯電子股份有限公司（Pintech品致）成立于2006年，總部位于廣州市聯(lián)東U谷黃埔科技總部港，是一家專注于電子測量測試儀器儀表研發(fā)、制造及銷售的。

差分探頭和普通探頭的優(yōu)缺點：

差分探頭的優(yōu)點（1）具有高的CMRR（2）具有更高的測量精度（3）適用于復(fù)雜信號測量（4）具有良好的抗干擾能力（5）適用于高頻電路和信號處理

差分探頭的缺點（1）較高的成本（2）較低的頻率響應(yīng)（3）不適用于低頻信號處理

普通探頭的優(yōu)點（1）較低的成本（2）較廣適用于許多不同的電路和信號處理應(yīng)用（3）適用于低頻信號測量和處理

普通探頭的缺點（1）較低的CMRR（2）較低的測量精度（3）準(zhǔn)確測量復(fù)雜信號的能力較弱（4）容易受到干擾

結(jié)論總之，差分探頭和普通探頭在電氣檢測中都具有其獨特的優(yōu)缺點和應(yīng)用場景。在實際應(yīng)用中，如何選擇相應(yīng)的探頭取決于所需精度、測量頻率和探頭的成本，以及待測試設(shè)備本身的應(yīng)用特點。因此，只有根據(jù)具體應(yīng)用的要求和需要，才能正確地選擇比較合適的探頭類型，以達到比較好的測量效果。 普通的單端探頭也可以測量差分信號，但得到的信號與實際信號相差很大，有可能出現(xiàn)“地彈”現(xiàn)象。

為什么需要差分探頭？首先，電路中沒有任何點參考接地。輸入線路有火線和零線。零線在其源頭處參考接地，在到達用電設(shè)備之前可能有幾伏離地電壓。電源轉(zhuǎn)換器的電壓基本上是浮動電壓。嘗試借助采用普通無源探頭的示波器測量電壓時，需要在某處連接示波器地線。將地線連接到該電路的任何一點都可能導(dǎo)致問題。要注意的第二點是，上部MOSFET電壓位于下部MOSFET的漏極電壓上。該電壓在零伏和直流總線電壓之間切換。這對接地的示波器測量提出了另一個問題。這個測量問題的解決方案是使用差分探頭。新一代低成本單端有源探頭，帶 AutoProbe 接口，與 Keysight 的 InfiniiVision 和 Infiniium 系列示波器兼容。江蘇差分探頭有哪些品牌

高壓差分探頭就能夠得到電路中各點之間完整的電壓圖形。電流測試探頭

差分探頭問題：為什么上管Vgs的測試結(jié)果誤差非常的大？常見的高壓差分探頭共模耐壓與衰減比有關(guān)，影響測試結(jié)果。市面上高壓差分探頭存在的問題是共模耐壓會隨著衰減比的變化而變化。差分探頭問題：為什么上管Vgs的測試結(jié)果誤差非常的大？常見的高壓差分探頭共模耐壓與衰減比有關(guān)，影響測試結(jié)果。市面上高壓差分探頭存在的問題是共模耐壓會隨著衰減比的變化而變化。差分探頭問題：為什么上管Vgs的測試結(jié)果誤差非常的大？常見的高壓差分探頭共模耐壓與衰減比有關(guān)，影響測試結(jié)果。市面上高壓差分探頭存在的問題是共模耐壓會隨著衰減比的變化而變化。電流測試探頭